反射仪

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反射仪相关的厂商

  • 400-860-5168转2055
    美国Labsphere Inc.公司(国内注册商标:蓝菲光学)于1979年成立,是生产积分球及以积分球为核心的光电仪器厂商,总部位于美国新英格兰地区的新罕布什尔州,在40余年的发展历程中labsphere致力于在全球光源计量、照明测量、辐射标定、反射率透射率测试及光学漫反射涂料领域内的技术发展,Labsphere已为众多光学领域客户专业设计并提供多种用途的积分球系统,此外Labsphere还具备极其丰富的定制经验,以满足不同用户的特殊需求。 Labsphere通过了ISO9001:2008的认证,每一个生产流程都严格按照ISO标准,每个生产环节都会设置独立的质控人员,严格控制产品质量。Labsphere在美国拥有高精度的综合加工车间、化学物混合及喷涂车间、光学和机械设计实验室以及2个符合美国国家标准与技术研究院(NIST)标准的校准实验室和光学材料标定实验室等,2011年,该实验室通过美国国家实验室认可程序(NVLAP)认证,获得了SO/IEC 17025检测和校准实验室资质。这些设施保证了Labsphere设计、制造、加工和装配的产品的极高水准。2010年3月,Labsphere收购了美国另一积分球系统供应商Sphere Optics,将成功将整合到Labsphere的品牌和团队之中。 为了更好服务亚洲市场,Labsphere已于2009在上海设立了全资子公司——上海蓝菲光学仪器有限公司(shanghai Labsphere Optical Equipments Co.,Ltd.), 其在中国的业务量已在过去的4年间增长了10余倍。目前Labsphere产品包括针对 LED、半导体照明产品、通用照明光源和激光器的光测量系统、反射率透射率测试组件,成像设备校准用均匀光源等,广泛应用于光学计量,光学检测,照明领域测试及研究、遥感成像定标,化妆品、纺织品紫外透过率及防晒指数分析等。 Labsphere目前主要产品包括:1) 用于检测LED、SSL及其他光源的光色电测试系统 2) 用于空间研究、遥感、观测、计量等科研机构的辐射标定均匀光源系统 3) 用于大功率密度或大发散角的激光功率测试系统 4) 用于众多行业的反射率及透射率测试系统 5) 用于化妆品及纺织行业的紫外透过率及防晒指数分析仪 6) 光学元件杂散光、雾度、平板显示器特性等专业应用检测仪器 7) 用于光谱测量设备的全球最高漫反射率反射材料www.labsphere.comwww.labsphere.com.cn
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  • 400-860-5168转4877
    广州玉科仪器有限公司成立于2015年,位于广州市白云区。我们拥有多年光谱快速检测经验,为手机屏幕检测、光色电测量、物理光电、功能材料、化学化工、环境科学、食品科学、生物医药等领域提供最优的测量方案,尤其在手机3D玻璃盖板小孔透过率测试、膜厚度、镜面反射率等领域获得了丰富的案例经验。目前公司主要产品有透过率测试仪、显微透过率测试仪及反射率测试仪,透反射测量系统,吸光度测量系统,拉曼测量系统等光谱光学测量仪器。广州玉科仪器有限公司具有强大的研发设计能力,自成立以来不断探索创新,以客户需求和行业应用为导向,专注于光谱仪器和系统开发,为用户提供了品质卓越的产品以及综合的解决方案和服务。在产品方面,我们已经拥有了IR孔透过率测量、压力气体的拉曼原位分析一整套的解决方案并已经申请产品专利。公司已在各大科院院所和企业用户单位获得一致好评。未来的发展道路上,玉科将继续秉持“创新、合作、共赢”的经营理念,依托强大的技术研发实力,不断推陈出新,以持续的创新科技提升客户价值,分享时代创新形势下的发展红利。
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  • 上海楚光仪器技术有限公司是美国Gamma Scientific,德国Opsira的总代理,其公司主要的产品有AR/VR近眼显示测量仪器、多角度光谱照度计、光谱成像亮度色度计以及照明及材料光学的测量检测仪器、逆反射测试仪器等。
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反射仪相关的仪器

