物理测厚仪

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物理测厚仪相关的厂商

  • 工业物理 金牌6年
    400-860-5168转4273
    工业物理(Industrial Physics)是专业的测试、测量及检测设备制造商。产品主要用于测量和分析材料的物理性能,广泛应用于食品饮料、制药与医疗设备、电子产品、汽车、航空航天、纸张与包装、塑料与聚合物、建筑与土木工程、油漆与涂料、粘合剂、薄膜及软包装等多个行业领域。我们的品牌在超过75个国家设有销售网点,帮助客户达到监管机构、消费者和制造商要求的不断提高的测试和质量标准,帮助世界各地的公司保护其品牌完整性。工业物理中国成立于2015年,整合了希仕代仪器贸易(上海)有限公司、广州坤科精密仪器有限公司 及 采延贸易(上海)有限公司,为工业物理在大中华地区的全资子公司,负责工业物理旗下所有品牌在大中国区的业务。工业物理中国位于上海市浦东新区盛荣路88弄1号楼803室,设有会客厅及专业测试设备实验室,欢迎您随时到访参观交流。
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  • 上海仪电物光简介 上海仪电物理光学仪器有限公司(简称:上海仪电物光)系“上海仪电科仪”旗下股份制重点骨干企业,其前身为“上海精密科学仪器有限公司物理光学仪器厂”。 公司始建于1951年,至今已有七十余年悠久历史。已发展成为集研发、制造、应用服务、整体解决方案为一体的专业物理光学仪器系统集成供应商与制造基地。 公司一贯专注于新产品开发和研制,并积累了丰富经验,始终保持与国际新技术接轨同步,自主研发了全自动多波长高速旋光仪、全自动恒温阿贝折射仪、目视自动两用熔点仪和自动密度仪等众多具有国内领先、国际先进水平的产品。 公司现拥有旋光仪、熔点仪、折射仪、密度仪、雾度仪、色度仪、激光粒度分析仪、浊度仪、应力仪、锥入度仪、振动筛等11大系列百余种型号规格的专业物理光学仪器产品。在制药、药检、高校、制糖、质检、食品、化工、计量、轻工、纺织、建材等行业享有较高的品牌认知度、市场占有率,深受广大用户欢迎,产品远销东南亚、中东、欧美等地区。 上海仪电物光将进一步以市场为导向,继续秉承“快速、灵活、有效、一致、共享”的经营理念,运用科学技术,不断开发创新,一如既往为广大用户提供优质产品和优质服务。
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  • 国家机床产品质量检验检测中心(四川)挂靠中国工程物理研究院机械制造工艺研究所,中心下设高精度转台研发团队。团队致力服务于需要最高运动控制精度的领域,为这些领域提供微米、纳米级定位精度的核心部件。以顾客需求为导向,倾听客户严苛的应用需求,为客户提供最高精度运动控制系统的定制化解决方案。本中心针对不同用户需求,提供多款高精度转台:压电马达转台、气浮转台、机械转台、二维转台、速率转台等。转台内置无框力矩电机,有更好的驱动力和工作效率。所有转台均为自主研发,具有国际领先的精度水平。项目团队研制出的ZT320型高精度转台,测量不确定度优于0.05″,成功应用于我国最高法定计量机构——中国计量科学研究院,现已成为国家线角度计量基准。我们的应用领域包括光栅制造、角度编码器检测、半导体、测量检测、科研、国防等,各类转台均可以根据用户需求定制。
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物理测厚仪相关的仪器

