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TXRF受自身原理限制,样品于玻片上必须满足薄层的要求,以消除普遍存在于EDXRF中的基体影响。因此,其样品量明显减少,且前处理方式也有着明显不同。通常,可根据样品形态选择合适的前处理方式,且可能需要考虑如下的几点要求:a. 于样品玻片上形成均匀的薄层;b. 待测元素及内标元素均匀分布;c. 待测元素的富集;d. 待测元素与干扰元素的分离;e. 阻止样品溶液扩散;基于以上因素,TXRF所采用的前处理既继承了部分常见无机元素检测中的方法,又发展出了具有自身特色的前处理方式,如下图:
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利曼中国为您提供《全反射X射线荧光(TXRF)前处理方式的考量》,该方案主要用于环境水(除海水)中元素含量检测,参考标准《暂无》,《全反射X射线荧光(TXRF)前处理方式的考量》用到的仪器有TX 2000 全反射X荧光光谱仪。
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