  • 2.介质膜反射镜A.介质膜激光反射镜:1)OML系列介质膜激光反射镜 命名规则:OML直径-波长-厚度OML系列激光反射镜选型表:型号名称面精度直径(mm)厚度(mm)入射角( ° )OML25.4-355-6.35355nm反射镜&lambda /10&phi =25.4T=6.3545OML20-441-4441nm反射镜&lambda /4&phi =20T=445OML25-441-4441nm反射镜&lambda /4&phi =25T=445OML25.4-441-4441nm反射镜&lambda /4&phi =25.4T=445OML30-441-5441nm反射镜&lambda /4&phi =30T=545OML50-441-5441nm反射镜&lambda /4&phi =50T=545OML20-488-4488nm反射镜&lambda /4&phi =20T=445OML25-488-4488nm反射镜&lambda /4&phi =25T=445OML25.4-488-4488nm反射镜&lambda /4&phi =25.4T=445OML30-488-5488nm反射镜&lambda /4&phi =30T=545OML50-488-5488nm反射镜&lambda /4&phi =50T=545OML20-532-4532nm反射镜&lambda /4&phi =20T=445OML25-532-4532nm反射镜&lambda /4&phi =25T=445OML25.4-532-4532nm反射镜&lambda /4&phi =25.4T=445OML30-532-5532nm反射镜&lambda /4&phi =30T=545OML50-532-5532nm反射镜&lambda /4&phi =50T=545OML20-633-4632.8nm反射镜&lambda /4&phi =20T=4452)紫外(深紫外)介质膜激光反射镜(进口)说明: 1.激光介质膜反射镜是一种在面精度为&lambda /10 的BK7 基板上,顺序镀上不同折射率的多层电介质膜的全反射镜。 2.此种膜层比Al+ 氟化镁(MgF2)膜更耐强激光,面精度是镀膜前的反射面的面精度。 3.入射角度为45° ± 3° ,平行度&le 3&prime 。 曲线图:TFM系列紫外(含深紫外)激光波长介质膜反射镜(SIGMA)选型表:
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  • 反射率反射率仪SSR-ER 400-860-5168转2592
    SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量,材料样品最小厚度可至6.4mm,太阳反射比和吸收比精确到0.001,重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源,测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供,标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定,仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下,仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟,钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值,灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储,计算太阳反射比并显示在LCD上,然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。
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  • 来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗)Apollo(阿波罗)是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器,被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户:英国国家美术馆,荷兰国立博物馆,美国大都会博物馆,古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆,日耳曼国家博物馆,美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术:“一种非破坏性的无损检测技术,它利用红外线穿透研究对象表层(颜料或漆层),对表层下面的详细纹理细节进行成像,从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测,通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化,是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上,Apollo(阿波罗)使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量,高对比度,分辨率达到5100×5100的红外反射图像,其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画,唐卡作品,图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿,素描草图和笔迹变化(经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现),识别后期修复及补色的微观变化,并且当使用我们提供的滤光片套装时,可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像,Apollo(阿波罗)是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于:1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片,分辨率5100×5100,传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统,提供柱状图分析,可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器,可进行大画幅作品的扫描,提供成像预览,节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面,拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统,减少了成像噪音,提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式,方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能,解决研究人员后期图像处理的困扰,非常实用。8. 体积紧凑,方便携带,可装入航空旅行箱。
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反射仪相关的资讯

