对10-80nm的粉体材料用什么检验

看你要做什么用了？如果仅仅是颗粒大小，那么用粒度仪就是了。
如果要检验晶相，最好用XRD了。如果要看表面细节，用场发射的SEM，如果要看单个颗粒的结构，TEM最合适了。

谁知道做这个需要多少的样品量

看你做什么测试了，如果是TEM，很少一点点就够了。

能否帮我做个,主要是粒径分布的,需要什么仪器和多少样品?

如果只是做一个，倒是可以考虑给你做一个SEM或者TEM。
如果是样品多，不如去做激光粒度仪。不过需要的量就要多些了。
一般TEM或者SEM只要几十mg就够了。激光粒度仪就要几倍吧，不是很清楚。

激光粒度做100nm以下就很不清楚了
这是其自身的限制
对于电镜来说做几十个nm也比较吃力
而AFM却能轻而易举的做到
但是要分清楚仪器的应用
对于激光粒度来说，已经很广泛的应用于粉体检测了
主要是由于其检测的范围比较大
对产品来说检验结果具有代表性
电镜可以连续变倍
分辨率比激光粒度要高而观察范围比AFM大而灵活
而AFM的优势是具有超高的分辨率
但是其检测范围很小
目前国内外最大的扫描范围一般是100um
对于工业产品来说结果不具有代表性
而在研究领域应用比较广泛

谢谢,不知道你做麻烦不,我这个是个实验样品,主要看大体的实验方向是否正确,不是要求那么严格的,就一个样品,能不能短信给我你的联系方式,我的QQ:412699770

对于电镜和AFM做样的量很少
但是要分散的好做出的结果才清晰可靠
否则团聚起来结果就不真实了
如果用AFM做
除了用超声分散好
还得选择合适的基底
因为有些基底表面的空隙比颗粒还大那结果就不对了
比如你的颗粒是十几个nm大
用普通的光学玻璃做基底
得到的结果很可能是玻璃表面的图像而不是粉体颗粒的图像了
而用太光滑的基底就不能很好的吸附样品
扫描的时候探针就会把颗粒推走
一般推荐用云母（HOPG）做基底吸附样品

已经给你投条了，check以下吧:)