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扫描探针显微镜是利用探针针尖尖端原子与样品表面原子或分子存在极微弱的引力或斥力，使得探针微悬臂发生不同程度的弯曲，最终会导致激光在检测器上的位置发生变化，从而得到样品的表面形貌信息。由于探针针尖直接作用于样品表面，因此其针尖的尺寸对于样品的表面形貌测试非常重要。本文采用扫描探针显微镜，使用不同曲率半径的探针，对相同样品的表面形貌进行了对比测试，希望能够帮助大家对SPM测试时的探针选型提供一定的指导参考。
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岛津扫描探针显微镜SPM具有快速响应的高速扫描器、独特的头部滑移结构以及丰富的测量模式，除了普通的形貌扫描，还可拓展电流、电势、磁力以及纳米力学测量等功能。本文使用岛津扫描探针显微镜结合不同针尖曲率半径的探针对样品的表面形貌进行了测试。实验结果表明，使用不同针尖曲率半径的探针获取的表面形貌图呈现出一定的差异，尤其对于颗粒尺寸较小的镀膜样品，表面形貌的细节差异较大，为SPM测试样品时探针型号的选择提供一定的参考。
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岛津企业管理（中国）有限公司为您提供《SPM探针的针尖曲率半径对表面形貌扫描的影响》，该方案主要用于其他中表面形貌检测，参考标准《暂无》，《SPM探针的针尖曲率半径对表面形貌扫描的影响》用到的仪器有SPM-9700HT型原子力显微镜。
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扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）
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