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全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析方法，特别适用于样品量小的样品，一次分析所需样品量，固体材料可达μg级，液体样品则通常少于100μL。
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TXRF受自身原理限制，样品于玻片上必须满足薄层的要求，以消除普遍存在于EDXRF中的基体影响。因此，其样品量明显减少，且前处理方式也有着明显不同。通常，可根据样品形态选择合适的前处理方式，且可能需要考虑如下的几点要求：a. 于样品玻片上形成均匀的薄层；b. 待测元素及内标元素均匀分布；c. 待测元素的富集；d. 待测元素与干扰元素的分离；e. 阻止样品溶液扩散；基于以上因素，TXRF所采用的前处理既继承了部分常见无机元素检测中的方法，又发展出了具有自身特色的前处理方式，如下图：
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产品配置单
利曼中国为您提供《全反射X射线荧光(TXRF)前处理方式的考量》，该方案主要用于环境水（除海水）中元素含量检测，参考标准《暂无》，《全反射X射线荧光(TXRF)前处理方式的考量》用到的仪器有TX 2000 全反射X荧光光谱仪。
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