飞行时间法电荷迁移率测试系统

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飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的厂商

  • 晶圆电阻率测试仪硅片方阻测试仪涡流法低电阻率分析仪晶锭电阻率分析仪迁移率测试仪少子寿命测试仪半导体、晶圆、硅片、光伏等电阻率一站式解决方案。
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  • 杭州质领科学仪器有限公司具备多年精密分析仪器以及医疗仪器研发、设计、调试、外壳外观设计经验,主要包括飞行时间质谱仪、离子迁移谱等科学仪器。致力于为客户提供分析仪器关键部件解决方案,包括仪器精密零部件设计加工、专用直流(高频)电子电路、外观设计加工等,同时可针对客户需求设计真空接口以及传输部件等,提供精确解决方案。公司基于自主研发的小型微波固态源开发出完美微波等离子体激发装置,可方便的与现有商业仪器对接,在VOCs、表面物质成分量分析检测等方面有着良好的应用前景.
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  • 那诺中国主要提供基于飞行时间的质谱仪,涉及用于材料表面分析应用的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、用于气体分析的电子电离飞行时间质谱仪(EI-TOF-MS)、用于环境监测的质子转移反应飞行时间质谱仪(PTR-TOF-MS)等。
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飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的仪器

  • microTyper MS高通量微生物快速鉴定系统是中国首款完全自主知识产权的商品化基质辅助激光解吸离子源一飞行时间质谱仪(MALDI-TOF MS),由江苏天瑞仪器股份有限公司与其控股子公司厦门质谱共同研发,江苏天瑞仪器股份有限公司福建分公司生产销售,该仪器的研制打破了国外质谱公司对于该产品技术的垄断,并于2015年获得中国分析测试协会BCEIA金奖。获2015年中国分析测试协会BCEIA金奖工作原理:利用基质辅助激光解吸电离方法得到待测样品分子离子,通过测得待测微生物的肤质量指纹圈谱(PMF),并将其与数据库中的徽生物标准指纹图谱进行匹配检索,从而完成鉴定(可鉴定至种或属)。该仪器适用于绝大多致的徽生物鉴定,可同时鉴定细菌及真菌,相对于传统方法,具有更加快速准确、高通量检测、操作简单、成本低的优势。产品特点及优势:硬件特点:1)采用无网直线形飞行管,并配置大面积高灵敏微通道板(MCP)离子探测器;2)配置超高速ADC采集卡,高采样频率可达3GHzsps3)使用长寿命氮气紫外激光器,激光发射频率在1~60 Hz内可调;4)配备96孔的样品靶板,含6个质控点,可多次重复清洗使用;5)配置转速320 L/s的分子泵,缩短进样等待时间;6)采用三重灭菌尾气处理装置,大限度保证实验安全和保护环境。软件特点:1)microTyper MS软件集合仪器控制、数据采集、谱图实时快速鉴定功能于一体,可进行谱图离线处理、批检索、聚类分析以及徽生物数据库自建等;2)多样品把点全自动采集与鉴定功能:利用人工智能模糊逻辑算法自动采集谱图和评估谱图质量,实现无人操作下自动获取高质量的肽指纹谱图;3)质轴自动校准功能:自动校准使仪器长朋保持佳工作状态,提高鉴定结果的准确度,增强用户操作的便捷性;4)软件自诊断和保护功能:软件实时更新仪器运行状态,便于用户掌握仪器状况,发现问题及时处理;5)远程监控和技术服务功能:配置性能的触控平板电脑和白动采集软件系统认(APS),实现自动采谱、鉴定、生成报告的远程操控。性能参数:1)质量范围:16000u2)质量准确性:≤500ppm3)灵敏度:信噪比≥ 1004)质量分辨率:R≥5005)重复性:≤ 0.06%6)质量稳定性:≤ 800ppm微生物鉴定方法:微生物鉴定流程微生物样品前处理方法:微生物样品前处理流程应用领域:1)临床微生物的高通量快速鉴定;2)疾控中心微生物传染病原的鉴定与监测;3)食品生产中的微生物检测;4)检验检疫;5)工业、农业环琉中的细曲检测;6)微生物研究及应用开发。