  • 手提式橡胶测厚仪、电线电缆测厚仪、便携式测厚仪厂家直销 本仪器适用于测量硫化胶和塑料制品的厚度。本仪器符合GB527《硫化橡胶物理试验方法的一般要求》、GB5723《硫化橡胶试验用少的试片和制品尺寸测量的一般规定》及HG2041《橡胶测厚计技术条件》中有关规定。WHS-10A型手提橡塑测厚仪,可随身携带,手持测量,适用于车间现场测定。 TF-4030型手提橡塑测厚计可随身携带,手持测量,适用于车间现场测定。 1、测量范围:0-10mm;分度值0.01mm2、上测足直径:6±0.05mm3、施加压力:22±5Kpa4、所需质量:63±7g5、配用砝码:43g 3.1测试前先对准表的零位,并拨动操纵杆试几次回零后,再进行测试,操作时要轻提轻放,以免损坏平台,测足及仪表。3.2用手指按下操纵杆,使测头上抬,将被测物置于工作台、测足之间,轻放操纵杆,此时表的读数,即被测物厚度。3.3测厚计使用完毕后,装入仪器盒内并置于干燥处,防止受潮。3.4本仪器不能卧式测量。
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  • 电子测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 测试原理:测厚仪采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围:测厚仪CHY-50U适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um,广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。技术特征:●彩色大液晶显示测试结果,及每次测量值、统计值;●测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机,快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值;●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小;●测试软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户;●配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输;●系统程序具备ISP在线升级功能,可提供个性化服务。 设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张)分辨率0.1um接触面积50mm² (薄膜),200mm² (纸张) 注:纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸454mmx352mmX500mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准:GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998 瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011 纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011 瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999 固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996(2007) 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997 硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994 农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994 包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989 纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817 瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定
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  • 测厚仪 400-860-5168转3024
    概述本测厚仪符合GB527《硫化橡胶物理试验方法的一般要求》、GB5723《硫化橡胶试验用试片和制品尺寸测量的一般规定》及HG2041《橡胶测厚计技术条件》中有关规定。手提橡塑测厚仪,可随身携带,手持测量,适用于车间现场测定。 技术参数测量范围:0-10mm分度值:0.01mm上测足直径:6±0.05mm 施加压力: 22±5Kpa净重:2kg 其他相关产品:切片机BG-1610阿克隆耐磨仪BG-8205无转子硫化仪BG-8105橡胶刨片机XJPP-8015氧指数仪(数显) JF-3水平垂直燃烧测试仪CZF-5橡胶回弹测试仪XJHT-600 热变形维卡温度仪BWR-300相关柴刀:橡胶裁刀;哑铃裁刀;撕裂裁刀;试验刀具;常用裁刀: 1、3mm×100mm塑料膜、管哑铃裁刀 2、4mm×75mm橡胶线缆哑铃裁刀 3、4mm×50mm橡胶线缆哑铃裁刀 4、5mm×56mm模压、树脂哑铃裁刀 5、6mm×115mm橡胶、塑料哑铃裁刀 6、10mm×120mm塑料薄膜哑铃裁刀 7、10mm×150mm塑料薄膜哑铃裁刀 8、13mm×152mm多孔材料哑铃裁刀 9、直角撕裂裁刀 10、塑钢门窗双V缺口冲击裁刀 11、星月型撕裂裁刀 12、裤形撕裂裁刀矩形,圆形,梯形裁刀,非标尺寸可定制
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物理测厚仪相关的资讯

  • 口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理
