测量射率仪

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测量射率仪相关的厂商

  • 京易达测量技术有限公司是一家专业致力于核仪器仪表研制生产和提供核辐射测量技术整体解决方案及应用的高新技术企业。公司位于北京顺义马坡聚源工业区。自成立以来,一直以实现核辐射测量仪器仪表国产化和核技术产业化为目标和责任,目前公司已经在核辐射探测、核电子学技术、核辐射监测技术、核技术应用等技术领域拥有了一定的专业积淀。拥有多款具有自主知识产权的产品,广泛应用于环境辐射测量、放射医学测量、核医学测量、核测量技术研究等多个领域。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 佛山市布洛维测量仪器有限公司是专业从事硬度计等测量仪器研发、生产、销售及技术服务于一身的企业。公司自主研发和生产的洛氏、维氏、里氏、布氏硬度计系列产品已广泛应用于全国各地区的金属热处理、金属加工等行业,用于测试不锈钢、马口铁、铝型材、锻件,铸件,焊管,无缝钢管,塑料模具等产品硬度。 公司秉承“专业、专注、诚信、创新“的经营理念,用创新的思维专注于新型硬度计的研发,用诚信的态度服务于客户,通过合作实现自身与客户的共同发展。详情请登陆本公司网站:http://www.techbrv.com。
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测量射率仪相关的仪器

  • SGRM-200反射率测量仪--代理西格玛产品
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  • RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪,采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,实现对材料红外波段(2-22um)发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计,具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪,可广泛应用于各种工业材料发射率的测量,是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理:定向半球反射(DHR),20°±1°入射;&bull 测量波段:2-22um;&bull 重复性:±0.02;&bull 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好;&bull OELD单色屏:一目了然,一键测量,操作简便;&bull 数据记录:最近32条测量记录,方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”,OLED点阵屏,单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录,EEPROM存储,关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃,非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃,非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm(包装箱含电源适配器,标定片等)整体重量 2.5Kg产品外形 注:技术指标作产品介绍使用,仅供参考,以产品随机说明书为准,如有变更,恕不另行通知。
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  • 发射率测量仪 400-860-5168转6159
    1. 测量原理:定向半球反射(DHR) , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段,3-5卩m & 8-12pm3. 重复性:< 0.014. 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好5.彩色触摸屏:汉字界面、触摸操作、一目了然,一键测量,操作简便6.数据存储:Micro SD卡,最大2048条记录,分8组,TXT文件格式,方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪,是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比(DHR)测量原理,完成双波段 (3-5um和8-12um)发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计,集公司多项技术积累,吸收国际先进产品的技术与特点,具有携带方便、 操作简单、等优点,测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等,是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司联系方式:029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射(DHR), 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡(8Gbyte),最大2048条记录,分8组数据下载Data Download下载操作后,2048条记录,分8个TXT文件格式,保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池,18V3AH,持续工作时间>3小时,可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm(测量头)重量Weight2.3Kg(测量头)整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm(包装箱含电池、充电器、标准片等)整体重量Total Weight6.4Kg(包装箱含电池、充电器、标准片等)销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司 联系方式:029-818700902\
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测量射率仪相关的资讯