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  • 产品关键词:载流子迁移率、电子迁移率、空穴迁移率、渡越时间、飞行时间、TOF、载流子寿命、迁移率寿命积、瞬态光电流、水平载流子、横向TOF、横向载流子、二维载流子成像mapping▌ 产品简介最早于2012年为行业提供搭建式系统,并于2019年全新推出的业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测量商业化设备。FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight,TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性,广泛适用于各类半导体材料,如硅基半导体、第二代半导体、第三代宽带隙半导体、有机半导体、钙钛矿半导体、量子点半导体、二维材料半导体、金属-有机框架(MOF)、共价有机框架(COF)等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成,配备便捷的上位机控制和数据测量软件,可助力客户进行快速、准确的测量。FlyTOF是东谱科技源头研发产品,是业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测试商业化设备。迁移特性是半导体最为基础的性质之一,是半导体在电子学和光电子学等领域进行应用的基础。半导体的迁移率定义为单位电场下载流子的平均漂移速度。TOF迁移率测试方法直接由迁移率的定义发展而来。 相比于一些间接的迁移率测试方法,如空间电荷限制电流(SCLC)法等,TOF的方法被认为是最接近“真实”迁移率的一种测量方法。通过TOF瞬态光电流信号的分析,可以得到电子迁移率、空穴迁移率等参数;用户还可以利用这些数据,结合材料的物理模型进行分析,得到杂质浓度、缺陷、能带混乱度、电荷跳跃距离等参数。作为TOF迁移率测试方法商业化应用的先行者,东谱科技已携手客户广泛探索了FlyTOF在有机半导体、硅基半导体、钙钛矿半导体、二维材料、共价有机框架等领域的应用。东谱期待与您共同开拓FlyTOF更多的应用领域。▌ 产品特点□ 载流子迁移率测量值覆盖10^-9~10^6 cm^2/(V.s)□ 专业的信号调教,电磁兼容噪声小□ 行业最先进的TOF测试功能□ 软件自动控制,测试快速便捷□ 快速换样装置,惰性气体氛围测试□ 可实现宽温度范围的变温测试(选配)□ 可通过可视化系统看到光斑照射情况□ 可灵活耦合各种类型的激发光源▌ 产品功能□ 飞行时间法瞬态光电流测量□ 半导体材料电子迁移率测量□ 半导体材料空穴迁移率测量□ 载流子浓度测量□ 载流子寿命测量□ 可选变温测量□ 可选Lateral-TOF测试功能及附件□ 可选配TOF二维扫描(mapping)功能及附件功能说明:标配TOF:纵向TOF;Mapping功能:可以对TOF的信号进行二维平面的成像;Lateral-TOF功能:可以以水平的方式对样品的迁移率进行测试。▌ 产品应用□ 有机半导体□ 量子点半导体□ 元素半导体(Si、Ge等)□ 金属-有机框架(MOF)□ 二维材料□ 宽带隙第三代半导体□ 钙钛矿材料□ 化合物半导体(InGaAs等)□ 共价有机框(COF)□ 其它半导体材料▌ 规格型号规格配置高性能版(E300)标配版(S300)经济版(W300)TOF标配功能√√√Mapping模块可选可选×Lateral-TOF可选可选×* Lateral-TOF:□ 包含显微系统、探针系统、针对Lateral-TOF的光路及电子部件系统等,具有非标性质,详情请与销售专员联系。* 可选配置/部件:□ 337nm 纳秒气体激光器;□ 532nm纳秒调Q固体激光器;□ 355 nm纳秒调Q固体激光器;□ Nd:YAG激光器 1064 nm、532 nm、355 nm、266 nm;□ 可调谐 OPO 激光器,波长范围:210-2400 nm。▌ 测试样例
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  • 适用测量有机半导体器件的电子迁移率和空穴迁移率分布式系统:测试箱主尺寸2400mm*800mm*1600mm,重量<200KG,系统配置包括:示波器、电压源、信号触发单元、测试暗箱,样品仓,部件置于机柜内,固定样品台。主要参数:1.电压源电压范围:1-200V;2.电压分辨率:0.1V;3.激光器:纳秒Nd YAG激光器2个;4.激光束尺寸:<2mm*2mm;5.测量时间范围:4 ns-10 s;6.最大输出电流:5mA 7.测试功能:载流子渡越时间、迁移率、载流子寿命;8.迁移率测量范围:>10^-6cm^2/(V.s)@1um样品厚度。
