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镀膜中厚度检测方案(能散型XRF)

检测样品 其他

检测项目 厚度

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日本电子株式会社(JEOL)

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方案详情文

无损检测，样品可以不被破坏；最多可测量五层，采用JEOL最新FP法软件，无需标样皆可进行测量，是检测和操作都变得非常方便。

智能文字提取功能测试中

iSiipirAtion【Thin Film·Plating】 InSpirAtion： XRF-14-008e-01Instrument：JSX-1000S Key Word：Thin Film， Plating， Thin Film FP Method Film Thickness by Thin Film FP Method●Introduction Surface treatments such as plating are applied to parts to impart corrosion resistance， decoration，and functionality. Since the thickness of these films relates to product characteristics， quality， andproduction cost， it is important to control. JEOL's X-ray fluorescence spectrometer can performnon-destructive measurement of film thickness (up to 5 layers). Using our advanced FP method，standards are not required. Thin Film Measurement Examples Au Plating Zn Plating Ag Plating Access the QR codes below for more information on the EDXRF ◆Overview→ 口 ◆Mechanisms→ JEOL http：//www.jeol.co.jp/en

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产品配置单

日本电子株式会社(JEOL)为您提供《镀膜中厚度检测方案(能散型XRF)》，该方案主要用于其他中厚度检测，参考标准《暂无》，《镀膜中厚度检测方案(能散型XRF)》用到的仪器有日本电子 JEOL 能量色散X射线荧光光谱仪 JSX-1000S 。

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