芯片温度测试高低温测试机

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芯片温度测试高低温测试机相关的厂商

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    深圳市易捷测试技术有限公司,(品牌GBITEST),是一家致力于提供半导体测试系统集成的高科技服务公司。主要业务包括提供各式探针台系统、自主研发半导体测试软件、探针台升级改造服务,半导体可靠性测试系统、异构芯片测试系统、单模块高低温FT测试系统等,可满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。十几年来,公司一直专注于半导体测试领域,积累了丰富的实操经验,赢得了行业口碑,专业的系统集成方案广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域。公司现已与多家国内外知名半导体测试设备厂商长期合作,携手Keysight、Maury Microwave、日本TSK、MPI、日本HANWA、STAr芯片可靠性测试设备、Elithech光学传感器测量设备等优秀厂商,为用户提供半导体测试系统解决方案。
  • 成都中冷低温科技有限公司简称中冷低温是一家专注于超低温解决方案的创新型高科技公司,国家高新技术企业、欧盟CE认证企业、通过ISO9001国际质量管理体系认证。公司主要生产高低温冲击气流仪、高低温卡盘(ThermoChuck)、超低温制冷机、高低温循环箱、高低温冲击箱、环境模拟仓,为5G通讯、光模块、集成电路、芯片、航空航天、天文探测、电池包、氢能源等领域的可靠性测试提供整套温度环境解决方案,在天津、上海、深圳、武汉、珠海、重庆设有办事机构。
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  • 浙江扬清芯片技术有限公司(YoungChip)是一家专注于微流控芯片实验室整体解决方案的企业,技术力量雄厚,生产设备先进,检测手段齐全,产品质量过硬。公司可提供整套微流控芯片生产线, 包括CNC 数控微加工仪器、精密激光加工系统、光刻加工系统、塑料芯片注塑系统和微流控芯片热压键合系统, 可以加工生产所有材质的芯片, 如玻璃、石英、硅、PDMS 和PMMA 等。主营产品包括: ① 微流控芯片的设计、开发与加工服务; ②微流控芯片实验室组建及芯片技术培训; ③ 微流控芯片的耗材、配件及相关设备; ④ 模块化的芯片温度控制系统、流体操控系统和检测系统; ⑤ 基于微流控技术平台的POCT 快速检测系统。产品涵盖医疗生化诊断、环境监测、食品安全分析检测、化学合成等几大应用领域。目前,扬清芯片(YoungChip)已和中科院大连化学物理研究所、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、生物芯片北京国家工程研究中心(博奥生物有限公司)、中国石油勘探开发研究院、浙江省检验检疫局、广东产品质量监督检验研究院、深圳出入境检验检疫局、广州迪澳生物科技有限公司等多家单位建立了长期紧密的项目合作。
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芯片温度测试高低温测试机相关的仪器

  • 价格货期电议inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本!在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于传统高低温冲击试验箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件.车规级芯片高低温测试案例: 上海伯东客户某半导体芯片设计公司自主研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过伯东推荐使用 inTEST 高低温测试机 ATS-545, 测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!车规级芯片高低温测试方法1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).2. 设置需要测试的温度范围.3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ATS-545 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.在芯片测试中, 可为测试计划确定相应的要求, 如温度循环实验, 不同等级的温变范围及温差循环数等. inTEST 热流仪可根据预先设定的温度范围, 实现快速的温度冲击, 如温度范围 -40℃~125℃, 可分别设置低温 -40℃, 常温 25℃ 及高温 125℃, 热流仪将按照先后顺序自动进行相应测试. 针对不同的测试应用, inTEST 可通过每秒快速升温或降温 18°C, 为车载模块或电路板中的某一单个器件提供精确且快速的环境温度.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解车规级芯片高低温测试, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究