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飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的资讯

  • 如何1分钟完成厘米级二维材料的载流子迁移率测量
    引言近年来, 石墨烯等二维材料与器件领域的研究和开发取得了日新月异的进展。随着二维材料与器件研究和开发的深入, 研究人员越发清楚地认识到, 二维材料中载流子的传输能力是影响其器件性能的一个至关重要的因素。衡量二维材料载流子传输能力的主要参数是载流子迁移率μ, 它直接反映了载流子在电场作用下的运动能力, 因此载流子迁移率的测量一直是石墨烯等二维材料与器件研究中的重要课题。二维材料载流子迁移率的测量方法迄今为止已有许多实验技术来测量二维材料的载流子迁移率,主要分为四大类, 一是稳态电流方法( 如稳态直流J-V 法和场效应晶体管方法),该方法是简单的一种测量载流子迁移率的方法,可直接得到电流电压特性和器件的厚度等参数。二是瞬态电流方法,如瞬态电致发光、暗注入空间电荷限制电流和飞行时间( TOF) 方法等;三是微波传导技术, 如闪光光解时间分辨微波传导技术和电压调制毫米波谱;四种是导纳( 阻抗) 法。但上述实验方法仍存在一些普遍性问题:1)样品制备要求较高,需要繁杂的电制备;2)只能给出平均值,无法直观的得到整个二维材料面内的载流子迁移率的分布情况,无法对其均匀性进行直观表征;3)测量效率较低,无法满足未来大面积样品及工业化生产的需求。因此,我们亟需进一步优化和开发新的实验技术来便捷快速的获得载流子迁移率。颠覆性的二维材料载流子迁移率测量方法西班牙Das Nano公司采用先进的脉冲太赫兹时域光谱技术创新性的研发出了一款针对大面积(8英寸wafer)石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料100%全区域的太赫兹无损快速测量设备-ONYX[2,3],可在1 min之内完成厘米样品的载流子浓度测量。基于反射式太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)弥补了传统接测量方法之间的不足和空白。实现了从科研到工业的大面积石墨烯及其他二维材料的无损和高分辨,快速的载流子迁移率测量,为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。近日,北京大学刘忠范院士团队通过自主设计研发的电磁感应加热石墨烯甚高温生长设备,在 c 面蓝宝石上在 30 分钟内就可以直接生长出了由取向高度一致、大晶畴拼接而成的晶圆高质量单层石墨烯。获得的准单晶石墨烯薄膜在晶圆尺寸范围内具有非常均匀的面电阻,而且数值较低,仅为~600 Ω/□,通过Das Nano公司的ONYX的载流子迁移率测量功能显示当分辨率为250 μm时迁移率依旧高于6,000 cm2 V–1 s–1,且具有很好的均匀性。这是迄今为止,常规缘衬底上直接生长石墨烯的好水平。文章以题为“Direct growth of wafer-scale highly-oriented graphene on sapphire”[4]发表在Science Advances上。图二、电阻及载流子迁移率测量结果 【参考文献】[1] Bardeen J, Shockley W. Deformation Potentials and Mobilities in Non-Polar Crystals[J]. Physical Review, 2008, 801:72-80[2] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).[3] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).[4]Chen, Z., Xie, C., Wang, W. et al. Direct growth of wafer-scale highly-oriented graphene on sapphire. Sci. Adv. (2021).
