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【资料】原子发射光谱法(共20讲)

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  • 原子发射光谱法:1 概述



    原子发射光谱法,是利用物质在热激发或电激发下,每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成,而进行元素的定性与定量分析的方法。


    原子发射光谱法是光学分析法中产生与发展最早的一种。在近代各种材料的定性、定量分析中,原子发射光谱法发挥了重要作用。特别是新型光源的研制与电子技术的不断更新和应用,使原子发射光谱分析获得了新的发展,成为仪器分析中最重要的方法之一。

    (1)原子发射光谱分析的优点
    ① 具有多元素同时检测能力。可同时测定一个样品中的多种元素。
    ② 分析速度快。若利用光电直读光谱仪,可在几分钟内同时对几十种元素进行定量分析。分析试样不经化学处理,固体、液体样品都可直接测定。
    ③ 检出限低。一般光源可达10~0.1µg/g(或µg/mL),绝对值可达1~0.01µg。,电感耦合高频等离子体原子发射光谱(ICP-AES)检出限可达ng/mL级。
    ④准确度较高。一般光源相对误差约为5%~10%,ICP-AES相对误差可达l%以下。
    ⑤试样消耗少。
    ⑥ ICP光源校准曲线线性范围宽可达4~6个数量级。
    (2)原子发射光谱分析的缺点
    高含量分析的准确度较差;常见的非金属元素如氧、硫、氮、卤素等谱线在远紫外区.一般的光谱仪尚无法检测;还有一些非金属元素,如P、Se、Te等,由于其激发电位高,灵敏度较低。
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  • yhl-87_

    第1楼2009/10/30

    原子发射光谱法:2 原子发射光谱的产生

    通常情况下,原子处于基态,在激发光源作用下,原子获得足够的能量,外层电子由基态跃迁到较高的能量状态即激发态。处于激发态的原子是不稳定的,其寿命小于10-8s,外层电子就从高能级向较低能级或基态跃迁。多余能量以电磁辐射的形式发射出去,这样就得到了发射光谱。原子发射光谱是线状光谱。谱线波长与能量的关系如下:



    式中E2、E1分别为高能级与低能级的能量,λ为波长,h为Planck常数,c为光速。

    原子中某一外层电子由基态激发到高能级所需要的能量称为激发电位,以eV(电子伏特)表示。原子光谱中每一条谱线的产生各有其相应的激发电位。这些激发电位在元素谱线表中可以查到。由激发态向基态跃迁所发射的谱线称为共振线。共振线具有最小的激发电位,因此最容易被激发,也就是该元素最强的谱线。

    在激发光源作用下,原子获得足够的能量就发生电离,电离所必须的能量称为电离电位。原子失去一个电子称为一次电离,一次电离的原子再失去一个电子称为二次电离,依此类推。

    离子也可能被激发,其外层电子跃迁也发射光谱。由于离子和原子具有不同的能级,所以离子发射的光谱与原子发射的光谱是不一样的。每一条离子线也都有其激发电位,这些离子线激发电位大小与电离电位高低无关。

    在原子谱线表中,罗马字I表示中性原子发射的谱线,Ⅱ表示一次电离离子发射的谱线,Ⅲ表示二次电离离子发射的谱线,……。例如,Mg I 285.21nm为原子线,Mg Ⅱ 280.27nm为一次电离离子线。

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  • yhl-87_

    第2楼2009/10/30

    原子发射光谱法:3 光源 -(1)直流电弧




    光源的作用是提供足够的能量使试样蒸发、原子化、激发,产生光谱。光源的特性在很大程度上影响着光谱分析的准确度、精密度和检出限。发射光谱分析光源种类很多,目前常用的有直流电弧、交流电弧、电火花及电感耦合高频等离子体(ICP)。

    (1)直流电弧

    直流电弧的基本电路见图1,电源E为直流电,供电电压为220~380V,电流为5~30A。可变电阻R的作用为稳定与调节电流的大小,电感L用以减小电流的波动。G为分析间隙(或放电间隙),一般采用一对碳电极。




    图1.5.2 直流电弧光源线路简图

    L一电感,R-可变电阻:A一安培表;

    V一电压表;G-分析间隙

    直流电弧引燃可用两种方法:一种是接通电源后,使上下电极接触短路并拉开数毫米距离即可点燃电弧;另一种是高频引燃。引燃后阴极产生热电子发射,在电场作用下电子高速通过分析间隙射向阳极。在分析间隙里,电子又会和分子、原子、离子等碰撞,使气体电离。电离产生的阳离子高速射向阴极,又会引起阴极二次电子发射,同时也可使气体电离。这样反复进行,电流持续,电弧不灭。