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  • 产品典型应用u 化工、制药、生物领域双层反应釜的温度控制u 蒸馏结晶净化系统控温u 高压反应釜温度控制u 半导体设备冷却u 搅拌罐温度控制u 结晶系统控温全密闭系统:采用全密闭式系统设计,整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔,导热油不会直接与空气接触,延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性,膨胀油箱始终保持在常温状态,高温时无油雾产生,低温不会结霜。高效换热系统:系统采用管道式加热冷却,参与循环的液体非常少,制冷采用板式换热器,,换热效率高、结构紧凑,加热采用管道式法兰加热器,整个系统的容积(板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积)。控制结果重复性:基于高级动态控制系统,每次都能实现一致的控制结果,大大提升产品生产的稳定性。产品外观:外观设计吸取国外进口产品的设计理念,采用大口径石英玻璃液位计,液位计与操作屏放在同一侧,观察方便,风格简约时尚,比列协调,专有的色彩搭配。超高温降温技术:采用超高温降温技术,可以满足在最高300℃高温直接开启压缩机制冷降温。质量保障车载芯片高低温冲击测试/车载芯片高低温温控测试设备/车载芯片温控测试设备/车规级芯片温度测试/车规级芯片高低温测试/车规电子温控测试设备/车规电子高低温测试设备/车规芯片高低温测试设备/汽车芯片高温测试/汽车芯片温度循环测试/汽车行业温控设备/新能源行业温控设备/汽车高低温一体水冷测试机/测试分选机温控设备/测试分选机控温设备/查询测试分选机高低温设备/车载充电机(OBC)性能测试台/雾化仪温度测试装置/电源模块及组件测试台/汽车冷却液循环泵(CCP)性能测试台/ECP电子元件性能试验台/安全气囊模块性能测试/新能源电池性能测试台/汽车热管理系统温度控制单元/汽车热管理系统温度控制系统/喷油器性能测试台/新型电动马达性能测试台/汽车无线电充系统性能测试台
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  • 价格货期电议inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试微控制器 MCU 芯片广泛应用于消费电子 (手机, 打印机), 计算机网络, 工业控制, 医疗设备, 汽车电子以及智慧家庭等领域. 其中, 汽车是 MCU 芯片最大的应用市场, 传统汽车单车会平均用到 70个左右, 而新能源汽车则需要用到 300多个, 应用领域包括 ADAS, 车身, 底盘及安全, 信息娱乐, 动力系统等, 几乎无处不在. 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的 MCU 芯片高低温测试难题.微控制器 MCU 芯片需要进行温度测试以工作温度为例, 车规级要求 MCU 可承受工作温度范围为 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工业级为 -40℃ 至 85℃, 而消费级只要保证 0℃ 至 70℃ 能正常工作即可过关, 因此消费级产品在常温时工作状态与工业级 / 车规产品差异不大, 但在高低温时, 则容易出现问题, 严重的可能会导致整个系统停机. 因此工业级或车规级 MCU 在出厂之前需要专门针对严苛应用环境做针对性设计与筛查, 从而达到工业设备或汽车对于元器件高可靠与低缺陷的要求.MCU 芯片高低温冲击测试案例国内某本土 MCU 厂商从成立之初就将工控和车载作为研发方向, 经上海伯东推荐, 采用美国 inTEST ECO-710E 对其 MCU 产品进行高低温冲击测试, 并且满足汽车电子协会 Automotive Electronics Council 的通用标准, 例如目前广泛采用的集成电路失效机理的应力测试条件的 AEC-Q100.车载 MCU 芯片的工况环境决定其温度等级, 根据其测试标准, 芯片的温度测试要求如下:MCU 芯片温度等级等级工作温度范围备注Level 0- 40℃~150℃最高范围Level 1- 40℃~125℃一般等级Level 2- 40℃~105℃一般等级Level 3- 40℃~85℃最低范围针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供微控制器 MCU 芯片高低温测试解决方案ECO-710E 测试的温度范围 -80 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, inTEST 高低温测试机 ECO-710E 搭配 delta design 测试机共同进行微处理器芯片测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等. inTEST 高低温测试机的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的芯片高低温测试难题.