【求助】如何确定仪器自宽？请帮忙，谢谢！

实际上仪器的宽化因子是一个随角度变化的因子。
如果你要测量A相的物理宽化（晶粒细化或晶格畸变引起的宽化），必须要从实测的峰宽里反卷积去掉仪器的宽化因子。
最理想的状态是有A相的标准样品，在同样的条件下扫描，得到的FWHM即时仪器的宽化因子。
但大多数的情况下，A相的标准样品是很难得到的，所以人们就经常有和A相主峰位置比较接近的另一种标准样品S来代替A相的标准样品，这在某种程度上是一种近似，但这是我们能做到的最好的方法了。
通常用的标准样品有Si，a-Al2O3等样品来代替。在同样的条件下测量标准样品和待测样，分别求出各自的FWHM，S相的即为宽化因子。
反卷积的方程通常有B-b的差或（B*B-b*b）的平方根，其中B为实测的样品的FWHM,b为S相的FWHM.