质谱中飞行时间分析器

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质谱中飞行时间分析器相关的厂商

  • 那诺中国主要提供基于飞行时间的质谱仪,涉及用于材料表面分析应用的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、用于气体分析的电子电离飞行时间质谱仪(EI-TOF-MS)、用于环境监测的质子转移反应飞行时间质谱仪(PTR-TOF-MS)等。
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  • 北京艾飞拓科技有限公司作为德国 IONTOF 公司的中国总代理,成立于2012年。主要负责飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS,新一代型号ToFSIMS M6)、低能离子散射能谱仪(LEIS,型号Qtac100)和高分辨磁力显微镜(hr-MFM,型号VLS-80)这三类产品,在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生,“以物理学、材料学、国际贸易等专业背景打造核心团队,秉承引进国际质谱领域先进技术的理念,以提高我国材料分析技术为核心目标,密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作,共同攻克技术难题。”IONTOF是由Alfred Benninghoven教授,Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立,创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人,他们团队始终带领国际二次离子术的发展,从上世纪80年代初开始,Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势,TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。TOF.SIMS 5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年,世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。获取更多资讯,请访问艾飞拓官网:www.iontof.com.cn,或扫描下方二维码关注“IONTOF-CHINA”微信公众号。
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  • 400-860-5168转1085
    美国力可公司(LECO)始创于1936年,今天已经发展成为拥有约2,300多名员工,在全球设有25家子公司及代表处的规模 以生产用于冶金、机械、能源、化工、农业、食品及科研开发领域的各种分析测试仪器和设备为主营方向。公司总部位于美国圣约瑟市(芝加哥以东60公里的密执安湖东岸)。力可公司自从1936年向市场推出世界上第一台商品化的碳硫分析仪,开创了工业分析的快速分析技术开始,就一直保持着在该领域的领导者地位。至今,经六十多年在各种分析技术和设备方面的不断投入、发展和提高,目前,力可公司的主要产品为用于金属材料、煤炭工业、石油化工、有机材料及食品工业等行业中元素分析的红外碳硫分析仪、氧氮氢气体元素分析仪、GDS系列辉光光谱仪、ICP系列等离子光谱仪、热值仪、热重仪以及金属材料中的金相组织分析仪、各种硬度检测设备和全套制样设备(包括试样精密切割、镶嵌和抛磨设备) 在九十年代力可公司的产品中又新添了激光粒度分析仪系列、MS质谱联用仪和ICP-MS等离子体质谱联测仪等新成员。在中国地区,LECO公司机构有力可公司上海分公司(美资力可仪器(上海)有限公司),力可仪器香港有限公司,力可公司北京办事处、力可仪器北京服务中心、力可仪器上海服务中心,辽宁、安徽、湖北、四川、长沙等等售后点,负责力可仪器售前和售后服务工作 还分别在上海宝钢集团技术中心、北京航空航天材料研究所设有力可仪器分析技术应用中心,负责提供国内用户分析技术咨询和交流 同时在北京和上海分别设有力可仪器国内备件供应仓库,方便国内用户快速购买。力可公司不仅很早就通过ISO国际标准认证,同时公司在专业技术上始终保持着领导地位,成为全球分析仪器知名厂商。力可公司十分重视中国市场的发展和潜力,为广大用户提供优质、快捷的信息及服务,确保力可仪器在国内用户手中发挥应有的作用。