  • 如何借助折射率测量技术来提高半导体生产质量
    化学机械研磨/抛光 (CMP) 将化学反应和机械研磨结合在一起,是一项成本高昂且具有挑战性的重要纳米抛光工艺。这一工艺是集成电路制造中关键的使能步骤,对产量和工作效率都会产生影响。CMP 简介抛光工艺使用含氧化剂的浆料完成,氧化剂通常为过氧化氢 (H2O2)。在制造过程中,将晶圆和抛光垫紧密地压在一起,同时使二者各自以略微不同的速度逆时针旋转。将浆料铺在抛光垫的中央,然后结合运用机械操作和化学操作,逐步除去晶圆表面的材料,使晶圆表面局部和整体都顺滑平坦。 使用 CMP 浆料前,先在工厂对其进行混合或稀释。氧化物抛光浆料在购买时通常为浓缩状态,使用前在现场加水稀释,以减少运输和人工成本。一些多组分抛光浆料只能随用随混,因为这些浆料在混合后有效期很短。确保正确地混合至关重要,因为混合效果直接关系到化学反应速率和晶圆抛光速率;混合过程中的任何缺陷都会对可制造性和可靠性产生负面影响。尽管制造点 (POM) 的浆料控制很严格,但后续过程(包括运输、处理和过滤)会影响化学特性,因此需要对浆料进行连续监测,直到抵达使用点 (POU) 为止,以确保实现高产量。这样就需要有效、快速、可靠、准确且经济高效的计量工具和方法,因此许多制造厂选择使用折光仪。如何借助折射率测量技术来提高生产质量折射率 (RI) 测量技术是一种不消耗浆料的连续在线测量方法,可帮助制造厂在传递工艺相关的实时信息时迅速识别出浆料成分错误,从而减少存在风险的晶圆数量。CMP 浆料携带纳米颗粒,其固体含量为 1 - 30%(取决于浆料类型),因此对其中的过氧化氢浓度进行分析极具挑战性。但通过对特定浆料的折射率及温度特性进行标定,RI 测量法可以不惧这些困难条件,成功测量出钨浆料中的过氧化氢浓度并将误差控制在 ±0.03%(重量)以内。此外,与电导率探头测试不同,RI 测量可以监测 H2O2 浆料浓度,该指标可以反映浆料随时间的沉降和降解情况。因此,RI 不仅用于检验产品的质量,也用于监测进厂原始浆料各批次之间的变化,并验证混合 - 添加步骤。部分浆料输送系统拥有一项引人注目的功能,那就是日用槽自动化学品加料功能。维萨拉半导体行业用折光仪的优点维萨拉半导体行业用折光仪为半导体制造环境设计。该仪器尺寸小且不含金属,因此适合在不影响工艺的情况下测量化学物质。维萨拉半导体行业用折光仪适合 CMP 操作,因为:测量数字化,并且不会产生偏差集成了温度测量组件,可确保高精度的 RI 测量可进行直接密度测量设计坚固可靠,可承受过程中的振动,减少测量误差通过内置诊断程序,可即时了解工艺条件拥有流通池(旨在减少甚至消除结垢现象)参考文献多年来, DFS公司一直在 CMP 操作中使用维萨拉半导体行业用折光仪,长期的成功运作证明该设备可靠且准确。“随着工艺节点越来越多地采用 CMP 步骤,我们必须确保输送到抛光工具的浆料的化学特性以及机械特性保持稳定一致,”DFS公司化学技术研发总监Karl Urquhart 解释道,“在线 RI 监测可以评估进料的化学成分,检验混合添加步骤的质量,并且可以通过一次不消耗浆料的实时测量来验证 CMP 浆料是否混合均匀。”针对 CMP 浆料的 H2O2 测量装置于 2013 年在一家大型半导体制造厂中完成安装,用于取代自动滴定法。安装后,该测量设备稳定运行,并且除了正常的冲洗混浆池外,无需进行仪器维护。通常,在安装维萨拉半导体行业用折光仪后,制造厂的晶圆产量可提升约 20%。此外,CMP 浆料受到严格控制,能够提高研磨过程的均匀性。❖ 维萨拉半导体行业用折光仪 PR-33-S适用于半导体液态化学品测量该折光仪外形紧凑,流通池采用改良超纯 PTFE 制成,适用于半导体液态化学品测量。可通过 ¼ 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或扩口 Flare 连接。维萨拉半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于晶圆洁净室里的化学品浓度监测,通常被安装在混合、清洗、蚀刻和 (CMP) 等机台上。PR-33-S 包含一个超纯改性 PTFE 流通池主体和一根以太网线,不同标准的以太网供电 (PoE) 开关均可通过以太网线向传感器供电,并将数据传输给计算机。PR-33-S 实时监测化学品浓度,当化学品浓度超出规定范围时,立即通过以太网反馈报警。例如,可通过配置低浓度和高浓度警报来控制和延长溶液使用寿命。这里的浓度通过对溶液折射率 nD 和温度测量来确定。PR-33-S 直接通过喇叭形或pillar配件进行安装。PR-33-S 结构紧凑,不含金属,体积小。关键要素:• N.I.S.T. 标准下的可追溯校准及验证,采用标准折射率液体和验证程序进行验证。• 光学核心设计。 • 通过以太网进行数据记录和远程界面操作。• 标准 UDP/IP 通信。• 过程温度范围:-20°C – 85°C (-4°F – 185°F)。• 内置 Pt1000 快速温度测量及自动温度补偿 。
  • 700万!宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目
    一、采购项目名称:宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目二、项目编号:CBNB-20221203三、公告期限:2022年5月31日至2022年6月8日止四、采购组织类型:分散采购委托代理五、采购方式:公开招标六、招标项目概况(货物名称、数量、简要技术要求、采购预算/最高限价):品目号货物名称数量简要规格描述采购预算/最高限价一红外折射率测量仪1台用于测量光学材料的折射率特性,具体详见招标文件450万元二中波红外干涉仪1台用于红外玻璃均匀性检测,球面、非球面以及自由曲面等面型透镜加工精度检测,具体详见招标文件250万元
  • 百特激光粒度仪折射率测量技术在Pittcon2017上获瞩目
    正在美国芝加哥举行的Pittcon2017展览会上,丹东百特展出的最新激光粒度仪——Bettersize3000Plus,引起美国、意大利等国客户的兴趣,当他们看到这种仪器独特的测量粉体材料折射率功能时,更是大加赞赏,称这将解决困扰他们多年的难题。 折射率是激光粒度测试的必备参数,但有一些新的合成材料,其初始形态就是粉体,无法测量也无法查到它的折射率,给激光粒度测试出了一道难题。百特Bettersize3000Plus激光粒度仪通过对颗粒消光和散射光的精确测量,并运用最小二乘数值处理技术实现了粉体材料折射率的快速准确测量,使新的合成材料粒度测试的准确性有了充分的保障。 百特通过Pittcon2017向世界展示了中国首创的新技术,新技术将通过Pittcon2017走向世界。