    由于电子的轰击,阳极表面白热,产生亮点形成“阳极斑点”。阳极斑点温度高,可达4000K(石墨电极),因此通常将试样置于阳极,在此高温下使试样蒸发、原子化。在弧柱内原子与分子、原子、离子、电子等碰撞,被激发而发射光谱。阴极温度在3000K以下,也形成“阴极斑点”。

    直流电弧的优点是设备安全、简单,应用广泛。由于持续放电电极头温度高,蒸发能力强,试样进入放电间隙的量多,绝对灵敏度高,适用于定性分析;同时适用于矿石、矿物等难熔样品及稀士、铌、钽、锆、铪等难熔元素的定量分析。可激发近70种元素。缺点是电弧不稳定、易飘移,因此重现性较差;弧层较厚,自吸现象较严重;试样消耗量大。

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  • yhl-87_

    第3楼2009/10/30

    原子发射光谱法:4 光源 -(2)交流电弧

    交流电弧是随时间进行周期性变化,不像直流电弧那样,一次点火就能连续燃弧,而需要高频点火装置配合使用。通常每半周点火一次,以保持弧馅不断。图1.5.3是一种低压交流电弧电路图。电源经变压器T1升至3000V左右,使C1充电到放电盘G1的击穿电压时,在回路中产生高频振荡,经高频空芯变压器T2升至10kV,将G2放电间隙击穿,引燃电弧。引燃后,低压电路便沿着导电的气体通道产生电弧放电。放电很短的瞬间,电压降低直至电弧熄灭。但下半周高频引燃作用下,电弧重新被点燃,如此反复进行,交流电弧维持不熄。

    交流电弧除具有电弧放电的一般特性外,还有其自身的特点:①电流具有脉冲性,电流密度比直流电弧大,因此电弧温度高,激发能力强。②电弧稳定性好,分析的重现性与精密度比较好,适于定量分析。③它的电极温度较低,这是由于交流电弧放电有间隙性,蒸发能力略低。

    从性质上讲,交流电弧是介于直流电弧与火花之间的光源。它的分析检出限比火花好而比直流电弧差,分析准确度比火花差而比直流电弧好。在实际应用中它还可以控制为连续或断续的交流电弧,灵活性比较大。


    图2 带有高频点火装置的低压交流电弧线路

    T1-铁芯升压变压器;T2一空芯高频变压器;

    R1、R2-可变电阻;C1—振荡电容;C2一旁路电容;

    G1一放电盘;G2-分析间隙;A一交流电流表

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  • yhl-87_

    第4楼2009/10/30

    原子发射光谱法:5 光源 -(3)火花光源

    火花放电是在通常气压下,两电极间加上高电压,达到击穿电压时,在两极间尖端迅速放电,产生电火花。放电沿着狭窄的发光通道进行,并伴随着有爆裂声。日常生活中,雷电即是大规模的火花放电。火花光源分低压火花光源和高压火花光源两种。现仅以高压火花光源为例,其基本电路如图1-15所示。电源电压经R进行适当的调节,通过升压变压器T,使次级产生约15kV高压,向电容器C充电,当电容器两级间电压超过分析间隙G的击穿电压时,电容C就向G放电。G被击穿产生火花放电。在交流电下半周时,电容器C又重新充电、放电。这-过程重复不断,维持火花放电而不熄灭。

    置于电极上的试样在高压电场中,主要靠高造运动的电子轰击而蒸发和激发。在多数情况下,试样原子在电场中先电离成离子后,再被激发。




    图3 最简单的火花光源线路简图

    A一安培表;V-交流电压表;R-可变电阻;

    T-升压变压嚣;C-可变电容;L一可变电感;G-分析间隙


    高压火花光源的特点:由于在放电一瞬间释放出很大的能量,放电间隙电流密度很高,因此温度很高,可达10 0O0K以上,具有很强的激发能力,一些难激发的元素可被激发,而且大多为离子线。放电稳定性好,因此重现性好,可做定量分析,试样消耗少。由于放电间歇时间略长,放电通道窄小,电极温度较低,适于做熔点较低的金属与合金分析,而且被测物自身可做电极,如炼钢厂的钢铁分析。它的蒸发能力低,灵敏度较差,但可做较高含量的分析;做定量分析时,需要有预燃时间。

    (4)电感耦合等离子体(ICP)

    见ICP光谱法。

    表1 几种光源的比较


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  • yhl-87_

    第5楼2009/10/30

    原子发射光谱法:6 光源 -(3)火花及几种光源的比较



    火花指在至少两个电极间施加高压电和相对较低的电流,并产生间歇性周期的振荡放电,即火花放电是通过两电极间施加高电压而形成。其中一个电极由待测样品组成,另一个一般由钨制成(图4)。



    图4 火花系统示意图

    l一导电样品电极;2-钨对电极;3一样品孔穴(由绝缘材料制成);