售后报修:编辑 仪器序列号(SN)、型号、故障简单描述、单位名称、联系人及联系电话和地址 发邮件至:Fiona_Zheng@Leco.com询价:编辑 货号、货物名称、需求数量、单位名称、联系人及联系方式和收货地址发邮件至:Maggie_pan@Leco.com物流查询:编辑 报价单号、单位名称、需查询的货号 发邮件至:xiong_sun@Leco.com注:如需查询货号和名称可致电我们或者当地销售经理  力可(LECO)所生产的分析仪器主要分为五大类:  质谱:液相色谱高分辨飞行时间质谱联用仪(citius LC-HRT) 气相色谱高分辨飞行时间质谱联用仪(Pegasus GC-HRT) 全二维气相色谱飞行时间质谱联用仪(GCxGC-TOFMS) 高通量气相色谱飞行时间质谱联用仪(High Throughput GC-TOFMS) 桌面式气相色谱飞行时间质谱联用仪(TruTOF GC-TOFMS) 全二维气相色谱(GCxGC-FID/ECD) 金属及无机物中的元素分析: 力可 碳硫分析仪系列: CS600, CS744, CS844 力可 氧氮氢分析仪系列: TCH600,ON736, ONH836,硅中氧分析仪O836Si 力可 氢分析仪系列: RH600, RHEN602 (铝/铝合金中氢分析仪)   力可 辉光放电光谱仪系列: GDS850A(总量及深度剖面分析), SA2000, GDS900 力可 表面碳水/有机碳/无机碳分析仪: RC612煤炭及有机物分析仪器 力可 碳氢氮/硫分析仪: CHN828,FP828杜马斯定氮仪 力可 硫/碳分析仪: SC832系列, 力可 热值仪: AC600 力可 热重仪(工业分析仪): TGA801系列,TGA701 金相制备及分析设备   力可全自动显微硬度计 AMH55, AMH43 力可金相显微镜: 正置式, 倒置式, 体视显微镜 力可显微硬度计系列: 维氏, 努式 洛氏硬度计 宏观维氏硬度计 力可切割机: VC50, CM系列, MSX系列 力可 镶嵌机: PR系列 力可 预磨/抛光机: VP系列, SS1000, 2000系列 力可图像分析仪: IA32
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质谱中飞行时间分析器相关的仪器

  • 谱育科技自主研发的TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪,将高灵敏度化学电离源和高分辨飞行时间质量分析器进行结合,具有灵敏度高、分析速度快、分辨率高、测量组分种类多等突出优点;仪器具有创新的辉光放电源、高压离子漏斗和静电透镜传输技术,保证样品的电离效率和离子的传输效率,适用于走航监测、食品科学、材料分析、爆炸物和药物检测等方面的应用。产品概述性能优势分析速度快微秒级的扫描速度,可捕捉目标物质的瞬时变化,为科学研究、应急监测、生产过程的高通量监测提供有效手段。分辨率高可实现复杂混合物样品中分子量相近物质的分析识别,解决传统低分辨直接进样质谱分析定性难的问题,将“看不见”变成“看得见”,追溯物质本源。多试剂离子可选配合试剂离子快速切换系统,根据目标物质的化学特性,可选择H3O+、O2+、NO+等多种不同电离能的试剂离子进行靶向电离,适测物质涵盖醛、酮、有机硫、有机胺、卤代烃、苯系物、长短链烃类等,是优选的快速检测技术。 应用领域TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪适用于走航监测和园区VOCs在线监测,可实现VOCs精准溯源及扩散预警。可对半导体生产过程中的AMC、食品生产的风味物质进行实时监控;石油化工生产过程中移动测量、定点在线监测;材料中有害成分的快速鉴定分析;人呼出气体的宽动态范围内的追踪分析。
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  • LCMS-9030是2018年岛津公司最新推出的四极杆-飞行时间质谱仪,运用了多项最新专利技术,是在同类型、同档次仪器中各项技术指标优秀、仪器整体性能出色的产品。岛津LCMS-9030具有以下几点独特优势:1) 优异的灵敏度,分辨率和质量准确度从离子源到四极杆质量分析器部分主要继承了LCMS-8060的技术,依赖于高效率的离子光学系统和优异的离子聚焦能力,离子被高效地导入TOF单元。TOF部分采用了岛津独立研发的最新技术,包括UFaccumulation, UFgrating, iRefTOF, 高精度温度控制系统和漏斗型MCP检测器,以实现极为出色的质量准确度、高灵敏度和高分辨率。