测量射率仪相关的方案

  • 反射率测量
    反射和透射一样是物品的基本光学特性,也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱测量数据,反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率,测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。
  • 用绝对反射率测量法评价抗反射膜
    在本应用说明中,自动绝对反射率测量附件用于测量反射率小于0.1%的可见光和近红外区域的薄膜样品。关键词:V-770/780,UV可见/NIR,ARMN-920/920i自动绝对反射率测量附件,材料,薄膜
  • 采用保护热板法导热系数测定仪测量材料半球向全发射率
    介绍了稳态保护热板法导热系数测试仪器用于材料半球向全发射率测试的原理和方法,并介绍了英国国家物理实验室采用真空型保护热板法导热系数测试设备对有机玻璃、带涂层玻璃和反射隔热产品的半球向全发射率进行的测量工作,测量结果与光谱法测量结果进行了对比,证明保护热板法测试材料半球向全发射率的测量精度能够满足大多数建筑材料的使用要求,是一种比热箱法更快捷测试费用低的替换和补充方法。

测量射率仪相关的资料

测量射率仪相关的试剂

测量射率仪相关的论坛

  • 折射率是用什么仪器测量的

    使用折光仪测量。折光仪即是将光的折射原理应用于实际的一种测量仪器,即当某种物质的密度增加时,其折射率的增大与之成正比。折光仪是在20世纪早期由德澳科学家Ernst Abbe先生首先制造出来的。折射率的测量通常采用两类测量系统:透射系统或反射系统。

  • 紫外可见光谱仪测量反射率

    请问下 用紫外可见光谱仪测试的时候,为什么加个积分球就可以用来测反射率?测量固体或胶体样品的时候,样品池里面是不是自带的那个就是积分球?可以给我说一下测量反射率的原理吗? 非常感谢

  • 关于红外发反射率的测量

    经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图:红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R,1=R+T+A。理论计算R=(1-n)^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗?是反射角为多少的时候测量的?垂直入射的时候吗?看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题,反射光谱是怎么测量的,测得的数据就是反射率吗?补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

测量射率仪相关的耗材

  • R3系列反射光谱率测量系统
    R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段,实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器,可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源,具备高灵活性和强实用性。  更多优惠信息: http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3应用案例典型光谱测量系统示意图产品特点1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。2、方便用户标准化测试方案,优化实验方案3、通过固定光纤,探头,光源和光谱仪减少用户占用资源。更多信息访问:http://www.ideaoptics.com/.clear{ clear:both } .right{ width:717px } .shang{ margin-bottom:20px font-size:12px } .shang tr td{ padding:10px 0px line-height:24px } a:link { text-decoration: none } a:visited { text-decoration: none } a:hover { text-decoration: none } a:active { text-decoration: none } #nav li{ font-size:12px } /*New Nav Style*/ #nav_wrap { width:710px margin:20px auto } #nav{ background:url(images/nav_bg.gif) repeat-x height:39px position:relative width:710px margin:0px auto } #nav .l{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px 0px width:2px float:left} #nav .r{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -4px 0px width:2px float:right} #nav .bt_qnav { float:right } #nav .bt_qnav a{ width:31px line-height:39px display:block padding:9px 2px 0 0 } #nav .c{ float:left margin:0 padding:0} #nav li { float:left list-style:none } #nav li .v a{ width:100px line-height:33px text-align:center display:block color:#FFF background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -87px 6px font-family:"Microsoft Yahei" } #nav li .v a:hover,#nav li .v .sele{background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px -52px color:#116406 line-height:42px font-size:14px} #nav .kind_menu { line-height:24px top:39px position:absolute color:#656565 border:1px solid #cccccc width:708px left:0px font-size:12px } #nav .kind_menu tr td { padding:0px 10px font-size:12px } #nav .kind_menu table{color:#656565 margin:20px auto display:block font-family:"宋体" left:0px } #nav .kind_menu span { font-size:10px color:#cecece line-height:30px *line-height:26px float:left } #tmenu{ margin:20px } .bt{ color:#0099FF font-size:14px font-weight:bold } .yi,.er,.san,.si,.wu,.liu{ background-color:#e9f4fe padding:0px 10px height:80px margin-bottom:15px line-height:20px } .clear{ clear:both } .xbt{ background-color:#ecf6ff padding:5px 10px margin-bottom:15px } .xbt a{font-size:14px font-weight:bold color:#333333 width:80px border-right:1px solid #cccccc text-align:center float:left } .xbt a:hover{color:#0066FF } .cpgs,.xlxh,.yyaj,.cptd,.gjjs,.cpxn{ display:block border-bottom:1px dashed #cccccc font-size:12px font-weight:bold color:#FF6600 padding:10px margin-bottom:10px }
  • 透反射测量支架 如海光电 透/反射光谱
    SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词:反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的,能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度<100mm样品通光口径(透射测量)直径10mm调节高度~150mm(其他长度可以定制)准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球(另外选配)用途 专为透反射光纤测量而设计,能有效固定光纤,防止因抖动等人为因素影响检测效果
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
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