  • 如何测量绝对反射与相对反射?
    1. 前言光照射到物体上,由于物体的表面不同,通常会发生两种反射,镜面反射和漫反射,如图所示。图1 光在物体表面的反射示意图对于玻璃、镀膜基板、滤光片等表面光滑的零部件,镜面反射率是评价其光学特性的重要参数,测定反射率最常用的仪器是紫外可见近红外分光光度计。日立紫外产品线丰富,波长测试范围涵盖紫外可见区域到近红外区域,可以满足样品不同波长下的测量需求。2. 应用数据镜面反射根据测量方式的不同,分为相对反射率和绝对反射率。客户需要根据样品特征,选择不同的测量方式。日立具有5°到75°固定入射光角度的镜面反射附件,适用于多种样品的镜面反射测量。图2 绝对反射测量图3 相对反射测量绝对反射率通常使用V-N法进行测量,直接获得样品的反射特性,应用广泛。但是对于低反射率的样品,使用相对反射测量,可以有效扩大动态范围。 2.1 石英基板的相对反射率测量 • 测量附件图4 5o 相对反射附件• 测量结果 使用紫外可见分光光度计U-3900 的5o相对反射附件,以BK7玻璃为参考标准品测定石英基板的相对反射光谱。结果表明石英基板的相对反射率约为80%。 图5 石英基板的相对反射率通过日立U-3900的选配程序包,使用相对反射率得到转换后的绝对反射率,如下图所示。如果直接测定石英基板的绝对反射率,光谱易受噪声影响。图6 石英基板转换后的绝对反射率2.2 铝平面镜和金平面镜的绝对反射率金平面镜表面涂有金膜,该金膜在红外区域具有高反射率。铝平面镜是表面涂有铝膜,在可见光区到近红外区有较高的反射率和较小的角度依赖性。两者常作为相对反射测量时的标准面。• 测量附件图7 5 o绝对反射附件• 测量结果 使用紫外可见近红外分光光度计UH4150的5°绝对反射附件分析了金平面镜和铝平面镜的绝对反射率。 图8 金平面镜和铝平面镜的绝对反射率 结果表明,在可见光区域,铝平面镜的反射率超过80%。金平面镜的反射率在可见光区域较低,但其在近红外区域的反射率较高。因此在测量样品的相对反射率时,如果需要关注近红外区域,可以使用在近红外区具有高反射率的金平面镜作为标准面。 3. 结论样品的镜面反射率有两种测量方式,相对反射率和绝对反射率。对于低反射性样品,使用相对反射附件测量其相对反射率,可以获得信噪比良好的光谱,如玻璃基板上薄膜的反射率。对于通常的样品,可以直接使用绝对反射附件测量其绝对反射率。日立提供多种镜面反射测量附件,还可根据客户需求量身定制,满足各种样品的镜面反射率测量。
  • 反射高能电子衍射仪
    反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时 监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑 点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中 监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。   R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以 及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。 特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转 ◆带有安全闭锁装置 ◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩 ◆拥有高亮度衍射斑点 ◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率 ◆经久耐用,稳定可靠 ◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技 术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。 特长 ◆大幅度减少电子束对样品的损伤 (相当于普通RHEED的1/500-1/2800) ◆带有安全闭锁装置 ◆搭载高亮度微通道板荧光屏 ◆可搭载差动抽气系统 ◆kSA400 RHEED分析系统兼容 ◆符合欧盟RoHS指令
  • 如何精确测定LED灯反射板的反射率?
    前言LED灯具有长寿命、安全可靠、节能环保等优点,在家用照明设备、显示屏、公共设施场所以及景观装饰等方面应用广泛,如汽车上的照明设备、景区内各种图案的装饰灯。LED灯通常由光源、外壳组成,光源装有反射板可以有效利用光源的能量,因此反射板的反射率会直接决定LED灯的光利用效率。而评价反射板的反射率,常用的检测仪器是紫外分光光度计。检测实例我们选取了生活中常见的一种LED灯,拆开发现反射板的四周是弧形表面,为获得准确的反射率,要对中间的平整表面进行测定,如图中红色圆圈标注的位置。但这个位置的直经只有5mm,如此小的测量位点,要使仪器光源的光斑中心完全照射到测定位置非常困难。图1 LED灯的反射板为了解决这类微小样品的测定难题,日立特别研发了微小样品全反射/漫反射测量系统定制附件,确保光源的光斑中心完全照射到测定位置。而且日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计的样品仓空间足够大,可以轻松安装这个附件。 测定时使用铝制平面镜作为标准参考,利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝 对值,得到的反射板的全反射光谱如图所示。图2 LED灯反射板的反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%,可以有效利用LED灯光源的光通量,提高照明效率。 想获取更多信息,请拨打电话:400-630-5821。