其中, UFgrating (专利号5772967), iRefTOF (专利号5629928 和5924387), 高精度温度控制系统 (专利申请中) 是岛津的专利技术。 UFaccumulation离子累积技术通过在碰撞池中累积离子,并且使碰撞室的离子释放与正交加速器的离子发射同步来提高离子利用效率。即便在正交加速器的高提取场下,UFgrating技术保证了电极不会变形的同时获得高灵敏度和高质量准确度。正交加速器的离子发射部分使用了高机械强度的栅格状电极,这是使用岛津专有的精密加工技术制造的。iRefTOF技术指TOF部分采用了一个理想的反射器设计,由于其专有的电极形状,它提供了一个理想的电位分布,其能量收敛程度高于以往的TOF反射器,同时最大限度地减少离子飞行过程中的扩散和离子反射过程中的轨迹散射。高精度温度控制系统通过在TOF单元内置加热器,可以抑制由于外部因素(如实验室温度变化)而导致的质量变化。另外,温度传感器的位置经过优化,并且执行高度可靠的温度控制,以保证长期稳定的质量准确性。在传统的MCP基础上,将通道改进为漏斗形。漏斗状MCP可以提高开口率,从而可以无损检测到达检测器的离子,提高灵敏度。2) 传承LCMS-8060的优点从离子源到四极杆质量分析器部分主要继承最高灵敏度三重四极杆液质联用仪LCMS-8060的技术。通过脱溶剂管(DL) 、UF-Qarray、UF-Lens和 UFsweeper III 碰撞池等将离子高效导入TOF单元。此外,该仪器还继承了简便易于维护的特点。标配ESI离子源,可选配APCI或DUIS离子源。与LCMS-8060一样,ESI和DUIS离子源均采用辅助加热设计。与LCMS-8060一样,每种类型的离子源都采用无线缆、无管路设计,可以轻松地在不同离子源之间进行快速切换。3) CDS校正液传输系统(Calibration Delivery System )通过CDS-9030,质量校正标准品可通过独立于主探针之外的副探针进样,副探针内置于可选配的副离子源接口中。副离子源接口可以兼容各种离子源(ESI/DUIS/APCI),并实现一键安装。通过准备两个探针,一个用于分析,另一个用于质量校正,分析和质量校正都可以进行,无需担心管路污染。4) 市场上唯一的全中文LCMS-Q-TOF工作站 LCMS-9030的系统控制和数据处理工作站为LabSolutions LCMS,与岛津其他LCMS使用的质谱工作站相同,而且从参数设置到帮助菜单全部为中文界面。这意味着可以使用与以往相同的操作风格进行准确的质量分析。提供五种分析模式,MS,MS/MS,MRM,MS/MS(DDA*)和SIM。在MS/MS,MRM和MS/MS(DDA)模式下,四极杆质量分离器的质量范围可由用户自由设置,分析条件也可定制。可以满足客户不同的分析需求,包括从常规定性和定量分析到客户自定义的各种分析。作为从事分析检测工作的科研人员,直接关心的是仪器的灵敏度、分辨率、扫描速度、质量范围等技术指标,但稳定性、可靠性以及仪器维护的便利性等同样也要作为选型的重要条件。1. 高灵敏度,高分辨率,高质量准确度。从离子源到四极杆质量分析器部分主要继承了LCMS-8060的技术,依赖于高效率的离子光学系统和优异的离子聚焦能力,离子被高效地导入TOF单元。TOF部分采用了岛津独立研发的最新技术,包括UFaccumulation, UFgrating, iRefTOF, 高精度温度控制系统和漏斗型MCP检测器,以实现极为出色的质量准确度、高灵敏度和高分辨率。其中, UFgrating (专利), iRefTOF (专利), 高精度温度控制系统 (专利) 是岛津的专利技术。 Ufaccumulation离子累积技术通过在碰撞池中累积离子,并且使碰撞室的离子释放与正交加速器的离子发射同步来提高离子利用效率。即便在正交加速器的高提取场下,UFgrating技术保证了电极不会变形的同时获得高灵敏度和高质量准确度。2. 真空系统是质谱最重要的部分,直接影响灵敏度指标和仪器的可靠性,岛津公司采用大抽率旋转泵,配合双涡轮分子泵系统,真空效率高、抽速快,提高灵敏度,提高了定性定量分析的可靠性。3. 对应快速分析的全新设计:LCMS-9030具有快速切换正负极性技术,在不损失灵敏度的情况下, 1 s即可完成正负离子极性切换;最大采样速度100Hz,一秒钟即可完成100张谱图采集,可以得到更为丰富的离子碎片信息。4. 维护方便:作为高端分析仪器,其维护的简便与否是必须考虑的重要因素。LCMS-9030无需工具即可更换 ESI、APCI或DUIS离子源,无需工具即可更换ESI离子源毛细管,硬件维护非常容易。更重要的是无需卸除真空即可更换 DL管路(除溶剂管)。5. 质量分析器是质谱仪的心脏。