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杂质元素的存在会影响工业硅的物理、化学性能及使用寿命。因此对工业硅中的成分进行分析至关重要。X射线荧光光谱法(XRF)被广泛应用于工业硅成分分析中,用于测定工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒等元素含量。适用于GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》 。
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苏州浪声科学仪器有限公司为您提供《XRF在工业硅成分分析中的应用》,该方案主要用于其他中工业硅检测,参考标准《暂无》,《XRF在工业硅成分分析中的应用》用到的仪器有浪声工业硅测试分析仪。
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