【求助】AFM分辨率问题

Veeco的产品应该有些代表性，别的的公司也差不多。
横向是1nm，纵向0.1nm， 这是实际水平。
不过厂商都吹能做到高很多，其实不现实。

那能否很容易扫出云母或其他晶体的原子像呢？

成像难易程度除了环境影响外，主要与仪器性能有关，还是主要与针尖有关呢？

[quote]原文由 hitttr 发表:商用的和计量型的都差不多，横向应该是0.2nm，纵向0.1nm。
这是目前能够用样品来验证的afm最高分辨率。
高于这个数值的指标目前都是无法通过扫描图像来验证的。

云母晶格的晶格常数0.5nm。

基本上所有的商用原子力都能达到这个指标的，
主要的区别就在于获得云母晶格像的难易程度和图像优劣程度。

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我以前那台是横向是1nm，纵向0.1nm。AFM手册上写的，然后附有云母的一张例图
也尝试扫过0.2-0.3nm纵向的阶梯图，噪声很大，但是能看出一点趋势