当前位置: 其它 > 方案详情

Hakuto 离子刻蚀机 7.5IBE 用于氮化硅刻蚀工艺研究

检测样品 其它

检测项目

关联设备 共1种 下载方案

方案详情

重庆某研究所在在氮化硅刻蚀工艺研究中采用 hakuto 离子刻蚀机 7.5IBE. 针对氮化硅刻蚀工艺中硅衬底刻蚀损失的问题, 为了提高氮化硅对二氧化硅的刻蚀选择比, 采用 CF4, CH3F和O2这3种混合气体刻蚀氮化硅, 通过调整气体流量比, 腔内压强及功率, 研究其对氮化硅刻蚀速率、二氧化硅刻蚀速率及氮化硅对二氧化硅选择比等主要刻蚀参数的影响.

智能文字提取功能测试中

重庆某研究所在在氮化硅刻蚀工艺研究中采用 hakuto 离子刻蚀机 7.5IBE.Hakuto 离子蚀刻机 7.5IBE 技术规格:真空腔1 set, 主体不锈钢,水冷基片尺寸1 set, 4”/6”ϕ Stage, 直接冷却,离子源ϕ 8cm 考夫曼离子源 KDC75离子束入射角0 Degree~± 90 Degree极限真空≦1x10-4 Pa刻蚀性能一致性: ≤±5% across 4” 该 Hakuto 离子刻蚀机 7.5IBE 的核心构件离子源是配伯东公司代理美国考夫曼博士创立的 KRI考夫曼公司的考夫曼离子源 KDC 75 伯东美国 KRI 考夫曼离子源 KDC75 技术参数: 离子源型号 离子源 KDC 75 DischargeDC 热离子离子束流>250 mA离子动能100-1200 V栅极直径7.5 cm Φ离子束聚焦, 平行, 散射流量2-15 sccm通气Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他典型压力< 0.5m Torr长度20.1 cm直径14 cm中和器灯丝针对氮化硅刻蚀工艺中硅衬底刻蚀损失的问题, 为了提高氮化硅对二氧化硅的刻蚀选择比, 采用 CF4, CH3F和O2这3种混合气体刻蚀氮化硅, 通过调整气体流量比, 腔内压强及功率, 研究其对氮化硅刻蚀速率、二氧化硅刻蚀速率及氮化硅对二氧化硅选择比等主要刻蚀参数的影响.伯东离子蚀刻机应用领域上海伯东是德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络 上海伯东: 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究!

关闭
  • 1/2
  • 2/2

产品配置单

伯东公司德国普发真空pfeiffer为您提供《Hakuto 离子刻蚀机 7.5IBE 用于氮化硅刻蚀工艺研究》,该方案主要用于其它中无检测,参考标准《暂无》,《Hakuto 离子刻蚀机 7.5IBE 用于氮化硅刻蚀工艺研究》用到的仪器有伯东离子蚀刻机 IBE。

我要纠错

推荐专场

相关方案