酮高效分析

7月23日-24日，第二十四届高校分析测试中心研究会年会在内蒙古包头市成功举办，来自全国95所高校的分析测试中心负责人、技术主管及设备管理人员齐聚内蒙古包头，共同探讨新时代下分析测试技术及科研设备开放共享模式的发展。本次年会由高校分析测试中心研究会主办，内蒙古科技大学分析测试中心承办。欧波同（中国）有限公司应邀参加会议，和与会专家一起围绕热点技术进展、综合解决方案、实验室检测系统等主题进行了深度交流。图1：第二十四届高校分析测试中心研究会年会会场在技术交流环节，欧波同产品经理赵颉向大家介绍了《欧波同显微分析系统解决方案》。欧波同拥有完善的显微分析全品类产品及相关解决方案。在微米级别，欧波同拥有体式、金相、偏光、共聚焦、3D数码等光镜系列产品，在纳米级别，拥有ZEISS钨灯丝扫描电镜及场发射扫描电镜、COXEM台式电镜等电镜产品。在行业解决方案业务板块，我们还推出了全自动夹杂物分析系统、全自动矿物分析系统等相关产品及技术服务。可广泛适用于材料、冶金、医药、航空、石化、地质等多个领域，为高校、科研院所和企业提供全面而专业的产品及相关解决方案。图2：欧波同（中国）有限公司产品经理赵颉作技术报告《欧波同显微分析系统解决方案》图4：欧波同展台前，多位专家前来交流本次会议主题为“新时代下分析测试中心的发展”，重点研究新时代高校分析测试中心迎来的机遇与挑战。欧波同作为国内领先的实验室系统解决方案服务商，一直以来与各地高校分析测试中心有着紧密的合作，在科技人才培养、实验室建设等方面发挥着积极的作用。图5：合影留念

2017年11月24日，由中国体视学学会金相与显微分析分会主办的第二届全国失效分析大奖赛在浙江工业大学拉开帷幕，来自全国高校的37支队伍在西子湖畔展开角逐，欧波同（中国）有限公司作为特约赞助商再次出席了本次大赛开闭幕式。 继2016年成功举办“第一届全国失效分析大奖赛（学生组）”之后，在众多师生的期待中第二届全国失效分析大赛在经过精心筹备之后再次启幕。与上一届比赛相比，本届参赛内容更加丰富，出现了如新能源汽车、潜艇制造等多领域的失效风险研究。本届大赛的宗旨为，借助失效案例的分析，提高材料学相关专业学生科研水平；增强学生综合运用材料学相关理论及工程知识解决实际问题的能力。 24日上午，欧波同有限公司副总经理于小涛先生出席了大赛并致辞，于总提到，欧波同作为实验室系统解决方案服务商及蔡司光学显微镜及电子显微镜在中国地区最重要的战略合作伙伴，一直秉持着科技为先的理念，与国内各大高校保持着密切的合作与联系，并期望在为广大高校用户提供高质量科研仪器设备的同时，不断完善服务水平，发挥欧波同技术优势，为广大院校的科研及教学提供优质的技术服务及解决方案。 在为期三天的比赛中，选手们竭尽全力，发挥了各自的最佳水平。最终，大赛各组分别决出特等奖1名，一等奖5名、二、三等奖若干名，欧波同（中国）有限公司总经理皮晓宇先生出席了大赛闭幕式并为获得特等奖的师生颁奖。 在提倡科技创新的今天，欧波同将一如既往传递科技力量，与各大高校材料相关学科进行深入合作，相互扶持，共同成长，为我国从工业大国向质量强国的转变提供设备支撑与技术支持！

第二十六届高校分析测试中心研究会年会暨第二届中国分析测试协会高校分析测试分会年会于2022年8月19日-21日在江苏镇江圆满举办，会议由江苏大学分析测试中心、江苏大学化学化工学院、大连科学邦信息技术有限公司承办，江苏省分析测试协会协办。会议分为5个分论坛，邀请超300位专家学者，采用线上线下同步直播的方式，围绕高校分析测试平台发展与标准化体系建设的机遇和挑战，前沿科学研究与技术创新发展等相关热点问题，组织专题报告、开展研讨交流。会议首先由中国分析测试协会高校分析测试分会主任委员/清华大学教授李景虹院士，江苏大学校长颜晓红致开幕辞，颜校长对参会嘉宾的莅临表示诚挚欢迎，并预祝本次大会圆满成功。随后，会议进入到大会报告环节，李景虹院士、中国分析测试协会理事长/中国环境化学与生态毒理学国家重点实验室江桂斌院士、中国钢研科技集团有限公司王海舟院士、国家市场监督管理总局认可与检验检测监管司一级巡视员乔东、教育部高等学校科学研究发展中心处长曾艳、江苏大学分析测试中心主任李艳肖分别带来精彩的报告。江苏大学校长 颜晓红致词《高校分析测试分会工作报告》中国分析测试协会高校分析测试分会主任委员/清华大学教授 李景虹院士《新污染物治理——从基础研究到国家战略》中国分析测试协会理事长/中国环境化学与生态毒理学国家重点实验室江桂斌院士《标准化——高质量发展的重要引擎》中国钢研科技集团有限公司 王海舟院士岛津企业管理（中国）有限公司（以下简称“岛津”）积极参与并支持了本次大会，在首日的分会场报告中，分析计测市场部XPS首席技术专家龚沿东先生为与会代表带来了题为《表面分析- X射线光电子能谱(XPS)-从超薄到超厚》的报告，介绍了XPS分析的基本原理及岛津/Kratos的光电子能谱仪的特色硬件，给出了从表面的超薄层(~1nm)到超厚层(~20微米)的元素及其化学状态的深度分布的分析方法。利用角分辨XPS分析技术并配合最大熵表面深度信息重构软件，可以将XPS的信息深度从常规的法向检测10nm减小至1nm左右；使用岛津/Kratos的单色高能Ag阳极，可以将XPS的信息深度从普通常规单色Al阳极的10nm延展到20nm左右；结合岛津/Kratos最高能量20keV的Ar团簇离子枪，可以实现超厚膜层结构的高速深度剖析。与会专家对岛津的报告给予了高度评价。《表面分析- X射线光电子能谱(XPS)-从超薄到超厚》岛津企业管理（中国）有限公司 龚沿东先生发表会议期间，许多参会专家莅临岛津展位，翻阅和下载电子应用资料，同时与岛津工作人员就合作项目、技术难点等进行了沟通交流。岛津企业管理（中国）有限公司 展台本文内容非商业广告，仅供专业人士参考。