hitttr
第1楼2008/01/11
按照你说的情况,我觉得既然能在hopg上测量出I-V,则探针肯定是导电的,
具体导电性如何,则需要看看I-V曲线,你最好能发张图上来看看;在你的样品上测得不好。我估计有以下原因:
1.扫描参数没有控制好,因为你说形貌图像也很垃圾,如果形貌图都测不好的话,电流图像自然也不会好。首先用普通模式测量,先确保形貌图正确,然后再测量导电性。
2.样品的导电性不好,或者时样品与测量电路的接触不好。此时,可以先用万用表先测量样品与测量电路的接触部分。
3.探针与样品之间的接触不好。由于针尖尖端的曲率半径很小,且镀膜的均匀性也很难保证,所以在扫描的时候,针尖与样品之间就很可能存在接触不好的情况,此时自然也就测量不到导电性。遇到这种情况,在确定针尖,样品的导电性良好的情况下,可以增大设置点,即增加针尖与样品之间的作用力,增大针尖与样品之间的接触面积,这样测量电流的时候会容易一点。
hitttr
第4楼2008/02/14
1.探针的选择,主要从两个方面入手:镀层和力常数。
导电的探针如以镀层类型来区分,大致可以分为以下几种:
a.镀Pt或Au等,此类针尖导电性好,但是由于Pt和Au硬度都较低,耐磨损性能差,另外其在大电压下容易被氧化。这类针尖一般用于导电原子力。
b.镀TiN,W2C等,此类镀层导电性良好,耐磨性也很好。一般用于静电力,开尔文探针和电压刻蚀模式。
c.类金刚石碳镀层。此类针尖各项性能都是最好的,但是价格比较昂贵。
对于力常数的选择,则需要更具样品的自身特性和实验结果来逐渐筛选。
2.电表测量导电的,不一定和探针导电,是不是如此呢?
这种情况导时有可能的。因为电表测量时可以连接为是个宏观接触,接触面积大。而探针测量时则刻认为是个细观接触,接触面积小,只有几十个至几百纳米,如果接触区域的样品的导电性差或接触区域的针尖不导电,都无法测量到电流。
3.真空沉积的金膜,放置空气中12小时后,导电AFM就测不出I-V,这正常吗?
这个也很正常,针尖沉积的金膜,如长时间暴露在空气中,很容易被氧化。被氧化了当然也就无法导电了。
兵兵111
第6楼2013/05/31