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【求助】请教XPS分峰问题，哪位大侠能帮帮忙啊？？

  • yitianjian
    2008/08/13
    • 私聊

XPS及其它能谱仪

  • 各位高手，我用XPS做了表面元素分析，检测到有Si的峰，我推测可能有SiO2，Na2SiO3，假设还有其他形式（但Si的价态相同）。如果是某个纯物质，那么XPS峰应该和标准峰位吻合的很好，但如果是混合物可能就会有一定偏差了，现在我想用分峰软件把我测试的结果分成几个峰，我想问Si的2P3/2和2P1/2峰之间是不是应该是一个固定的值啊？该到哪里去查？还是说两峰间的eV差值是一个变动的值呢？怎么去确定呢？
    请教论坛里的各位大侠帮帮忙了！！先谢谢了！！！
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  • yitianjian

    第1楼2008/08/13

    版主呢，你是高手，帮帮我吧！！

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  • feixiong5134

    第2楼2008/08/14

    不好意思
    昨天下午没有上网。
    你需要的结合能值和距离你可以查找文献
    一般来说不同的峰
    距离也是不一样的

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  • feixiong5134

    第3楼2008/08/14

    你如果向大致的看峰的位置
    你可以去这个网站
    www。lasurface。com



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  • yitianjian

    第4楼2008/08/14

    感谢版主！！可是你说的网站我上不去！郁闷ing!!

    再次感谢！！

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  • feixiong5134

    第5楼2008/08/14

    必须的有外网
    你可以看看这个帖子
    http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20080305/1181282/

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  • antill

    第6楼2008/08/23

    其实硅的2p峰的分裂并不明显，通常SiO2的2p结合能为103.3eV，这个应该是个经验值了，如果说是多种物质的混合的话，可能谱峰会有所展宽，不知楼主有没有考虑用半高宽来处理这个问题！

    yitianjian 发表:各位高手，我用XPS做了表面元素分析，检测到有Si的峰，我推测可能有SiO2，Na2SiO3，假设还有其他形式（但Si的价态相同）。如果是某个纯物质，那么XPS峰应该和标准峰位吻合的很好，但如果是混合物可能就会有一定偏差了，现在我想用分峰软件把我测试的结果分成几个峰，我想问Si的2P3/2和2P1/2峰之间是不是应该是一个固定的值啊？该到哪里去查？还是说两峰间的eV差值是一个变动的值呢？怎么去确定呢？
    请教论坛里的各位大侠帮帮忙了！！先谢谢了！！！

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