【原创】在原子发射光谱法中谱线重叠干扰的判断和识别及分析线的选择

　　谈完了谱线重叠干扰的判断和识别后，最好要说的就是分析线的选择问题了。这个问题应该比前面的问题容易得多，通常可以遵循以下原则：
　1. 尽量选择没有干扰或干扰小的谱线，对于干扰的大小可以通过分析线和干扰线的自身发射强度及在样品中的相对含量来判断；
　2. 选择灵敏度高的即自身发身强度大的谱线；
　3. 自吸收效应小的谱线，特别是在分析元素含量比较高时更是如此。如果被测元素的含量很高，这时可以选择次灵敏线。如果被测元素是样品中的大量或主量元素，甚至都可以考虑选用非灵敏线；
　4. 选择背景小的谱线；
　5. 选择对称性和峰形好的谱线。
　　对于分析线选择的是否合适，最后主要还是要看分析结果的好坏，如果分析结果准确，无疑分析线选择得就没问题，否则的话就要视具体情况来分析一下了，因为还涉及到样品的前处理和水及试剂空白，还涉及到标准样品和分析样品的基体匹配问题，还涉及到样品溶液中被测元素的含量是否在ICP发射光谱法的检测范围之内的问题等等。
　　其实，谱线重叠干扰并非只存在于原子发射光谱法中，在原子吸收和原子荧光中也都存在，只不过是因为原子吸收得到的谱线，大多都是一些以基态为低能级的共振线，所以谱线要比发射法少很多，而原子荧光是用元素的某一特征谱线进行激发，激发态比较单一，所以它的谱线就更为简单，因此这也是原子吸收仪器和原子荧光仪器光学系统中对分光部分要求比较低的重要原因，但是这两种方法在进行分析时也是要考虑谱线重叠的干扰问题的。
　　前面讲了一些有关谱线干扰的问题，那么在分析化学中什么是干扰？所谓的干扰一般是指由于附随物质的存在，而引起的分析结果出现误差或差错的效应。这里的附随物质是指除了分析物和溶剂（如果采用溶剂的话）之外的存在于样品中的所有其它成分，而这些成分是原有的，也可以是添加的。
　　在原子光谱法中的干扰效应，一般可按其机理将它们分为两类，一类是由分析物光谱信号与干扰物引起的辐射信号分辨不开而产生的光谱干扰，它主要包括光谱线重叠干扰和连续背景干扰；另一类是样品基体各成分中一个或几个附随物使已经分辨开的分析物光谱信号出现增强或减弱的非光谱干扰，它主要包括与分析物挥发、原子化、激发、电离等过程有关的特征干扰和溶液雾化（当采用溶液气溶胶进样时）过程有关的非特征干扰。在非光谱干扰中，如果干扰是由化学反应所引起的，习惯上就称其为化学干扰；如果是由电离效应所造成的，就称为电离干扰；如果是由于溶液的粘度、密度、表面张力气态原子扩散迁移过程的变化所产生的，就称为物理干扰。对于经典光谱法而言，非光谱干扰往往是造成分析结果准确度低的一个重要原因；而对于ICP发射光谱法而言，光谱干扰似乎更会引起人们的重视与关注。

　　 http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20081029/1554124/

感谢楼主整理出这么有用的资料，这些都是平时工作中积累的知识，努力学习中，希望还有更多关于此类话题的探讨。
还要好好领会。

楼主可以参加今年国庆原创大赛,估计能得奖.非常实用的资料.

老兄，真的是太佩服你了

对于完全重叠或近乎完全重叠的谱线的情况可能会复杂一些，因为在一般情况下，仪器软件会对每一种元素提供一条以上可供选择的分析线，在进行分析测定时，可以多选几条谱线，如果由所有谱线都能得出一致的结果，就表明分析结果准确可靠，没有谱线干扰线的影响，反之的话结果明显偏高的，就很可能存在完全重叠或近乎完全重叠的干扰谱线。如果我们将基体分离并扣除空白后，之前结果明显偏高的谱线不再偏高，则一般就可以进一步确定它存在完全重叠或近乎完全重叠的谱线干扰。


呵呵，这一个方法很不错，很实用的，我用过很多次，当开始测不同的样品时，我一般选择多谱线，比较那条线更好，从而选择最好的谱线得到比较准确的结果！

楼主辛苦了，多谢分享

好贴!
全谱直读型仪器中的固体成像检测器记录和测量谱线的发射强度，它们一般都具有呈现谱线轮廓的功能，我们可以通过这一功能直接观察分析线的情况.

原来的光电倍增管检测器也有这一功能,对于连续谱的背景扣除方法是一样的,但对于谱线叠加所产生的干扰不同的软件可能就融入了各家自己的处理方法了.

斑主的水平就是不一般啊！

厉害！！！！！