    4-电源连结体;5-分析间歇

    火花不同于交流电弧。典型的火花持续时间在几微秒数量级。电极间的空间为分析间隙,约为3~6mm。根据发生器原理和特性,火花有许多类型。按照使用电压的高低可分为:高压火花(10~20kV),中压火花(500~1500V)和低压火花(300~500 V)。高压火花能自身点火,而中、低压火花则通过与火花频率同步的外部高压脉冲点火。当增加电压时精度可获改善,但检出限受损。因此,低压火花似乎是一个较好折衷。

    火花频率原来与电源频率同步,现在通常与内置振荡器同步。常用的商品火花仪器的频率在100~500Hz范围,采用固体/平台发生器技术,以便控制火花波的形状。特别是当脉冲的持续时间长到700μs时,可得到接近电弧特性的放电,从而可以改进分析的检出限和痕量元素测定。采用单向放电可保护电极,延长电极寿命。在预火花周期时,采用高能火花以改善样品的表面状况并减少干扰。火花较适宜于分析油中微量元素(由于发动机磨损而产生的微量金属)。采用旋转电极的特殊装置,可克服火花分析液体样品的困难。当电极旋转时,油的薄膜沾到盘上,在盘和另一高压电极的分析间隙中发生火花。

    通常以氩气替代空气充满火花电极架,由于氩气能透过紫外辐射,因而不吸收紫外线并且不与电极发生反应。

    每放电一次,样品就产生一个新斑点。经多次放电,可得到多次的平均值,从而得到高精度的分析信号。

    表1 几种光源的比较

    Table 1 Comparison of Several Sources


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  • yhl-87_

    第6楼2009/10/30

    原子发射光谱法:7 谱线的自吸与自蚀




    在激发光源高温条件下,以气体存在的物质为等离子体(plasma)。在物理学中,等离子体是气体处在高度电离状态,其所形成的空间电荷密度大体相等,使得整个气体呈电中性。在光谱学中,等离子体是指包含有分子、原子、离子、电子等各种粒子电中性的集合体。

    等离子体有一定的体积,温度与原子浓度在其各部位分布不均匀,中间部位温度高,边缘低。其中心区域激发态原子多,边缘处基态与较低能级的原子较多。元素的原子从中心发射某一波长的电磁辐射,必然要通过边缘到达检测器,这样所发射的电磁辐射就可能被处在边缘的同一元素基态或较低能级的原子吸收,接收到的谱线强度就减弱了。这种原子在高温发射某一波长的辐射,被处在边缘低温状态的同种原子所吸收的现象称为自吸。

    自吸对谱线中心处强度影响大。当元素的含量很低时,不表现自吸,当含量增大时,自吸现象增加。当达到一定含量时,由于自吸严重,谱线中心强度都被吸收了,完全消失,好像两条谱线,这种现象称为自蚀。在谱线表上,r表示有自吸的谱线,R表示自蚀。基态原子对共振线的自吸最为严重,并且常产生自蚀,不同光源类型,自吸情况不同,直流电弧由于蒸气云厚度大,自吸现象常比较明显。

    由于自吸现象影响谱线强度,在定量分析中是一个必须注意的问题。



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  • yhl-87_

    第7楼2009/10/30

    原子发射光谱法:8 试样的蒸发与光谱的激发



    试样在激发光源的作用下,蒸发进入等离子区内,随着试样蒸发的进行,各元素的蒸发速度不断地变化,以致谱线强度也不断变化。各种元素以谱线强度或黑度对蒸发时间作图,称为蒸发曲线。图5.1.6为电弧法不同元素的蒸发曲线。由图可看出,各种元素的蒸发行为很不一样:易挥发的物质先蒸发出来,难挥发的物质后蒸发出来。试样中不同组分的蒸发有先后次序的现象称为分馏。在进行光谱分析时应选择合适的曝光时间。试样的蒸发速度受许多因素的影响,如试样成分、试样装入量、电极形状、电极温度、试样在电极内产生的化学反应、电极周围的气氛等。在试样内加入的一些添加剂等,也影响试样蒸发速度。




    图6 各种元素的蒸发曲线

    Figure 6 Evaporating curve of the elements

    物质蒸发到等离子区,要原子化还可能电离。气态的原子或离子在等离子体内与高速运动的粒子碰撞而被激发,发射特征的电磁辐射。与粒子高速热运动碰撞而引起的激发为热激发。与电子的碰撞所引起的激发为电激发。现在所使用的光源,主要是热激发,也交杂有电激发。

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  • yhl-87_

    第8楼2009/10/30

    原子发射光谱法:9 光源的选择




    根据分析物质的性质及任务的要求,光源的选择应考虑以下几个方面:

