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【讨论】比较纯的氧化铁粉中分析 SIO2

alexright

2009/09/03

X射线荧光光谱仪（XRF）

现在有一种氧化铁粉，比较纯净
其中SiO2含量在0.005%左右，
利用氧化铁粉试样做工作曲线，粉末压片法，
1、SiO2含量分析准确性如何？
2、理论上粉末压片做这么低含量的Si还没有试过。
3、玻璃熔片是否可行？
4、如果是纯铁呢？

提出问题，再进一步试验。
欢迎大家讨论。。。。。。

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windeast

第1楼2009/09/04

应该熔片法是可以的，压片应该不准。

0

ljzllj

第2楼2009/09/04

本来就是50ppm的浓度，熔片再进行稀释，FE2O3的基体，荧光要做到1ppm甚至更低的检出限，好像挺困难吧。
windeast 发表:应该熔片法是可以的，压片应该不准。

0

arbo

第3楼2009/11/02

可以比较肯定的告诉你，熔片不行，浓度低还不是主要的，主要的是熔剂中有Si。用压片法可以的，关键是你要有标准样品。
alexright(alexright) 发表:现在有一种氧化铁粉，比较纯净
其中SiO2含量在0.005%左右，
利用氧化铁粉试样做工作曲线，粉末压片法，
1、SiO2含量分析准确性如何？
2、理论上粉末压片做这么低含量的Si还没有试过。
3、玻璃熔片是否可行？
4、如果是纯铁呢？

提出问题，再进一步试验。
欢迎大家讨论。。。。。。

0

sartre

第4楼2009/11/02

xrf测不准你这个数据的

alexright(alexright) 发表:现在有一种氧化铁粉，比较纯净
其中SiO2含量在0.005%左右，
利用氧化铁粉试样做工作曲线，粉末压片法，
1、SiO2含量分析准确性如何？
2、理论上粉末压片做这么低含量的Si还没有试过。
3、玻璃熔片是否可行？
4、如果是纯铁呢？

提出问题，再进一步试验。
欢迎大家讨论。。。。。。

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