微处理器芯片高低温测试方法:1. 将待测微处理器芯片放置在玻璃罩中2. 操作员设置需要测试的温度范围3. 启动 ThermoStream ECO-710E, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达加热头进行升温, 气流通过热流罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前温度.inTEST 热流仪技术规格型号ATS-545ATS-710EECO-710EATS-535温度范围 °C-75 至 + 225-75至+225-80 至 +225-60 至 +225变温速率-55 至 +125°C 约 10 S+125 至 -55°C 约 10 S-55 至 +125°C 约 10 s+125 至 -55°C 约 10 s-55 至 +125°C, ≤ 10S125 至 -55°C, ≤ 10S-40至+ 125°C 12 s+125至-40°C 40 s空压机额外另配额外另配额外另配内部集成空压机控制方式旋钮式触摸屏触摸屏旋钮式气体流量 scfm4 至 184 至 184 至18 SCFM5温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C(根据 NIST 标准校准时)电源200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase220±10%VAC, 50/60Hz, 30A微控制器 MCU 在生活中的应用非常广泛, 各种家电设备, 消费电子, 工业品和车载电子几乎都离不开 MCU 芯片, 工业级(或车规级)MCU 与消费级 MCU 最大的区别之一是可靠性要求不同, 工业与车载应用环境对产品可靠性要求更高, 需要更高的抗静电能力, 更高的抗浪涌电压与浪涌电流能力, 更宽的工作温度范围, 以及更长的寿命. 若您需要进一步的了解 MCU 芯片高低温测试详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究!
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芯片温度测试高低温测试机相关的资讯

  • 伯东 inTEST 高低温测试机应用于车规级芯片测试
    车规级芯片的特殊要求,决定研发企业在芯片设计之初就要考虑多层面问题:芯片架构,IP选择,前端设计,后端实现,各合作伙伴的选择;从设计全周期考虑产品零失效率以及车规质量流程和体系的建立。一套芯片,从设计到测试、到前装量产的每一个环节都有着考验。获得车规级认证也需要花费很长的时间。而在车规级芯片可靠性测试方面,ThermoStream ATS系列高低温测试机有着不同于传统温箱的独特优势:变温速率快,每秒快速升温/降温15°C,实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度,针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件。伯东inTEST高低温测试机应用于车规级芯片测试案例国际某知名半导体芯片设计公司在汽车行业拥有30年的经验,为汽车电子市场的领先制造商,其产品包括动力系统、车身系统和安全驾驶系统等芯片。不同于一般的半导体或者消费级芯片,车载芯片的工作环境要更为严苛,因此在芯片流片回来后,要经受一系列的功能验证,性能和特性测试,高低温测试,老化测试,模拟长生命周期的压力测试等等,看芯片是否符合相关标准,确保其真正达到车规级。根据客户的要求,在温度上需要考虑零下 40 度到 150 度的极端情况, 同时搭配模拟和混合信号测试仪,设定不同的温度数值, 检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常.经过伯东推荐,合作客户采用美国inTEST高低温测试机ATS-545,测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 快速进行在电工作的电性能测试、失效分析、可靠性评估等。通过使用该设备,大幅提高工作效率,并能及时评估研发过程中的潜在问题。高低温测试机 inTEST ATS-545 测试过程:1. 客户根据各自的特定要求,将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 (产品放在治具中)。2. 操作员设置需要测试的温度范围。3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温,气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度。4. 在汽车电子芯片测试平台下,ATS-545快速升降温至要求的设定温度,实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数,对于产品分析、工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据。Temptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