    口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理在制药包装行业中,口服液瓶作为药品的主要包装形式之一,其质量直接关系到药品的安全性和有效性。口服液瓶不仅需要具备良好的密封性能,以保持药品的稳定性,还需要有适当的壁厚,以确保在运输和使用过程中的耐用性和安全性。口服液瓶的应用口服液瓶广泛应用于液体药品的包装,包括但不限于口服溶液、糖浆、注射液等。这些瓶子的设计和制造必须符合严格的行业标准和法规要求,以保证药品在储存和使用过程中的质量和安全。壁厚测试的重要性壁厚是口服液瓶质量控制的关键参数之一。过薄的瓶壁可能导致瓶子在运输或使用过程中破裂,影响药品的完整性和安全性。而壁厚不均则可能影响药品的储存稳定性,甚至在极端情况下,可能导致药品泄漏或污染。口服液瓶壁厚测厚仪的作用为了确保口服液瓶的壁厚符合标准,需要使用专业的测厚仪器进行精确测量。口服液瓶壁厚测厚仪是一种专门用于测量口服液瓶壁厚的高精度设备,它能够快速、准确地检测出瓶子的壁厚,帮助制药企业及时发现和解决壁厚问题。容栅传感技术的应用口服液瓶壁厚测厚仪采用先进的容栅传感技术,这是一种机械接触式测量方法,通过测量表头与瓶壁之间的距离来确定壁厚。这种方法提高了测量的准确性和可靠性。测量原理口服液瓶壁厚测厚仪仪的工作原理基于容栅传感器的响应。当测量表头接触到瓶子时,传感器会采集相应的数据。这些数据随后被传输到系统中,通过计算得出瓶壁或瓶底的厚度值。这种测量方式不仅快速,而且可以提供高精度的测量结果。结论口服液瓶壁厚测厚仪是制药包装行业不可或缺的工具。它通过采用容栅传感技术,提供了一种高效、准确的测量方法,帮助企业确保口服液瓶的质量和安全性,从而保障药品的质量和患者用药的安全。本文简要介绍了口服液瓶在制药包装行业中的应用,以及壁厚测试的重要性和测厚仪的作用。通过使用这种高精度的仪器,制药企业可以更好地控制产品质量,确保药品的安全性和有效性。
  • 全自动涂层测厚仪|涂魔师非接触无损测厚仪FLEX新功能介绍网络研讨会
    涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器,采用先进的光热红外法(ATO)对涂层进行非接触测量,实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键,不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量,而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺,因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术,而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度,适合各种涂料类型和颜色(包括白色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势:①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单,方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量,降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连,数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能,帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料,邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。
  • GE检测控制技术推出高性能新型测厚仪
    近日,GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMS Go是一款高端测厚仪,既简单易用,又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能。DMS Go 结构稳健、防水防尘、重量轻,可以被广泛用于厚度检测。并且,由于具有内置温度补偿算法,可以在600°F的高温下仍然保持测量稳定性。十分适用于石油、天然气和电力行业的腐蚀检测。   正如GE的产品经理 Francois de Fromont 所说,“ DMS Go代表了测厚仪器方面的重大进步,因为它不仅具备了我们的DMS2测厚仪所有的高级性能,还具有更强大的数据管理功能,新颖的人性化工程学设计,高性能、操作简单的优势。采用零交点波形测试,以确保较高的测量稳定性和可靠性,其自动获取控制功能确保了极佳的检测概率。这种新型仪器和我们便携式探伤仪USM Go 可以使用相同的操作平台,该平台已经被广泛应用,并得到广大用户认可。事实上,这种设计原理的一大好处是通过一次简单的软件升级,使测厚仪作为便携式探伤仪使用。”   DMS Go的数据记录和数据管理功能通常是由普遍使用的UltraMATE文档编制程序实现的,然而本仪器也可以使用GE软件开发工具包与第三方软件程序相对接。强大的机载数据记录器具有15万的读数容量,可以将A扫描、B扫描和微栅格(MicroGRID)作为厚度读数的附件进行存储。它还支持6种不同的文件格式,便于与用户数据管理和质量控制系统集成。通过高容量的可移动SD卡进行数据传送,使用USB端口与PC连接。通过可选的应用软件,包括TopCOAT技术和A-V测量模式,可以同时测量涂层和金属厚度,无需校准试块即可使用未知声速在部件上测量厚度。   新型测厚仪的软件可升级性,使得它还能用作便携式探伤仪,这给用户带来很重要的便利。现在无损检测人员只需携带一个仪器,用户只需购买一台仪器,就能进行准确、可靠的厚度测量和缺陷检测。这种多功能性也同样适用于USM Go探伤仪,现有用户可以很容易升级他们的设备,将高质量的厚度测量能力加到现有设备上。用户可以在启动仪器的时候选择仪器升级所需的操作方式,这种设计原理另一个优势就是可以显著减少对操作者培训次数。

