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扫描探针显微镜(SPM)用于CoCrFeNi基高软磁熵薄膜的磁畴结构表征

检测样品 磁性材料

检测项目 磁畴结构

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磁畴是指铁磁体材料在自发磁化的过程中为降低静磁能而产生分化的方向各异的小型磁化区域。磁畴的存在对铁磁材料的磁性具有重要影响。由于配位数、晶格常数和价电子分布等的差异,目前关于块状软磁高熵合金的理论推导结果不能直接应用于软磁高熵合金薄膜,因此需要深入的研究来揭示软磁高熵合金薄膜(HEATFs)的磁性。本文采用扫描探针显微镜SPM-9700HT的磁力模式测试了软磁高熵合金薄膜的磁畴结构,发现其呈现典型的迷宫状磁畴分布。这一方法直观地反映了薄膜厚度及成分对磁畴大小的影响。

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岛津扫描探针显微镜SPM具有快速响应的高速扫描器、独特的头部滑移结构以及丰富的测量模式,除了普通的形貌扫描,还可拓展电流、电势、磁力以及纳米力学测量等功能。本文采用岛津SPM技术表征了CoCrFeNi基软磁高熵合金薄膜(HEATFs)样品的磁畴分布情况,发现其呈现典型的迷宫状磁畴,直观地反映了薄膜厚度及成分对磁畴大小的影响。

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岛津企业管理(中国)有限公司为您提供《扫描探针显微镜(SPM)用于CoCrFeNi基高软磁熵薄膜的磁畴结构表征》,该方案主要用于磁性材料中磁畴结构检测,参考标准《暂无》,《扫描探针显微镜(SPM)用于CoCrFeNi基高软磁熵薄膜的磁畴结构表征》用到的仪器有SPM-9700HT型原子力显微镜。

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