  • 家电高低温循环测试方法高低温循环试验箱
    家电高低温循环测试方法高低温循环试验箱:1.高温环境测试:将家用电器置于高温环境中,模拟高温条件下的工作情况。可以选择使用高温试验箱或者将设备放置在一个高温房间中。确保环境温度稳定,并逐步升高温度至目标测试温度。在高温下,观察和记录设备的性能、温度变化、噪音、电流消耗等参数,并评估设备的工作稳定性和安全性。2.低温环境测试:将家用电器置于低温环境中,模拟低温条件下的工作情况。可以选择使用低温试验箱或者将设备放置在一个低温房间中。确保环境温度稳定,并逐步降低温度至目标测试温度。在低温下,观察和记录设备的性能、启动时间、电源适应性、耐寒性等参数,并评估设备的工作稳定性和安全性。3.温度循环测试:将家用电器置于温度循环试验箱中,进行温度循环测试。该测试模拟设备在不同温度之间的变化和过渡过程。设定温度循环的上下限,并根据测试要求和标准进行温度变化的频率和持续时间。在温度循环测试中,观察和记录设备的性能、温度响应、温度均匀性等参数,并评估设备在温度变化环境下的可靠性和稳定性。4.湿度测试:在湿度控制环境中对家用电器进行测试,以模拟不同湿度条件下的工作情况。可以选择使用湿度试验箱或者控制环境湿度的设备。设定目标湿度并保持稳定,观察和记录设备的性能、防潮性能、绝缘性能等参数,并评估设备在湿度变化环境下的可靠性和稳定性。高低温循环试验是指设定温度从-50℃保持4小时后,加热到+90℃,然后,在+90℃保持4小时,冷却至-50℃小时,依次做N个循环。工业级温度标准-40℃~+85℃,由于温箱通常有温差,为了确保客户端不会因温度偏差而导致测试结果不一致,建议使用标准温度进行内部测试±5℃测试温差。
  • 宏展科技:7~14秒完成40G/100G光模块高低温循环测试
    宏展科技前期推出的”在线式高低温循环试验箱“, 10秒完成温循。在线式高低温循环试验箱,在线长期低温运行试验箱内免除霜,产品不结霜,大型宽广玻璃门带操作孔,长期运行,视窗清晰透视 ,高效的生产效率:以10G SFP+为例,10秒测一个,一个班(8小时)可产2880只模块。 测试温度范围在-40~85度。因为这款产品针对数据中心模块而开发,而数据中心环境温度相对稳定,因此,宏展在开发这款产品时将重点功能放在了温循速度上,进一步帮助客户提升测试效率。这款产品已经获得了国内外主流光模块厂商的批量采购。 宏展科技近期推出的该款超快速冷热冲击热流仪是专门针对40G/100G光模块和芯片测试,可以测试工业温度-55~125度升降温,降温14秒,升温只需7秒即可实现,温度控制对象可以是环境温度亦或是产品的表面温度,且无需氮气作为耗材。且可以直接上报测试数据,根据不同客户需求,可以再增加机械手、传送带,可以完全实现高低温循环试验全自动化。 气体快速升降温箱(热流仪)是一种能够在极短的时间内提供高低温试验环境的测试设备,采用机械制冷、电加热与压缩空气相结合的方式,适用于光电子元器件、机电产品及材料的测温度特性测试,可满足40G、100G等高速器件的测试要求,符合ESD防护要求,无需使用液氮等辅助手段。采用功能强大的触摸屏控制系统,可实时显示、存储试验数据、图表,电脑的通讯等功能。Dragon Air StreamerDragon is a fast and precise air stream temperature cycling system, from –80?C to +250?C, for various applications. An easy way to improve the reliability of electronic components and materials with thermal testing and characterization.EXCEPTIONNAL PERFORMANCES:Temperature from –80?C to +250?CAdjustable airflow from 2.2 to 8.4 l/sFast ramping: -55?C to +125?C = 7s      +125?C to -55?C =14s3 working methods: manual, automatic or programmable.Compatible with automatic test equipment (ATE).Continuous use (24/7).In appliance with the international standard MIL-STD 883 and 750 temperature cycling (method 1010 & 1051) and JEDECThermal test enclosure to fit for any demand.

