临界电流密度薄膜分布测量仪

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临界电流密度薄膜分布测量仪相关的厂商

  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 佛山市布洛维测量仪器有限公司是专业从事硬度计等测量仪器研发、生产、销售及技术服务于一身的企业。公司自主研发和生产的洛氏、维氏、里氏、布氏硬度计系列产品已广泛应用于全国各地区的金属热处理、金属加工等行业,用于测试不锈钢、马口铁、铝型材、锻件,铸件,焊管,无缝钢管,塑料模具等产品硬度。 公司秉承“专业、专注、诚信、创新“的经营理念,用创新的思维专注于新型硬度计的研发,用诚信的态度服务于客户,通过合作实现自身与客户的共同发展。详情请登陆本公司网站:http://www.techbrv.com。
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临界电流密度薄膜分布测量仪相关的仪器

  • 这是一款帮助开发测试工程师用于快速刷选和测试高温超导材料的小型测量仪器。利用直流磁化法,通过磁矩的变化来检测样品的临界温度Tc,并可以近似计算出样品的临界电流密度Jc。并能够在电脑显示器上显示磁矩与温度的变化曲线,从而确定样品的相关特性,为之后的开发工作提供相关依据。 使用方法:将样品放入容器内,加入液氮即可测量。 设计理念:快速测试超导样品摒弃了四引线测量法的繁琐简单快速测试出样品的Jc 和Tc工作原理:该设备是专门为实验室研究超导薄膜材料而设计的。将样品放置在直流励磁线圈和一个高性能的磁场传感器之间的液氮中。当样品在超导临界温度以下时,测试样品不会受到线圈磁场的影响。随着液氮的消失,样品升温并且穿过临界温度,因此线圈更多的磁通量传递给传感器。磁通量的变化与超导临界电流密度(Jc)和超导薄膜厚度的乘积有相关。传感器会读数,因此给你的样品是否具有超导性提供了一个快速并且能够互相比较的测量方法。产品特点:1. 主控制元件包含校准控制和操作开关2. 显示器显示磁敏传感器的输出和励磁线圈的电流3. 样品固定器和励磁线圈和K 型热电偶包含在液氮的储层4. 数字温度计监测样品的温度5. 磁敏传感元件提供给样品固定器总成精准位置6. 校准控制可以消除在样品周围的杂散场和由线圈引起的磁场的影响产品的优势:1. 提供一个用于比较在77K~100K 的超导薄膜材料性能的方法,从而使得薄膜合成物的变化影响和形态可以被快速确立。2. 近似测量超导临界温度3. 样品的尺寸只需要1cm24. 不需要电接触样品从而避免了电阻热效应5. 不依赖于完全电流渗透,所以含有裂缝的不完美样品仍然可以被测量6. 测试精度高,解决了由于传统交流电测量带来的磁矩和交流损耗的问题
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  • 技术参数尺寸: 72*76*49cm3 (长*宽*高)质量: 70kg电流要求: 110V, 60Hz, 6.3A, 500W 230V, 50Hz,3.1A, 500W扫描范围: 20*25cm2最小样品尺寸: 10*10mm2毫米级别的空间分辨率数据获取速度: 5sec/point操作温度: 77K压力: 环境压力TC温度测量范围 > 77K &mdash &mdash 室温 接近临界电流范围: 最小值 0.05MA/cm2 * 500nm = 2.5A/cm 最大值 3MA/cm2 * 1100nm = 300A/cm
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  • 脉冲磁场专用临界电流测量系统CryoPulse-BI系统提供了在高磁场和大电流密度下对超导材料的临界电流的直接测量方法。这个系统是与英国剑桥大学的应用超导和低温科学组合作开发的。通过调节时间,CryoPulse-BI系统能够产生同步的磁场和电流脉冲。当样品处于脉冲磁场之中时,用户能对超导样品施加一个可调节的电流。通过改变磁场强度,样品的电流以及B-I时间就能够对超导样品的性能进行彻底的研究,得到其临界电流。样品测量的过程仅需要点击几次鼠标,花费的时间非常少。样品在制备和安装到样品杆上后,通过专用的密封连接装置能快速更换样品杆。如果想对熟悉的样品进行高精密的测量,用户可以选择自动扫描过程。当系统进行这种自动扫描过程时,用户可以准备安装新样品到样品杆上,以确保系统高效运行。通过这种方式在脉冲场下测量的伏安特性曲线与比传统的在直流场中测量的结果是一致的。因此,CroPulse-BI系统与传统的直流临界电流测量技术相比,被认为实验效率更高、测量功能更强大,运行起来也更便宜的新技术。  CryoPulse系统中昂贵的部分是电容放电电源系统。然而模块化的设计使得它很容易进行升和扩展。如果用户需要将系统升到更高的磁场,更大的体积以及更好磁场均匀度,无需花费很多资金,用户仅需要扩展电源的容量,购买更高的脉冲磁体即可。(CryoPulse系统可以配各种高场线圈。)而且,用户可以考虑使用平脉冲磁体,此时dB/dT≈0,这样就能得到一个准稳态的磁场。所以,CryoPulse系统即可以对超导样品提供动态的测量环境,也可以对超导样品进行静态的性能测量。CryoPulse-BI系统的特点  - 高的性价比,较少的投入就能获得很高的磁场  - 效率很高,较低的损耗就能获得很高的电流密度  - 紧凑模块化设计便于磁体更换和设备升到更高的能量或更高的磁场  - 液氦损耗小,运行成本很低  - 只要简单改变实验参数就能实验样品性能的快速扫描  - 仅需要点击鼠标就能选择0-30T的磁场或0-7kA的电流  - 友好的用户界面,方便用户操作  - 快速样品更换:直接插入样品杆即可测量  - 高度可重复,测量精度好  - 可以选择不同的测量方式:电流垂直于磁场或电流平行于磁场  - 可以研究样品的动态和静态性能(宽平脉冲磁场或dB/dt扫描) 系统组成部分(图1)  1、 标准CDM-M电容放电脉冲磁体电源系统,图中的部件1。  2、 变温系统(4K或77K),如图中的部件2。  3、 液氮冷却脉冲磁体,在图中的部件2内。  4、通常从部安装的样品杆,如图中的部件3。  5、 数据采集及信号处理系统,如图中的部件4。  6、标准的CDM-C电容房地电源系统(2kJ),用于对样品提供脉冲电流,如图中的部件5。图1、CryoPulse-BI系统的构成部分测量结果(见图2和图3)  CryoPulse-BI系统能够用于测量低温超导体(NbTi和Nb3Sn)和高温超导材料(BSCCO带材)的性质。图2、当测量如图所示的伏安特性曲线时,曲线的斜率跟实验中的峰值电流相关,这是由于NbTi和铜基体之间的分流增强了。图3、下图中显示了用两种方法测量的临界电流,高测量到了11T。在磁场垂直于电流时,CryoPulse-BI系统测量的结果与传统的DC测量结果是一致的。
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临界电流密度薄膜分布测量仪相关的资讯