TOF部分采用了iRefTOF技术,由于其专有的电极形状,它提供了一个理想的电位分布,其能量收敛程度高于以往的TOF反射器,同时最大限度地减少离子飞行过程中的扩散和离子反射过程中的轨迹散射。高精度温度控制系统通过在TOF单元内置加热器,可以抑制由于外部因素(如实验室温度变化)而导致的质量变化。另外,温度传感器的位置经过优化,并且执行高度可靠的温度控制,以保证长期稳定的质量准确性。6. 在软件设计方面,采用LabSolutions LCMS质谱工作站软件,是目前市场上唯一的全中文高分辨质谱软件,极大的方便了仪器操作和数据后处理。实现了流畅的高分辨质谱数据的采集和解析,追求操作性,配备可最大限度地发挥装置性能的方法最优化等功能。与其他公司的质谱软件相比,可以更加灵活地定制报告格式。各种典型的报告格式已存为模板,也可以根据自己的需求编辑这些模板,并可以直接输出PDF 格式的报告。数据管理更加简便。7. 技术服务:岛津公司十分重视药检、医药研究、高校、研究院所以及其它应用领域等的应用,并在这些领域得到了广大用户的好评。设在北京、上海、广州、成都、沈阳和西安的分析中心不但可以承担培训用户的任务,同时也对用户作大量的应用支持的工作,并和许多学术机构联合进行新分析方法和技术的开发研究。 拥有近百名资深质谱工程师的维修站和保税库为岛津用户提供强有力的技术保障,且维修费用和零部件的费用,各公司相比,也最为合理。综合仪器性能、价格、技术先进性和售后服务保障体系等诸多因素,岛津公司的四极杆-飞行时间质谱联用仪LCMS-9030在目前的市场上主流Q-TOF质谱仪中,各方面均较为突出,是性价比最优的一款仪器。
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  • microTyper MS高通量微生物快速鉴定系统是中国首款完全自主知识产权的商品化基质辅助激光解吸离子源一飞行时间质谱仪(MALDI-TOF MS),由江苏天瑞仪器股份有限公司与其控股子公司厦门质谱共同研发,江苏天瑞仪器股份有限公司福建分公司生产销售,该仪器的研制打破了国外质谱公司对于该产品技术的垄断,并于2015年获得中国分析测试协会BCEIA金奖。获2015年中国分析测试协会BCEIA金奖工作原理:利用基质辅助激光解吸电离方法得到待测样品分子离子,通过测得待测微生物的肤质量指纹圈谱(PMF),并将其与数据库中的徽生物标准指纹图谱进行匹配检索,从而完成鉴定(可鉴定至种或属)。该仪器适用于绝大多致的徽生物鉴定,可同时鉴定细菌及真菌,相对于传统方法,具有更加快速准确、高通量检测、操作简单、成本低的优势。产品特点及优势:硬件特点:1)采用无网直线形飞行管,并配置大面积高灵敏微通道板(MCP)离子探测器;2)配置超高速ADC采集卡,高采样频率可达3GHzsps3)使用长寿命氮气紫外激光器,激光发射频率在1~60 Hz内可调;4)配备96孔的样品靶板,含6个质控点,可多次重复清洗使用;5)配置转速320 L/s的分子泵,缩短进样等待时间;6)采用三重灭菌尾气处理装置,大限度保证实验安全和保护环境。软件特点:1)microTyper MS软件集合仪器控制、数据采集、谱图实时快速鉴定功能于一体,可进行谱图离线处理、批检索、聚类分析以及徽生物数据库自建等;2)多样品把点全自动采集与鉴定功能:利用人工智能模糊逻辑算法自动采集谱图和评估谱图质量,实现无人操作下自动获取高质量的肽指纹谱图;3)质轴自动校准功能:自动校准使仪器长朋保持佳工作状态,提高鉴定结果的准确度,增强用户操作的便捷性;4)软件自诊断和保护功能:软件实时更新仪器运行状态,便于用户掌握仪器状况,发现问题及时处理;5)远程监控和技术服务功能:配置性能的触控平板电脑和白动采集软件系统认(APS),实现自动采谱、鉴定、生成报告的远程操控。性能参数:1)质量范围:16000u2)质量准确性:≤500ppm3)灵敏度:信噪比≥ 1004)质量分辨率:R≥5005)重复性:≤ 0.06%6)质量稳定性:≤ 800ppm微生物鉴定方法:微生物鉴定流程微生物样品前处理方法:微生物样品前处理流程应用领域:1)临床微生物的高通量快速鉴定;2)疾控中心微生物传染病原的鉴定与监测;3)食品生产中的微生物检测;4)检验检疫;5)工业、农业环琉中的细曲检测;6)微生物研究及应用开发。
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质谱中飞行时间分析器相关的资讯

  • 重大仪器专项“高精度及高分辨飞行时间质量分析器”课题通过验收