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  • 芯片高低温测试机运行原理说明

    芯片高低温测试机运行是具有制冷和加热的仪器设备,无锡冠亚芯片高低温测试机采用专门的制冷加热控温技术,温度范围比较广,可以直接进行制冷加热,那么除了加热系统,制冷系统运行原理如何呢?  压缩空气制冷循环:由于空气定温加热和定温排热不易实现,故不能按逆向循环运行。在压缩空气制冷循环中,用两个定压过程来代替逆向循环的两个定温过程,故可视为逆向循环。工程应用中,压缩机可以是活塞式的或是叶轮式的。  压缩蒸汽制冷循环:压缩蒸汽的逆向制冷循环理论上可以实现,但是会出现干度过低的状态,不利于两相物质压缩。为了避免不利因素、增大制冷效率及简化设备,在实际应用中常采用节流阀(或称膨胀阀)替代膨胀机。  压缩蒸汽制冷循环采用低沸点物质作制冷剂,利用在湿蒸汽区定压即定温的特性,在低温下定压气化吸热制冷,可以克服上述压缩空气、回热压缩空气循环的部分缺点。  芯片高低温测试机吸收式制冷循环:吸收式制冷循环利用制冷剂在溶液中不同温度下具有不同溶解度的特性,使制冷剂在较低的温度和压力下被吸收剂吸收,同时又使它在较高的温度和压力下从溶液中蒸发,完成循环实现制冷目的。  芯片高低温测试机是可供各种行业使用,比如:制药、化工、工业、研究所、高校等行业中使用,当然,无锡冠亚的其他制冷加热控温设备使用的范围也比较广。

  • 半导体芯片高低温测试机中真空泵的使用说明

    半导体芯片高低温测试机在运行的过程中,每个配件的性能都是很关键的,无锡冠亚的半导体芯片高低温测试机中真空泵一旦发生故障的话,就需要及时维修以及保养,这些都是不可少的。  半导体芯片高低温测试机真空泵完好标准是机体整洁,零部件完整齐全,质量符合要求。真空表、电流表等仪表齐全、灵敏、准确,并有定期检验标志。基础稳固可靠,地脚螺栓和各部螺栓连接紧固、齐整,丝扣外露长度符合规定。管线、阀门等安装合理,标志分明,符合要求。各零部件的安装间隙应达到规定要求。半导体芯片高低温测试机真空泵运行性能要求要注意半导体芯片高低温测试机的润滑良好,油质符合要求,实行“五定”,设备运转平稳无杂音,其振动和噪声不应超过有关规定,设备负荷运转时,温度、压力、流量、电流等参数应符合相关标准。  半导体芯片高低温测试机真空泵设备及环境要求需要注意泵体清洁,外表无尘灰、油垢。基础底座表面及周围无积水、废液及其他杂物等。阀门及管件接头等处不得有泄漏。填料密封处泄漏不超过规定。  半导体芯片高低温测试机真空泵日常维护需要注意半导体芯片高低温测试机周围环境应保持清洁、干燥,通风良好,检查冷却水路是否畅通,检查各润滑部位的润滑油是否符合规定。每班必须检查各部紧固螺栓,不得有松动现象,经常检查真空罐中的液位是否正常有效,并进行必要紧固。随时检查真空表、电流表的读数是否正常。随时注意观察半导体芯片高低温测试机运转有无异常声响或振动,必要时可报告有关部门进行状态。操作人员必须严格按《操作规程》进行操作,巡回检查发现问题必须及时处理。  半导体芯片高低温测试机中真空泵的故障解决也是影响整个半导体芯片高低温测试机运行的效果的,以及后期真空泵的保养也是很重要的,这些都是不可忽视的,望悉知。

  • 高低温冲击测试机与高低温湿热试验箱的不同

    有些对高低温冲击测试机与高低温湿热试验箱的差异缺乏了解的人会以为高低温冲击测试机完全可以替代高低温湿热试验箱。其实从名字中就可以看出两种在用途上的差异,下面分别先来看看两者的概念。  高低温冲击测试机分为两箱式和三箱式的箱体,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。高低温冲击测试机用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内 试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。  高低温湿热试验箱该设备主要为电子零件、工业材料、成品研发、生产、检验各环节的试验提供恒定温热,复杂高低温交变等试验环境和试验条件。  从上可以看出,高低温冲击测试机用于温度变化测试,而高低温湿热试验箱除了用于温度测试,还多包括湿度测试,前者的用途是后者用途的一部分,不能混为一谈。

芯片温度测试高低温测试机相关的耗材

  • 高低温试验机,高低温测试机,高低温循环试验机
    CP系列高低温试验箱CP系列是高低温试验箱●操作简单易学,功能强大;●具有2重PID控制功能,自动调整、线路损坏报警、传感器断线报警;●独特送风循环设计,温度分布均匀性佳;●具有自动防霜装置的真空双重玻璃,可清晰观察试验箱内的试品该系列产品广泛用于航天、航空、信息、电子、仪器仪表等行业电工产品、材料、零部件设备的寒冷试验及低温储存。