光学样品中正反射光谱、透射光谱检测方案(紫外分光光度计)

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HITACHIInspire the NextTechnical Report UV No.170003紫外分光光度计 自动角度可变附件简介 自动角度可变附件可自动测量入射角在5°~70°范围内的正反射光谱及入射角在0°~70°范围内的透射光谱。 在品质管理和研究开发方向，需要多角度或对多个样品进行测定时，使用自动角度可变附件，可节省积分球(检测器)设置时间，大幅缩短了作业时间。 还可在固定波长下，测定样品的正反射率、漫反射、透射率等。 UH4150紫外分光光度计*1) 通过采用自动角度可变附件，大幅缩短作业时间 UH4150加装自动角度可变附件，可测定样品在任意入射角下的透射、反射光谱。 自动角度可变附件可提前输入入射角度和积分球角度，在指定条件下进行样品的连续测定。 使用自动角度可变附件和手动方式变变两种方式，分别测定电介质多层膜样品在入射角为5~70°时的反射光谱，并对比这两种方式的作业时间。与手动相比，采用自动角度可变附件使得作业时间减少了90%*2)。 ■自动角度可变附件外形和样品安装示意图 图1 自动角度可变附件外形 图2变角测定示意图 测定时间对比 l 附件规格 自动角度可变附件波长范围 ： 240~2600 nm入射角 ：透射 0~70°：反射 5~70°样品尺寸 ： 30×30~130×130mm样品厚度 ：≤10mm *1 若加装自动角度可变附件， UH4150样品仓将变大。 *2) 作业时间为使用仪器测定样品所需的时间。 作业时间因测定项目、测定角度等条件不同而有所差异。 图3 测定时间对比 *2) 通过自动角度可变附件测定透射光谱 在入射角5~70°范围内，测定电介质多层膜基板的反射光谱，反射光谱随着入射角度的变化而变化。 √UH4150标配4条基线通道，所以可以先获取S、P偏振光基线再进行样品测定。因此，无需更换样品，即可测定同一位置的S、P偏振光。 想要精确设置入射角度或测定多个样品时，可利用自动角角可变附件进行测定，这样还可以提高作业效率。 ■反射光谱随入射角度变化而变化 波长/nm 图4不同入射角度的反射光谱(S、P偏振光平均值) ■测定条件 仪器 UH4150 测定模式 反射光谱 测量波长范围 300~800 nm 扫描速度 300 nm/min 狭缝 8nm 采样间隔 1nm 【KEY WORDS 注意：本资料中刊登的数据为测试用例，仅供参考。 @株式会社日立八彳仁夕廿彳工少又 总部营业部105-0003东京都港区西新桥一丁目24番14号 TEL：(050)3131-6844 http：//www.hitachi-hightech.com/hhs/ Page. Page.大 阪TEL：( 名古屋屋TEL：( 州 TEL：( CHitachi High-Tech Science Corporation 自动角度可变附件可自动测量入射角在5°～70°范围内的正反射光谱及入射角在 0°～70°范围内的透射光谱。 在品质管理和研究开发方向，需要多角度或对多个样品进行测定时，使用自动角 度可变附件，可节省积分球（检测器）设置时间，大幅缩短了作业时间。 还可在固定波长下，测定样品的正反射率、漫反射、透射率等。