  • TSI公司发布新一代MacroIMS高分子离子迁移率谱仪
    世界精密测量仪器的生产商TSI公司宣布了其新一代MacroIMS高分子离子迁移率谱仪的上市。 MacroIMS高分子离子迁移率谱仪3982是一款全新的可快速测量高分子的分子量和粒径的仪器,并具有非常高的分辨率。MacroIMS高分子离子迁移率谱仪系统是由来自TSI公司的纳米颗粒分析核心技术中发展而来,经过验证,该系统可用于各种生化分析,包括抗体聚合、脂蛋白、病毒、疫苗、类病毒颗粒、聚合物以及纳米颗粒胶体等。 这款新一代的产品具有许多上一代产品所不具有的独特优势,例如通过直接与LC泵和自动取样器相连,新产品能够实现自动分析;并采用了软X射线电离技术,摆脱了为实现电荷中和需要使用放射源的缺陷;而且该设备可自动发现组分;它具有更快的扫描速度,并配备了基于色谱分析的具有扩展分析工具的软件。 TSI公司高级全球产品经理Erik Willis先生说,“这款MacroIMS高分子离子迁移率谱仪的优势就在于它能够分析那些对质谱仪来说粒径过大的高分子和纳米粒子,而且具有光散监测仪所无法达到的高测量精度和分辨率。这款MacroIMS高分子离子迁移率谱仪是对液态色谱分析、场流分析、AUC分离以及质谱分析的有力补充。” 如果您想了解更多信息或寄送样品至本公司进行分析,请点击http://www.tsi.com/Products/Macromolecule-Analyzers/Other/MacroIMS-Macroion-Mobility-Spectrometer-3982.aspx。
  • 灵敏的迁移率测量方法—相位分析法
    p    strong 来自Testa Analytical Solutions e.K的NanoBrook ZetaPALS是一种使用相位分析光散射方法的高度精确和易于使用的Zeta电位分析仪。 /strong /p p style=" text-align: center " strong img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/74322ba6-017d-419d-988b-a6b3f373457c.jpg" title=" Nanobrook ZetaPALS.jpg" width=" 500" height=" 347" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 500px height: 347px " / /strong /p p   基于相位分析光散射(PALS)原理,Nanobrook ZetaPALS被设计用于测量电泳迁移率。Testa analysis公司的Nanobrook ZetaPALS提供了一个优异的平台,用于测定盐浓度低于75毫摩尔离子强度水中的纳米颗粒和胶体的zeta电位。 /p p   这种创新性的仪器被设计用来消除其他zeta电位仪器固有的缺陷。利用PALS配置,NanoBrook ZetaPALS可被用来测量比传统的激光多普勒电泳系统低3个数量级的迁移率。NanoBrook ZetaPALS可以在几秒钟内测量完整的电泳迁移率分布。 /p p   Nanobrook ZetaPALS独特的单元配置消除了电渗效应,因此不需要固定水平、对齐或校准。运用低成本,一次性样品单元,不需要组装或维护,消除了样品交叉污染的可能性。 /p p   NanoBrook Zeta的软件很简单,但操作起来非常直观,同时为希望进行更复杂实验的科学家们提供了高级功能。 /p

飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的方案

  • 人高迁移率族蛋白1(HMG1)ELISA试剂盒