    近日,我所(中科院大连化物所)快速分离与检测研究组(102组)李海洋研究团队主持的重大仪器专项的关键子任务顺利通过专家组的现场测试验收。此次测试专家组的成员包括中科科仪的于科岐、国家航天员训练中心刘学博、中国计量科学研究院赵墨田、天津地质矿产研究所李怀坤及清华大学李展平教授。现场测试结果表明,该项目中研制的飞行时间质谱的分辨率指标大于270,000(182W),远远超过项目指标2万的要求,达到了该研究领域的国际最前沿水平。     该项目研究掌握的核心技术是多次反射质谱技术,其原理是:在有限的空间内,仅利用静电场将离子的飞行路径折叠反射来延长飞行时间,保证离子束长距离(可达上千米)的飞行中不发散的同时实现质量峰的压缩聚焦,从而极大提高分辨率。质谱的分辨率随反射圈数增大而增大,而传输效率基本不损失。对于激光溅射电离产生的182W+,经过176圈反射后,飞行距离达到了700m,飞行时间18ms时,质量分辨率大于270,000,每秒可得到50张谱图。离子传输过程中不存在任何栅网,离子多圈飞行后传输效率达到25%。  该仪器不仅具有高质量分辨率带来的准确定性能力,同比于其他类型质谱,且在宽的质量范围内具有超高分辨。  相关新闻:大连化物所李海洋研究团队2000万元转让检测新型爆炸物专利
  • 飞行时间二次离子质谱将在材料表面分析领域大有所为
    TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)采用一次离子轰击固体材料表面,产生二次离子,并根据二次离子的质荷比探测材料的成分和结构。TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术,可以精确确定样品表面元素的构成:通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构,配合样品表面的扫描和剥离,可以得到样品表面甚至三维的成分图。相对于XPS、AES等表面分析方法,TOF-SIMS可以分析包括氢在内的所有元素,可以分析包括有机大分子在内的化合物,具有更高的分辨率。   2013年,德国ION-TOF公司在中国成功安装了4台TOF-SIMS,据介绍该仪器目前在中国的保有量也不过10台左右。在2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议召开期间,德国ION-TOF公司中国区总代理北京艾飞拓科技有限公司总经理高聚宁接受了仪器信息网编辑的采访,介绍了德国ION TOF公司的基本情况,以及TOF-SIMS技术目前的发展应用情况。 北京艾飞拓科技有限公司总经理高聚宁   Instrument:首先,请您介绍一下ION TOF公司,及其TOF-SIMS产品的技术发展历史?   高聚宁 :国际上对TOF-SIMS分析研究已经有近35年历史,代表性单位是德国ION-TOF公司所在的德国明斯特大学。可以说,ION-TOF的历史就是TOF-SIMS的发展史。下面的照片是1977年在德国明斯特召开的第一届国际SIMS会议的参加者。ION-TOF公司创建于1989年,是专门研究和生产飞行时间二次离子质谱仪器(TOF-SIMS)的高科技公司。其创始人贝宁豪文(Beninghoven)教授是静态二次离子质谱的奠基人,创建并长期担任国际二次离子质谱学会议主席。 1977年在德国明斯特召开的第一届国际SIMS会议的参加者 ION-TOF创始人贝宁豪文教授   ION-TOF公司创立前,在Beninghoven教授指导下,明斯特大学物理系已经开发了第一代到第三代的二次离子质谱仪器,公司创建后的产品是从第三代TOF-SIMS开始销售的。2003年10月,ION-TOF推出了第五代TOF.SIMS 5仪器。2005年,ION-TOF推出了具有独立专利的Bi源,可以完全取代原来的Ga源和金源。该分析源对无机物和有机大分子等的分析都可以胜任,并且在不损失系统的空间分辨率的前提下大大提高其质量分辨率。 第一代SIMS(1982年)  2010年,ION-TOF开发了第二代Bi源,使得空间分辨率和质量分辨率又上了一个新台阶。第二代Bi源还可以提供Mn离子,对国际最新的G-SIMS(Gentle-SIMS)分析提供支持。   2012年,ION-TOF公司对分析器新研制了EDR功能,对系统结果矫正和定量分析很有帮助。还推出了可以用于有机大分子和生物分析的Gas Cluster Source。新的研究成果将TOF-SIMS的分析从无机物拓展到有机大分子和生物分析领域,可以广泛应用在半导体,物理,化学,材料,生命科学,医药等领域。   Instrument:请您谈谈TOF-SIMS技术未来的发展趋势?   高聚宁:TOF-SIMS未来的发展趋势,我认为主要在以下三个方面:   一是应用领域的拓展,尤其是在生物和有机大分子应用方面的拓展。