物理测厚仪相关的方案

物理测厚仪相关的资料

物理测厚仪相关的试剂

物理测厚仪相关的论坛

  • 【转帖】影响测厚仪器测量值的因素与解决方法

    使用测厚仪与使用其他仪器一样,既要掌握仪器性能,也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的,所以,被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性,下面就这方面的问题作一下介绍。  1.边界间距  如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距,由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度,只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准,才能测量。(注:最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3~10%的精度)

  • 覆层测厚仪的分类和应用

    无损检测技术是一门理论上综合性较强,又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。 在化工、电子、电力、金属等行业中,为了实现对各类材料的保护或装饰作用,通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法,这样,便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念,我们称之为“覆层”。 覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的最重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。目前,国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度,覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。 有关覆层无损检测方法,主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面,系有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线反射法可以无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围小。因有放射源,故,使用者必须遵守射线防护规范,一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。 磁性测量法及涡流测量法,随着技术的日益进步,特别是近年来引入微处理机技术后,测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm,精度可达到1%。又有适用范围广,量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用最广泛的仪器。 采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几种常规测厚的方法。磁性测量原理一、磁吸力原理测厚仪 利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形,所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢,拉簧,标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后,有一个弹簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大,当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲,依不同的型号又不同的量程与适应场合。在一个约350º角度内可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆层厚度,精度可达5%以上,能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准,价格也较低,很适合车间作现场质量控制。二、磁感应原理测厚仪 磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。由于是电子仪器,校准容易,可以实多种功能,扩大量程,提高精度,由于测试条件可降低许多,故比磁吸力式应用领域更广。 当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示,精度和重复性都不好,后来发展了数字显示式,电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关,稳频等最新技术,多种获专利的产品相继问世,精度有了很大的提高,达到1%,分辨率达到0.1µm,磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯,线圈电流的频率不高,以降低涡流效应的影响,测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化,可以辨识不同的测头,配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。一台仪器能配合多种测头,也可以用同一台仪器。可以说,适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。 利用电磁原理研制的测厚仪,原则上适用所有非导磁覆层测量,一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的,则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业,利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。三、电涡流原理测厚仪 电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。利用高频交流电在作为探头的线圈中产生一个电磁场,将探头靠近导电的金属体时,就在金属材料中形成涡流,且随与金属体的距离减小而增大,该涡流会影响探头线圈的磁通,故此反馈作用量是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值,因为该测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度,所以通常我们称该测头为非磁性测头。非磁性测头一般采用高频高导磁材料做线圈铁芯,常用铂镍合金及其它新材料制作。与磁性测量原理比较,他们的电原理基本一样,主要区别是测头不同,测试电流的频率大小不同,信号大小、标度关系不同。在最新的测厚仪中,通过不断改进测头结构,在配合微电脑技术,由自动识别不同测头来调用不同的控制程序,分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件,终于使两种不同类型的的测头接与同一台测厚仪上,降低了用户负担,基于同一思想,可配接达10种侧头的测厚仪极大地扩展了测厚范围(达10万倍以上),可测包括导磁材料表面上的非导磁覆层,导电材料上的非导电覆层及不导电材料上的导电层,基本上满足了工业生产多数行业的需要。 采用电涡流原理的测厚仪,原则上所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其他铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。有些特种用途如某种金属上的金刚石镀层及其它喷镀不导电层。覆层材料也可以有一定的导电性,通过校准同样也可以测量,但要求两者的导电率之比至少相差3~5倍以上(如铜上镀铬)。 校准的原则是没有覆层的校准试样与被测物的基材应有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于仪器规定的最小值约0.5mm以下时),有相同的曲率半径,如被测面积小于仪器技术参数的要求(直径约20mm以下),还应有相同的被测面积。如覆层含有导电成份,校准试样的覆层也应与被测物的覆层有相同的导电性能。校准试样的覆层经过其它(包括有损测试方法)测试后标定厚度或用已标定的校准薄片做覆层,就可以在其上面按说明书的方法校准测厚仪。校准后就可以在被测产品上进行快速无损检测。校准薄片一般用三醋酸酯薄膜或经苯酚树脂浸渍过的硬纸。 微电脑测厚一般有多个校准值存贮。随着被测产品的不同位置、材料变化、更换测头等均可分别校准并存贮。实际使用时直接调用各校准值,就无须重新调校了。这即是所谓“速换基准”。大大提高了检测效率。 测试数据在智能化仪器里一般可以存贮、打印、计算统计数据供分析,还有可以打印直方图的功能使覆层厚度分布一目了然。如设置了上下极限还可以使统计数据更加准确,测量时所有超限的点都有声响提醒注意并不取入做统计计算用。影响测量值的因素与解决方法 使用测厚仪与使用其他仪器一样,既要掌握仪器性能,也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的,所以,被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性,下面就这方面的问题作一下介绍。1. 边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距,由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度,只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准,才能测量。(注:最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3~10%的精度)2. 基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值,然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。3. 基体金属最小厚度基体金属必须有一个给定的最小厚度,使探头的电磁场能完全包容在基体金属中,最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关,在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响,可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断,或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键,便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪,如前所述。4. 表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见,不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不可靠。为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予去除。有的仪表上下限,以剔除那些“飞点”。5. 探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不

  • 高精度测厚仪哪个好

    在选择高精度测厚仪这样大型的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密高精度测厚仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,得到了得到了消费者的大力认可,下面我们就来介绍一下,它好在哪些方面吧:   1、操作简单方便  简单方便的设备仪器不管是谁,都会非常喜欢的。如果设备仪器的操作比较繁琐或是需要专业人员来操作。厂家就会考虑很多方面,一来操作繁琐要对工作人员进行一系列的培训,二来请来的专业人员所需要的成本就会有所上升,利益就会相应减少。高精度测厚仪操作十分简单方便,这是厂家选择他们的其中一个理由。  2、能连接数据进行打印  测厚仪有电脑连接接口,在使用的时候可以购买相关软件,从而实现对测两次数据的储存打印,而且相关的软件还能够对测量数据进行统一,用专业的方式显示出来,从而让我们更加简单的了解测量数据机器所具有的特点。  http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg  3、采用国外进口的优质元件  专业的测厚仪传感器部件通常采用的都是国外进口的优质元件,这些优质传感器元件能够让测厚仪的测厚分辨率比普通测厚仪增加很多,这种仪器对于零点一微米的距离都能精准的测量。然而测厚仪里面的优质传动元件也是确保测厚仪工作稳定性和准确性的重要因素。  激光测厚仪是近年来开发出的高科技实用型设备,是用于热轧生产线上实时在线式连续测量成材厚度的非接触式测量设备。它有效地改善了工作环境,具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等人工测量及其它测量方法无法比拟的优点,并为轧制钢材厚度控制提供了准确的信息,从而提高了生产效率和产品质量,降低了劳动强度。  使用大成精密激光测厚仪以来,具不完全统计,因板厚误差造成的废品率下降了50%以上,创经济效益近千万元,受到各级部门和工作人员的肯定与赞赏。

物理测厚仪相关的耗材

  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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