    人高迁移率族蛋白1(HMG1)ELISA试剂盒人高迁移率族蛋白1(HMG1)ELISA试剂盒使用说明书本试剂盒仅供研究使用。检测范围: 规格:96T/48T使用目的:本试剂盒用于测定人血清,血浆及相关液体样本中人高迁移率族蛋白1(HMG1)含量。实 验 原 理 本试剂盒应用双抗体夹心酶标免疫分析法测定标本中人高迁移率族蛋白1(HMG1)水平。用纯化的抗体包被微孔板,制成固相抗体,往包被单抗的微孔中依次加入人高迁移率族蛋白1(HMG1)抗原、生物素化的人高迁移率族蛋白1(HMG1)抗体、HRP标记的亲和素,经过彻底洗涤后用底物TMB显色。TMB在过氧化物酶的催化下转化成蓝色,并在酸的作用下转化成最终的黄色。颜色的深浅和样品中的人高迁移率族蛋白1(HMG1)呈正相关。 使用酶标仪在450nm波长下测定吸光度(OD值),计算样品浓度
  • 使用光谱和寿命共焦光致发光映射在 VACNT 钙钛矿太阳能电池中成像电荷提取
    由于钙钛矿具有高载流子迁移率、大的吸收系数、可调带隙和长载流子扩散长度等特性,卤化物钙钛矿太阳能电池成为目前研究热点。如何有效地将电荷载流子从器件中提取出来是太阳能电池设计中的挑战之一。为了帮助提取电荷,通常会将电子和空穴提取层合并到器件中。垂直排列的碳纳米管 (VACNTs)是目前研究较多的太阳能材料,常被用于空穴提取层。VACNTs空穴提取层的太阳能电池如图 1 所示。VACNTs 在 ITO 电极顶部以网格状图案生长,以实现改进的电荷提取,同时保持ITO/VACNTs 具备较高的光传输功能。光致发光 (PL)强度与钙钛矿中电荷载流子的数量成正比,因此对电荷转移到相邻层中很敏感。这使得基于 PL 的技术对于研究新提取层的性能非常宝贵。在本文中,空穴转移到基于 VACNT 的空穴提取层是通过使用爱丁堡仪器 RMS1000 共焦显微拉曼成像获取到的。
  • 使用精确质量四极杆-飞行时间液质联用系统和分子结构关联软件对三氯蔗糖进行鉴定和碎裂研究
    本文将评价精确质量四极杆-飞行时间液质联用系统(Q-TOF LC/MS) 和MS/MS 系统在正负电喷雾离子化(ESI) 模式下对水中三氯蔗糖的鉴定。研究其响应和碎裂途径。Q-TOFLC/MS 系统在ESI 正离子或负离子模式下对三氯蔗糖具有良好的响应。正离子模式下获得的整体信号强度大约是负离子模式下的两倍。在正离子模式下,三氯蔗糖以其钠加合物[M+Na]+ 的形式在m/z 419.0038 处检出。通过精确质量MS/MS 测量提供所获得的钠加合碎片离子(m/z 221.0187 和m/z 238.9848)的结构信息。在负离子模式下观察到去质子化分子(m/z 395.0073 处的[M− H]− )。通过MS/MS 碎裂产生一个特征碎片离子(m/z 359.0306)。使用Agilent MassHunter 分子结构关联(MSC) 软件绘制和研究正负离子MS/MS 分析的碎裂途径。MSC 软件已证实在辅助碎片离子结构的表征上是一个有效工具。

飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的资料

飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的论坛

  • 求助离子迁移谱与飞行时间质谱的区别

    离子迁移谱和飞行时间质谱 都是依靠时间来确定物质,前者依靠迁移率来分辨,后者依靠质荷比判定。哪位分析下二者的区别,是不是飞行时间质谱在常压下,原理就与离子迁移谱一样了。

  • 实验室分析仪器--有机质谱飞行时间分析系统结构分析