这包括多方面的内容,如对有机分析源的开发完善,有机分析源已经从Au,C60,发展到现在的Bi源和气体团簇离子源(GCIB)。对于生物和有机分子的分子离子峰获得已经取得突破性进展。而在另一方面,有机材料的结果非常复杂,需要有经验的专门分析人员。我们正在尝试一种简化谱图的方法,G-SIMS提供了一种思路,但仍有待完善。   其次是定量分析。由于Matrix效应,某种元素的离子产额是与当时所处的化学环境相关的。所以TOF-SIMS的定量分析比较复杂,需要对标准样品同时进行分析对比。另外,成份含量可以相差到十几个量级。如何保证在如此大的跨度下不损失,不丢失测试信号也是一个难点。ION-TOF已经有很好的尝试,如与XPS结合,EDR功能的开发等。   最后是与其他表面分析手段的结合,如形貌(AFM),SEM,XPS,LEIS(Low-Energy Ion Spectroscopy),激光共聚焦显微镜等。这些分析手段可以帮助用户获得全方位的表面和界面信息,并通过结果对比,解析出样品表面和界面的原始状态。但这些手段实现原位分析还需要一个过程。ION-TOF正在着手这方面的研究,并已经取得了部分成果。   Instrument:您认为TOF-SIMS的市场发展前景怎么样?   高聚宁:目前,国际上一致公认TOF-SIMS将是XPS之后的可以广泛应用的分析平台,所以对其前景非常看好。现在,国际上已经安装了约280套TOF-SIMS,每年约20-25台的增长量。相比之下,中国的TOF-SIMS研究刚刚起步,目前仅有约10套系统,这还包括ION-TOF今年安装的4套系统!按照我们的分析,中国TOF-SIMS的保有量和年销量都应该达到世界的1/4。这还需要很多的培训和推广工作。   Instrument:您如何看待TOF-SIMS在中国高校科研院所及企业单位的市场需求前景?   高聚宁:目前,世界上TOF-SIMS的用户群半导体工厂和科研院所用户各占半壁江山。如韩国Samsung集团就安装了超过10台的TOF-SIMS。然而,随着TOF-SIMS在生物分析领域的拓展,科研院所和高校的需求将会增加。对中国的用户,我们在生物领域的研究已经达到世界先进水平,尤其是中医中药的研究也非常需要TOF-SIMS这样的分析手段,所以我个人非常看好TOF-SIMS在中国科研单位的前景。而对于工厂企业的需求,一些半导体工厂已经在中国设立了研究基地。而配合生产线进行失效分析也会有大量的需求。其他分析领域,如钢材,汽车等领域,国外已经广泛应用TOF-SIMS,而国内仍然需要一定时间追赶国际步伐。
  • 电感耦合等离子体飞行时间质谱仪器的发展与应用
    ICP-MS作为痕量元素分析仪器,已经在核材料、食品、环境等多个领域得到应用。近10年来,I CP-MS的最新应用大多来源于ICP-TOFMS这一分支中,ICP-TOFMS将电感耦合等离子体离子源的高温电离特性与飞行时间质量分析器的全谱检测的特性结合起来,使得其具有离子电离效率高、全谱同时检测和分析速度快的优点。目前ICP-TOFMS的主要应用领域有免疫方法分析疾病标志物、微量复杂样品的元素组成分析、地质样品或生物组织的质谱元素成像、单颗粒和单细胞分析等。本文主要对ICP-TOFMS仪器的原理、发展以及主要应用进行综述。 电感耦合等离子体飞行时间质谱仪器的发展与应用_王德华.pdf

质谱中飞行时间分析器相关的方案

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质谱中飞行时间分析器相关的论坛

  • 飞行时间分析器

    主要由一个长度L的无场真空管(漂移管)构成。质荷比为m/z的离子从离子源被加速(加速电压为V)引出后,进入无场空间,经过一定时间t秒后到达漂移管另一端,不同质荷比的离子因速度不同,到达固定飞行时间距离所需的时间不同,其运动方程可写为:m/z=2v.t2/ L2当V、L不变的条件下,飞行时间t与质荷比的平方根成正比。测定飞行时间t即可确定m/z的值。这种依据飞行时间来测定质量的分析器叫飞行时间分析器。

  • 四极杆飞行时间质谱原理

    ?四极杆飞行时间质谱(Q-TOF MS)?结合了四极杆质量分析器和飞行时间质量分析器的优点,具有高灵敏度、高分辨率和高质量准确度的特点。其工作原理如下: 基本原理 四极杆飞行时间质谱系统通常包括以下几个部分: ?四极杆质量分析器?:用于初步筛选离子,通过施加特定频率的射频电压,使特定质量的离子通过,而其他质量的离子被排斥?1。?飞行时间质量分析器?:离子在电场中被加速后,以不同的速度飞行到检测器,根据飞行时间差异进行质量分析?