执行与满足标准1.GB10589-89 低温试验箱技术条件2.GB11158-89 高温试验箱技术条件3.GB2423.1-89 试验A4.MIL-STD-810F美军标 型  号CP系列高低温试验箱RCP-80RCP-150RCP-225RCP-408RCP-800LCP-80LCP-150LCP-225LCP-408LCP-800SCP-80SCP-150SCP-225SCP-408SCP-800温度范围 -20℃~150℃-40℃~150℃ -70℃~150℃温度波动度± 0.5℃温度偏差± 2℃升温时间-20℃~+100℃约 80分钟-40℃~+100℃约 90分钟-70℃~+100℃约 90分钟降温时间+20℃~-20℃约 60分钟+20℃~-40℃约 70分钟+20℃~-70℃约 90分钟内空尺寸(mm)80型400× 500× 400 150型500× 600× 500 225型500× 750× 600 408型600× 850× 800 800型1000× 1000× 800外形尺寸(mm)80型400× 500× 400 150型500× 600× 500 225型500× 750× 600 408型600× 850× 800 800型1000× 1000× 800功率(KW)233.5572.54.556.585.56.577.110电源220V 50HZ        380V 50HZ 冷却方式风冷或水冷制冷机组法国泰康全封闭压缩机组或德国谷轮半封闭压缩机组控制器进口智能温湿度控制器加热器镍铬合金电加热器外壳材料防锈处理,冷轧钢板静电喷塑内壁材料SUS304优质不锈钢板隔热材料聚胺脂泡沫塑料或玻璃纤维标准配置&phi 50mm测试孔盖一个,搁板两块,搁条四根,照明灯(荧光灯)一盏选配部件通讯接口,打印机.记录仪.远程监控计算机及软件,LCD液晶触摸屏程序控制器试验方法标准GB2423.1-89,GB2423.2-89,GJBl50.3-86,GJBl50.4-86备注内、外形尺寸标注为:宽W× 高H× 深D;降温时间为:环境温度20℃空载时测得.
  • 线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱
    线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温、湿热的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。 主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在低温、高温、高温高湿条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。主要特征:线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 特点:  ◆箱体内胆采用不锈钢板制成,外壳采用钢板喷塑  ◆具有随温度的设定数值自动选择运转制冷回路的功能,操作简单  ◆独特的BTC平衡调温方式,稳定平衡的加热能力,调节理想温度环境,进行高精度高稳定的温度控制  ◆设有观察窗,照明灯,可随时观察样品情况  ◆控制系统:原装进口高精密数显仪表,进口执行元器件  线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 动态产品参数  ◆型号:AP-GD-80  ◆温度范围:高温:150℃/低温:(A:+25℃;B:0℃;C:-20℃;D:-40℃;E:-60℃;F:-70℃)  ◆内箱尺寸(W*H*D) 40×50×40cm  ◆外箱尺寸(W*H*D) 120×165×115cm线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 设备使用条件:  ◆环境温度:5℃~+28℃(24小时内平均温度≤28℃)  ◆环境湿度:≤85%R.H  ◆操作环境需要室内通风良好,机器放置前后左右各80公分不可放置东西     售后服务  1、安装、调试、培训:免费负责安装调试,并安排工程师对购买方相关人员进行相应产品的技术培训;  2、保修维护:机台免费保修期为机台验收合格之日起24个月,除人为损坏外报价方对产品质量问题全部免费维修、维护;超过免费保固期,报价方提供之服务为有偿服务,收取基本零配件、人工、车马成本费;报价方为客户方提供产品终身维护服务;  3、服务响应:在保修期内,乙方在接到甲方电话通知后,安排技术人员在24小时内上门服务,并在两天内修复,否则乙方应向甲方提供备用机。保修期内,乙方应按厂家标准保修条款执行,保修期内由乙方提供免费上门服务。
  • 温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱
    您所在的位置:东莞市宏展环境科技有限公司 产品展示蓄热式高低温冲击试验箱放大图片产品名称:蓄热式高低温冲击试验箱产品型号:TS-3P系列产品价格:产品特点:冷热冲击试验箱,蓄热式冷热冲击试验箱,储温式冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,三箱气体式温度冲击试验箱,三箱高低温冲击试验箱.订购热线:0769-83730866. 详细介绍:TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分,测试样品放置测试区完全静止,采用独特之蓄热、蓄冷结构,强制冷热风路切换方式导入测试区,完成冷热温度冲击测试;既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用;2、可由测试孔外加负载配线测试部件;3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统,操作简单易懂,运行状态一目了然;4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统;5、具有RS-232或RS-485通讯接口,可连接电脑远程操控,使用便捷;6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,执行冷热冲击条件时,可选择2槽或3槽之功能,并具有高低温试验机的功能;7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能;8、可设定循环次数及除霜次数,自动(手动)除霜;9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好,程序设定方便,异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;4、GJB150.5-86温度冲击试验;5、GJB360.7-87温度冲击试验;6、GJB367.2-87405温度冲击试验。