    离子受到加速电压的作用离开离子源后在一个无场区域内飞行直至抵达检测器,各种质荷比的离子受到相同的加速电压作用,但由于它们的质荷比不同,在无场区域内飞行的速度不同,导致到达检测器的时间也不同。利用离子到达的时间不同达到区分不同质荷比的效果,这就是飞行时间分析系统的原理。图是经典的线性飞行时间质谱分析系统示意图。飞行时间的离子可以由脉冲产生,也可以是连续离子流。但不管如何,在进入分析器前要经过适当的调制。这是因为确定离子的质荷比值是直接依赖于离子在无场区域内的准确飞行时间,也就是说要求所冇离子应同步进入加速区。利用脉冲给予离子加速,一次脉冲,其宽度为ns至10μs可调。随时间的推移,不同质荷比离子相继到达收集器。仪器在小于100μs内输出一张谱图,重复频率是10?100kHz。[img=CL]`WJ@@20C$~LQ$HQEU]1G.png,448,180]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929408286.png[/img]分辨率是整个仪器综合性能的反映。所以在讨论分辨改善的同时,除了 TOF本身外还涉及离子源的技术改进。从理论上讲,要求相同质荷比的离子具有相同的飞行时间,而不同质荷比的离子具有足够的时间差。但实际上有相同质荷比的离子达到收集器上的时间有微小的差异,从而导致谱线加宽和分辨率的下降。其原因在于下述三种情况:第一,相同质荷比离子在加速前在源中处于不同的位置,因此获得不同的加速能量;第二,由于热运动使离子有初始能量的分布,表现在初始速度上的差异;第三,即使它们的位置相同,但在脉冲加速前它们的运动方向上有差异,极端的情况是运动方向背向于栅极的那些离子需要有一定的时间进行调头或称回转,然后才得到相同的加速能量进入分析器。其结果,到达收集器的时间发生了滞后。[b]一、分辨率的改善1、双栅极结构 [/b]单栅极的结构使离子被加速到最大能量所需要的时间为飞行时间的十分之几,而由于脉冲控制栅极和脉冲加速栅极构成的双栅极的时间只是飞行时间的百分之几,这样,就初始能量的差异对分辨率影响而言,后者是减小了。[b]2、延迟引出技术(Delay Extraction, DE)[/b] 这一技术是AB Sciex公司的专利, 据称可以提高分辨率1?3倍。它的原理是让离子产生后在源内延迟片刻,然后给予脉冲引出到飞行区。此时,靶极(指离子产生处)与栅极是相同的电位而处于无场状态初始速度稍大的离子离耙极远,离栅极近;初始速度小辟则相反。一旦延迟结束,离栅极近的离子受到栅极脉冲加速的能量要稍低于离栅极远的离子,这样,因为初始速度不 同的相同质荷比离子得到了补偿。DE技术不仅改善了初始能量的差异,也有助于减小 回转时间的影响,分辨率的提高也必然改善精确质量测定的准确度。[b]3、脉冲场聚焦[/b] 这是减小回转时间的一种解决方法。[b]4、反射式TOF[/b] 经第一级TOF飞行,离子进入称为反射器的离子镜,离子被反射以后在第二级收集器上被检测。如果单用第一级检测器,这就是线性TOF,而经反射以后,对于空间位置和初始速度上的色散都能获得补偿。如此减小相同质荷比的离子在动能上的差异而达到飞行时间上的一致性,由此提高了分辨。反射式TOF结构很紧凑,反射阶段的飞行距离要比线性阶段的飞行时间来得短,但是分辨率远远高于线性TOF。这是因为反射器是一个均匀的电场,对于相同质荷比的离子,若初始能量大的则进人反射器区域的路径要长,飞行时间要多一些;若初始能量小的则进入反射器的路径要短,飞行时间要少一些。本来在线性TOF阶段,初始能量大的飞行时间要小于初始能量小的,现在经过反射器阶段后,前者和后者都在时间上得到纠正,所以,使用反射TOF能够使初始能量有差异的相同质荷比离子几乎同时到达第二个检测器。实际上,位置上的色散也是反映在获得加速能童上的差异并导致最终在飞行时间上差异,因而反射式TOF也能将其补偿。下图是使用 AB Sciex 公司的 Super Voyager—DE STR MALD—TOF 仪上获得细胞色素C(cytochrome C)的质谱图,其分辨率达到28000 (FWHM)。增加反射式 TOF的飞行长度可以提高分辨率,但对线性TOF来说行不通。