  • 实验室分析仪器--有机质谱飞行时间分析系统结构分析

    离子受到加速电压的作用离开离子源后在一个无场区域内飞行直至抵达检测器,各种质荷比的离子受到相同的加速电压作用,但由于它们的质荷比不同,在无场区域内飞行的速度不同,导致到达检测器的时间也不同。利用离子到达的时间不同达到区分不同质荷比的效果,这就是飞行时间分析系统的原理。图是经典的线性飞行时间质谱分析系统示意图。飞行时间的离子可以由脉冲产生,也可以是连续离子流。但不管如何,在进入分析器前要经过适当的调制。这是因为确定离子的质荷比值是直接依赖于离子在无场区域内的准确飞行时间,也就是说要求所冇离子应同步进入加速区。利用脉冲给予离子加速,一次脉冲,其宽度为ns至10μs可调。随时间的推移,不同质荷比离子相继到达收集器。仪器在小于100μs内输出一张谱图,重复频率是10?100kHz。[img=CL]`WJ@@20C$~LQ$HQEU]1G.png,448,180]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929408286.png[/img]分辨率是整个仪器综合性能的反映。所以在讨论分辨改善的同时,除了 TOF本身外还涉及离子源的技术改进。从理论上讲,要求相同质荷比的离子具有相同的飞行时间,而不同质荷比的离子具有足够的时间差。但实际上有相同质荷比的离子达到收集器上的时间有微小的差异,从而导致谱线加宽和分辨率的下降。其原因在于下述三种情况:第一,相同质荷比离子在加速前在源中处于不同的位置,因此获得不同的加速能量;第二,由于热运动使离子有初始能量的分布,表现在初始速度上的差异;第三,即使它们的位置相同,但在脉冲加速前它们的运动方向上有差异,极端的情况是运动方向背向于栅极的那些离子需要有一定的时间进行调头或称回转,然后才得到相同的加速能量进入分析器。其结果,到达收集器的时间发生了滞后。[b]一、分辨率的改善1、双栅极结构 [/b]单栅极的结构使离子被加速到最大能量所需要的时间为飞行时间的十分之几,而由于脉冲控制栅极和脉冲加速栅极构成的双栅极的时间只是飞行时间的百分之几,这样,就初始能量的差异对分辨率影响而言,后者是减小了。[b]2、延迟引出技术(Delay Extraction, DE)[/b] 这一技术是AB Sciex公司的专利, 据称可以提高分辨率1?3倍。它的原理是让离子产生后在源内延迟片刻,然后给予脉冲引出到飞行区。此时,靶极(指离子产生处)与栅极是相同的电位而处于无场状态初始速度稍大的离子离耙极远,离栅极近;初始速度小辟则相反。一旦延迟结束,离栅极近的离子受到栅极脉冲加速的能量要稍低于离栅极远的离子,这样,因为初始速度不 同的相同质荷比离子得到了补偿。DE技术不仅改善了初始能量的差异,也有助于减小 回转时间的影响,分辨率的提高也必然改善精确质量测定的准确度。[b]3、脉冲场聚焦[/b] 这是减小回转时间的一种解决方法。[b]4、反射式TOF[/b] 经第一级TOF飞行,离子进入称为反射器的离子镜,离子被反射以后在第二级收集器上被检测。如果单用第一级检测器,这就是线性TOF,而经反射以后,对于空间位置和初始速度上的色散都能获得补偿。如此减小相同质荷比的离子在动能上的差异而达到飞行时间上的一致性,由此提高了分辨。反射式TOF结构很紧凑,反射阶段的飞行距离要比线性阶段的飞行时间来得短,但是分辨率远远高于线性TOF。这是因为反射器是一个均匀的电场,对于相同质荷比的离子,若初始能量大的则进人反射器区域的路径要长,飞行时间要多一些;若初始能量小的则进入反射器的路径要短,飞行时间要少一些。