  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 理化所高电流密度下可充放电式锌空气电池研究取得进展
    p   可逆锌空气电池具有价格低廉、环境友好和能量密度高(1084Wh kg-1)等优势,在便携式交通工具和能量储存器件应用方面潜力巨大。该电池的核心组分是驱动氧还原反应(ORR)和析氧反应(OER)的双功能催化剂,但存在动力学缓慢及循环稳定性差等问题。因此,发展廉价、高效的双功能催化剂,对于推动可逆锌空气电池的实际应用具有重要意义。 /p p   氮化物,如Ni3FeN等,因其独特的电子结构和半金属特性,在电催化氧气还原反应(OER)中,表现出优异的性能。但将Ni3FeN应用于可逆锌空气电池中,面临两个问题:一是氮化物的ORR活性低 二是氮化物的在合成过程(氨气气氛煅烧)中易团聚,难以得到更小尺寸、更多活性位暴露的氮化物,阻碍其OER性能的进一步提升。 /p p   近日,中国科学院理化技术研究所超分子光化学研究团队研究员张铁锐课题组采用“一石二鸟”的策略,通过引入钴氮共掺杂碳载体(Co,N-CNF),有效减轻Ni3FeN在高温合成过程中的团聚问题,从而缩小其尺寸至14nm 同时Co,N-CNF本身具备优良的ORR性能。因此,Ni3FeN/Co,N-CNF复合物的OER性能明显优于贵金属IrO2,ORR性能超过商业化Pt/C,该双功能催化剂可实际应用于可逆锌空气电池,并在高电流密度(50 mA cm-2)下长时间稳定工作。该策略为设计和合成多功能催化剂提供了新思路,可广泛应用于金属空气电池、可充放电式燃料电池、全分解水以及其他能源领域。 /p p   研究结果以3D Carbon Nanoframe Scaffold-immobilized Ni3FeN Nanoparticle Electrocatalysts for Rechargeable Zinc-Air Batteries’Cathodes为题发表在Nano Energy上。 /p p   研究工作得到科技部国家重点基础研究计划、国家自然科学基金委优秀青年科学基金项目、国家“万人计划”-青年拔尖人才支持计划、中科院战略性先导科技专项(B类)等的支持。 /p p style=" text-align: center " img title=" 1.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201709/insimg/9fe2701e-b381-4d1d-a592-676044849fe8.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong Ni3FeN/Co,N-CNF复合物应用于可逆锌空气电池 /strong /p p & nbsp & nbsp & nbsp 论文链接:3D Carbon Nanoframe Scaffold-immobilized Ni3FeN Nanoparticle & nbsp Electrocatalysts for Rechargeable Zinc-Air Batteries’ Cathodes /p
  • 全自动薄膜孔径及渗透率测量仪新品发布暨技术讲座将于2010年12月14日在京举行
    2010年9月,美国康塔仪器公司隆重推出最新的薄膜孔径分析仪器, Porometer 3G。该仪器是一款独特的全自动多功能分析仪,该仪器的测试原理为毛细管渗透法,利用可浸润液体测定薄膜孔径及渗透率。该方法没有污染,无需实验室改造,更安全更便捷。同时该方法也是ASTM薄膜测定的标准方法 。为了使广大用户更多地了解美国康塔仪器公司最前沿的测量技术, 我公司将于2010年12月14日9:30时在北京理化分析测试中心(北京市西三环北路27号),举办全自动薄膜孔径及渗透率测量仪新品发布暨技术讲座,届时将由我公司总部的专家Mr. Jeff. Dixon详细介绍该仪器原理及应用并解答有关问题。欢迎您的光临!

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  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米; 波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 光源:使用显微镜光源 光斑大小:由显微镜物镜决定 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口; 尺寸:120x120x120mm 重量:1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
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