这是因为初始能量的色散在增加飞行长度后差异会变得更大,但在反射式TOF中是在时间上得到了补偿,如同磁质谱仪的双聚焦仪器在空间上进行的补偿那样。当离子初始能量的差异得到显著减小后,仪器的分辨率将由电器稳定性和检测器的 性能所决定。要说明的是,在讨论MALDI源 的时候,离不开TOFMS的结合,但是在这里讨 论TOFMS的时候,不必将离子源限定在MAL-DI, 这意味着TOFMS可以配用电喷雾的离子源,即ESI —TOFMS进行分析。[img=image.png,302,300]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929914874.png[/img]TOF分析器具有大的质量测定范围(通常可达50万u,个别的甚至更高)、高的灵敏度 (肽或蛋白质测定的Fmol量级)、高分辨率的精确质量测定[精度(5~10) X10[sup]-[/sup][sup]6[/sup]],再加上仪器结构简单和操作方便,因而具有很大的应用潜力(提高外标法的精确质量测定将有更大的竞争能力)。[b]二、源后分解(PSD)[/b]如同磁质谱的无场漂移区产生亚稳离子那样,当离开离子源的离子在很长的距离中 飞行,有些离子在飞行时间内发生碎裂反应。碎裂后的子离子基本上按前体母离子的速 度飞行,因此到达检测器的时间是与其母离子相同的。对于TOF仪器测出这种亚稳峰 的原理作如下说明:当离子进PSD (post -source decay)反射器,受到静电镜的推斥而转向第二个检测器。正常的母离子(m1)具有速度v1的全加速能量,而亚稳峰具有速度v1,但具有全加速的m2/m1能量,因此推斥它只需要低于全加速的能量。显然,正常的母离子m1和正常的子离子(m2)能够深入静电镜,而亚稳峰m*则不会深入,这意味着亚稳离子先到达第二检测器,随后才是正常的母离子 (m1)。静电镜的正常设置是聚焦正常母离子(m1),对亚稳峰m*来说处于去焦状态。 当降低反射器电压至m2/m1使亚稳离子此时能够到达静电镜的深处,即达到如同正常母离子或者说所有全加速的离子的聚焦位置,这样,就能把亚稳峰聚焦到在第二个检测器上,而所有正常离子则不再发生反射而留在第一检测器内。可以设想正常母离子会在飞行区内发生许多碎裂反应,由此形成不同能量的亚稳离子,设置不同的反射镜电压,就可以获得母离子m1的所有亚稳跃迁。这里需要说明的是,单纯依靠m2/m1值的调整测出的亚稳离子还有其不确定性。因为一个化合物可能有各种不同的母离子的亚稳跃迁,从理论 讲就可能存在m2/m1值相同又分属于不同的母一子离子对,所以PSD分析还应包括一个定时的离子选择器。它的位置在飞行的路径上,它允许让某一个前体离子通过,不允许不同时间到达的其他离子通过,这就确保了仅有这一前体离子产生的亚稳峰被检测

飞行时间法电荷迁移率测试系统相关的耗材

  • 用于TOF-MS(飞行时间质谱)的电子倍增器
    用于TOF-MS(飞行时间质谱)的电子倍增器 生产商和仪器 类型 货号 Bruker Various TOF MALDI-TOF 14820 Ciphergen ProteinChip III MALDI-TOF 14873 Ciphergen RS ProteinChip I MALDI-TOF 14831H Comstock MiniTOF MALDI-TOF 14824 Kratos AXIMA MALDI-TOF 14870 Kompact MALDI (I-IV) MALDI-TOF 14820 LECO Renaissance ICP-MS 14833H Sensar/Larson-Davis TOF 2000 MALDI-TOF 14823H 通过优化离子与电子光学转换及独特的倍增器形状设计,用于TOF-MS的ETP电子倍增器具有很好的性能。
  • 化学发光成像系统配件