本来在线性TOF阶段,初始能量大的飞行时间要小于初始能量小的,现在经过反射器阶段后,前者和后者都在时间上得到纠正,所以,使用反射TOF能够使初始能量有差异的相同质荷比离子几乎同时到达第二个检测器。实际上,位置上的色散也是反映在获得加速能童上的差异并导致最终在飞行时间上差异,因而反射式TOF也能将其补偿。下图是使用 AB Sciex 公司的 Super Voyager—DE STR MALD—TOF 仪上获得细胞色素C(cytochrome C)的质谱图,其分辨率达到28000 (FWHM)。增加反射式 TOF的飞行长度可以提高分辨率,但对线性TOF来说行不通。这是因为初始能量的色散在增加飞行长度后差异会变得更大,但在反射式TOF中是在时间上得到了补偿,如同磁质谱仪的双聚焦仪器在空间上进行的补偿那样。当离子初始能量的差异得到显著减小后,仪器的分辨率将由电器稳定性和检测器的 性能所决定。要说明的是,在讨论MALDI源 的时候,离不开TOFMS的结合,但是在这里讨 论TOFMS的时候,不必将离子源限定在MAL-DI, 这意味着TOFMS可以配用电喷雾的离子源,即ESI —TOFMS进行分析。[img=image.png,302,300]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929914874.png[/img]TOF分析器具有大的质量测定范围(通常可达50万u,个别的甚至更高)、高的灵敏度 (肽或蛋白质测定的Fmol量级)、高分辨率的精确质量测定[精度(5~10) X10[sup]-[/sup][sup]6[/sup]],再加上仪器结构简单和操作方便,因而具有很大的应用潜力(提高外标法的精确质量测定将有更大的竞争能力)。[b]二、源后分解(PSD)[/b]如同磁质谱的无场漂移区产生亚稳离子那样,当离开离子源的离子在很长的距离中 飞行,有些离子在飞行时间内发生碎裂反应。碎裂后的子离子基本上按前体母离子的速 度飞行,因此到达检测器的时间是与其母离子相同的。对于TOF仪器测出这种亚稳峰 的原理作如下说明:当离子进PSD (post -source decay)反射器,受到静电镜的推斥而转向第二个检测器。正常的母离子(m1)具有速度v1的全加速能量,而亚稳峰具有速度v1,但具有全加速的m2/m1能量,因此推斥它只需要低于全加速的能量。显然,正常的母离子m1和正常的子离子(m2)能够深入静电镜,而亚稳峰m*则不会深入,这意味着亚稳离子先到达第二检测器,随后才是正常的母离子 (m1)。静电镜的正常设置是聚焦正常母离子(m1),对亚稳峰m*来说处于去焦状态。 当降低反射器电压至m2/m1使亚稳离子此时能够到达静电镜的深处,即达到如同正常母离子或者说所有全加速的离子的聚焦位置,这样,就能把亚稳峰聚焦到在第二个检测器上,而所有正常离子则不再发生反射而留在第一检测器内。可以设想正常母离子会在飞行区内发生许多碎裂反应,由此形成不同能量的亚稳离子,设置不同的反射镜电压,就可以获得母离子m1的所有亚稳跃迁。这里需要说明的是,单纯依靠m2/m1值的调整测出的亚稳离子还有其不确定性。因为一个化合物可能有各种不同的母离子的亚稳跃迁,从理论 讲就可能存在m2/m1值相同又分属于不同的母一子离子对,所以PSD分析还应包括一个定时的离子选择器。它的位置在飞行的路径上,它允许让某一个前体离子通过,不允许不同时间到达的其他离子通过,这就确保了仅有这一前体离子产生的亚稳峰被检测

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