反射仪相关的方案

反射仪相关的资料

反射仪相关的试剂

反射仪相关的论坛

  • 路面太阳辐射反射系数检测仪

    路面太阳辐射反射系数检测仪

    路面太阳辐射反射系数检测仪太阳辐射反射系数检测仪是在水平表面上从2π球面度立体角中接收到的太阳直接辐射和太阳散射辐射之和(短波),即太阳直接辐射的垂直分量和水平面上接受到的散射辐射总量,业务上通常用太阳辐射反射系数检测仪来进行观测。根据安装状态不同,太阳辐射反射系数检测仪可分别测量太阳总辐射、反射辐射,或借助遮光装置测量散射辐射。对于太阳辐射反射系数检测仪传感器的选择主要有以下三点:一、能否达到既定的太阳辐射测量精度要求;二、在满足测量精度的情况下,太阳辐射反射系数检测仪尽量使用低功耗的传感器,这是由于系统的设计电源是采用电池供电;三、太阳辐射反射系数检测仪传感器要能满足被测介质和使用环境的特殊要求,例如在高温、低温下的工作情况以及防腐等。[img=太阳辐射反射系数检测仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210170914044180_4640_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]用于测量太阳和天空辐射,适应很宽的波长范围。太阳辐射反射系数检测仪为可以借助不同牌号的有色光学玻璃制作的半球形外进行不同宽波段太阳辐射的测量。太阳辐射反射系数检测仪由一个组合热电堆电路组成,可以很好的抵抗机械震动和打击。太阳辐射反射系数检测仪的接收器上有一层黑漆,底部为一个半球形玻璃项罩。玻璃半球使用的是测量用玻璃,其对于0.305pm-2.8pm的波长具有非常好的透光性,而且能量传输非常的均一。太阳辐射反射系数检测仪根据黑色涂料吸收太阳辐射产生热效应的温升值来确定辐射强度。温升值采用热电堆测得。[img=太阳辐射反射系数检测仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210170914391157_1723_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]

  • 【求助】光泽仪和反射仪有什么不同?

    请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100,带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100,光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零,也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解:反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪?如果能这样理解,且不是反射仪可以用光泽仪来替代?学得很肤浅,请大家不吝赐教!

  • 反射吸收法

    用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面,其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是,只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

反射仪相关的耗材

  • 衰减全反射和漫反射附件
    IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件,可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中,通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住,该附件即随时可用,无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体,半流体,和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点,它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好,从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳,挥发物品盖,清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声,通量和污染情况的检查,当附件插入时或得到指令时,系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法,样品位置都能被自动优化 Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架,2个大容量样品杯和2个微量样品杯,25个金属镀层研磨垫,25个金属镀层带支架的研磨杵,和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理,能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,HATR附件及其序列号就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体,光路都能够被自动优化 Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436
  • 衰减全反射和漫反射附件
    IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件,可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中,通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住,该附件即随时可用,无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体,半流体,和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点,它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好,从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳,挥发物品盖,清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声,通量和污染情况的检查,当附件插入时或得到指令时,系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法,样品位置都能被自动优化 Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架,2个大容量样品杯和2个微量样品杯,25个金属镀层研磨垫,25个金属镀层带支架的研磨杵,和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理,能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,HATR附件及其序列号就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体,光路都能够被自动优化 Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436
  • 衰减全反射和漫反射附件
    IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件,可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中,通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住,该附件即随时可用,无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体,半流体,和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点,它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好,从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳,挥发物品盖,清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声,通量和污染情况的检查,当附件插入时或得到指令时,系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法,样品位置都能被自动优化 Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架,2个大容量样品杯和2个微量样品杯,25个金属镀层研磨垫,25个金属镀层带支架的研磨杵,和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理,能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,HATR附件及其序列号就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体,光路都能够被自动优化 Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436
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