    化学发光成像系统配件同时具有化学发光成像和荧光成像功能,也是一套多功能免疫印迹成像系统。化学发光成像系统配件具有超高灵敏度制冷CCD相机和超快镜头,为用户提供超高灵敏度的多功能化学发光成像和荧光成像。 化学发光成像系统配件特点 三阶peltier制冷CCD相机,可制冷到室温-60℃工作,确保获得高质量图像 CCD相机分辨率高达2048x2048像素 配备超快镜头 多波长荧光灯光源 超级紧凑设计,方便操作 图像采集软件方便使用,图像分析软件功能强大 化学发光成像系统配件应用 化学发光成像:Western lightning, ECL, ECL plus, CDP star, Super signal, CSPD, lumiGlo 核酸检测,溴化乙锭,SYBR gold, SYBR Green, SYBR safe, GelStar, Fluorescein, Texas red 蛋白质检测:Coomassie blue, Silver Star, Sypro Red, Sypro Orange, Pro-Q Diomand, Deep Purple。 化学发光成像系统配件分析软件:获取凝胶图像, 控制光源镜头和相机工作 自动识别凝胶带数和背景,增加或删除凝胶带,调节或移动任意凝胶带 密度对比,扫描制定凝胶泳道,给出扫描曲线,泳道中的峰值和密度 计算凝胶带的迁移率,分子重量电泳,碎片尺寸和IEF(RF值) 化学发光成像系统配件参数 CCD尺寸:15.2*15.2mm 像素:2048x2048像素, A/D值:16 CCD温度:室温下-60℃ 镜头: 25mm, F0.95超快镜头 光源: EPI-White LED灯 软件:采集,分析软件 可选配件 荧光灯:365nm, 395nm, 460nm, 490nm, 530nm, 630nm 滤波片:530nm, 590nm, 630nm, 670nm. 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 更多关于化学发光成像系统参数、化学发光成像系统应用等诸多信息,孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来,了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取!
  • 精确质量数 TOF LC/MS 系统 G6230AA
    产品特点:Agilent 6200 系列精确质量数 TOF LC/MS 系统至尊高精度飞行时间质谱技术,超过其它任何 TOF 系统Agilent 6200 精确质量数飞行时间液质联用系统采用了至尊高精度飞行时间技术,紧凑的台式仪器设计,具有无与伦比的速度和性能,适用于确认合成化合物、发现生物标记物、 鉴定杂质、筛查农药,以及表征全蛋白质。* 典型质量准确度低于 1 ppm,提高了结果的可靠性,减少了假阳性率* 数据采集速率高达每秒 40 张谱图,保证得到最高的数据质量且与快速色谱兼容* 高达 5 个数量级的质谱动态范围可以在即使丰度更高的化合物存在时检测痕量目标物* 皮克级的柱上灵敏度可以在极低浓度下检测到杂质或生物标志物* 全蛋白质分子量的超准确测定,可对重组治疗药物进行快速质量检测* 6230 精确质量飞行时间液质联用系统具有安捷伦的喷雾流热梯度聚焦,在最佳 LC 流速条件下,MS 和 MS/MS 灵敏度提高了 5 到 10 倍,分析结果的可靠性更高* MassHunter 工作站软件的全自动化数据分析方法可以充分发掘来自安捷伦的飞行时间液质联用系统的精确质量数质谱数据的海量信息订购信息:Agilent 6200 系列精确质量数 TOF LC/MS 系统说明部件号6230 精确质量数 TOF LC/MS 系统G6230AA6224 精确质量数 TOF LC/MS 系统G6224AA
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