【已应助】JIS R1633-1998 扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法。

JIS R 1633：1998 扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法
JIS R 1633：1998 ファインセラミックス及びファインセラミックス粉体用の走査電子顕微鏡(SEM)観察のための調製方法
中文名称：扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法
英文名称：Sample preparation method of fine ceramics and fine ceramic powders for scanning electron microscope observation
JIS R 1633：1998 扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法 (日文)