7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化10、GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则11、GB/T2423.22-2002温度变化12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则13、EIA364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估高低温冲击试验箱技术规格型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃温度冲击范围:-55~+150 ℃LTS-50LTS-80LTS-150LTS-252STS-50STS-80STS-150STS-252■ 性能 试验方式气动风门切换 2 温室或 3 温室方式高温室预热温度范围60 ~ + 200 ℃升温速率RT. &rarr + 200 ℃ 约 3 5 分钟低温室预冷温度范围-55 ~ -10 ℃-65 ~ -10 ℃降温速率+ 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟+ 20 &rarr - 65 ℃ 约 7 0 分钟试验室温度范围-40 - +150 ℃-55 - +150 ℃温度偏差± 2 ℃温度恢复时间5 分钟以内恢复条件高温曝露低温曝露高温曝露低温曝露150 ℃: 30 分钟- 40 ℃: 30 分钟150 ℃: 30 分钟- 55 ℃: 30 分钟※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能; 2. 恢复条件:室温为+ 20 ℃。■ 主要部分、结构 材 料外壳纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑内体不锈钢板 (SUS304)绝热聚氨酯泡沫和玻璃纤维构成高温室加热器鳍片式散热管形不锈钢电热器风机高温环境温度曝露时共用离心风机,预热用轴流风机低温室加热器、冷却器鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器风机离心风机驱动装置气动气缸高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用空气压缩机提供驱动气动风门的压缩空气(选件)制冷机组制冷方式机械压缩二元复迭制冷压缩机欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机制冷剂环保冷媒 R-507/R-23冷凝器不锈钢钎焊板式换热器■ 温度控制器 操作界面7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏,中文菜单提示程序记忆容量96 个用户程序(可自行编制、修改)设定指示范围时间: 1 分钟~ 99 小时 59 分钟,循环: 1 ~ 999 次 循环分辨率± 0.1℃输入PT100 铂电阻控制方法PID 控制附属功能定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示■ 规格 内部尺寸 (cm)D3540506035405060W4050607040506070H3540506035405060外形尺寸 (cm)D132147192217132147192217W125135155165125135155165H157150160170157150160170内容积 (升)50801502505080150250电 源AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz , 三相四线 + 保护地线功 率 (kw)16kw25kw30kw40kw22kw30kw35kw47kw试样重量2.5kg5kg10kg15kg2.5kg5kg10kg15kg■ 标准配置 累计计时器 1 个,引线孔( 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面) 1 个,脚轮 6 个,调整脚 4 个■ 安全装置 漏电断路器,试验室温度过高、过低保护器(控制器内置),排气阀,试样电源控制端子,高、低温室超温保护(控制器内置),压缩机超压、过热保护,断水继电器,风机热继电器,电动机温度开关,电动机反转防止继电器,压缩空气压力开关,保险丝。■ 选配 温度记录仪
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