XPS及其它能谱仪
七月冰
第1楼2009/09/28
要分析O元素首先应该分清表面沾污和本体之间的区别。一般样品经过表面溅射或者原位分析可以做到排除表面沾污的影响。但如果是粉末样品就很困难了。所以，这种情况下如果不是必须就不要分析O了。在元素价态分析中一般你要对应每个配位数给出分子式或者结构式，根据O与不同元素的化学键的结合情况，再查文献找到对应的结合能值，然后根据这个结合能值进行相应的拟合分析。不知道这样表达的清楚不清楚。
zhangwen1983
第2楼2009/09/28
呵呵，先谢谢您的回帖。 我做的是薄膜，表面沾污应该有，但是我自己觉得不会很大。 您说的很清楚了，我再去看看文献。
yuansu123456
第3楼2009/09/28
配位数不同，不见得可以观察到明显的结合能差异，看你的谱图，半峰宽估计就在2ev左右，峰又比较对称，依我看不能分峰，，，，，，，若真要分峰，在左侧似乎可以分出一个峰来
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