    ① 分析元素的性质。易挥发及易电离的元素如碱金属可以用火焰光源;难激发的元素可选用火花光源,难挥发的元素可选用电弧光源。

    ② 分析元素的含量。低含量的元素需要有较低的绝对检出限,一般采用电弧光源;高含量的元素要求准确度较高,常采用火花光源。

    ③ 试样的形状及性质。-些块状的金属和合金试样,既可以采用电弧光源,又可以采用火花光源;一些导电差的粉末试样,一般采用电弧光源;溶液试样常采用ICP光源。

    ④分析任务性质。定性分析一般用电弧光源,尤其用直流电弧光源为好;定量分析一般用交流电弧或火花光源,但测定痕量元素时却采用直流电弧光源。

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  • zuozuo1122

    第9楼2009/10/30

    谢谢你们传的资料啊

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  • yhl-87_

    第10楼2009/10/30

    原子发射光谱法:10 光谱仪-(1)棱镜摄谱仪




    光谱仪的作用是将光源发射的电磁辐射经色散后,得到按波长顺序排列的光谱,并对不同波长的辐射进行检测与记录。

    光谱仪的种类很多,其基本结构有三部分,即照明系统、色散系统与记录测量系统。按照使用色散元件的不同,分为棱镜光谱仪与光栅光谱仪。按照光谱记录与测量方法的不同,又可分为照相式摄谱仪和光电直读光谱仪。

    本章仅就目前常用的棱镜摄谱仪、光栅摄谱仪与光电直读光谱仪进行讨论。

    (1)棱镜摄谱仪

    目前有实用价值的为石英棱镜摄谱仪,石英对紫外光区有较好的折射率,而常见元素的谱线又多在近紫外区,故应用广泛。这种仪器在20世纪40~50年代生产较多。现在由于光栅的出现,同时石英材料价格昂贵,已无厂家再生产了。但已有的石英棱镜摄谱仪仍在使用。

    图7为Q-24中型石英棱镜摄谱仪光路示意图,光源Q发出的光经三透镜照明系统聚焦在入射狭缝上。准光镜将入射光变为平行光柬,再投射到棱镜上进行色散。波长短的折射率大,波长长的折射率小,色散后按波长顺序被分开排列成光谱。再由照相物镜将它们分别聚焦在感光板上,便得到按波长顺序展开的光谱。每一条谱线都是狭缝的像。




    图7 Q-24摄谱仪光学系统图

    Figure 7 Schematic diagram of a prism spectrograph

    1— 电极;2一三透镜照明系统;3一狭缝;4-准光镜;

    5一棱镜;6一物镜;7一感光板



    1)照明系统。三透镜照明系统,其作用是使光源发出的光能均匀地照明狭缝的全部面积,即狭缝全部面积上的各点照度一致,并且所得到的谱线上照度均匀。

    2)色散系统。光谱仪的好坏主要取决于它的色散装置。光谱仪光学性能的主要指标有色散率、分辨率与集光本领,因为发射光谱是靠每条谱线进行定性、定量分析的,因此,这三个指标至关重要。

    ① 色散率。是把不同波长的光分散开的能力。有角色散率dθ/dλ表示(指波长差为一单位时。两相邻谱线被色散开的角度)和线色散率dL/dλ两种表达形式。在实际工作中常采用线色散率dL/dλ的倒数dλ/dL来描述仪器色散能力的大小。其值越小,仪器的色散能力越大,它可用下式描述:

    = × × (2)



    = × × (2)

    式中,ε—感光板与摄谱仪主光轴间的夹角;f—摄谱仪与暗箱物镜的焦距;n—棱镜的折射率;m—棱镜数目;dn/dλ—棱镜材料的色散率;A—棱镜顶角。

    由式2可知,感光板与摄谱仪主光轴间的夹角ε越小,摄谱仪与暗箱物镜的焦距f越大,棱镜数目m越多,棱镜顶角A值越大,则仪器的色散能力越大(实际摄谱仪中各参数应该合理设计)。由于波长λ的变化对棱镜材料的色散率dn/dλ影响很大,λ越大,dn/dλ值越小,dλ/dL值增加,使仪器的色散能力下降。

    ② 分辨率。摄谱仪的分辨率是指摄谱仪的光学系统能正确分辨出紧相邻的两条谱线的能力。用两条可以分辨开的光谱线的波长平均值 与其波长差Δλ之比值表示。棱镜摄谱仪的理论分辨率R理用下式表示。




    式中,t—棱镜底边的宽度。

    色散率与分辨率是两个不同的概念。色散率是仪器将不同波长的光分散开的能力,即将紧邻的两条谱线分散开;至于能否分辨出,要由分辨率来决定。当然,色散率大的仪器分辨率也大。

    ③ 集光本领。表示光谱仪光学系统传递辐射的能力。常用入射于狭缝的光源亮度为一单位时在感光板焦面上单位面积内所得到的辐射通量来表示,集光本领与物镜的相对孔镜平方(d/f)2成正比,而与狭缝宽度无关。d为照相物镜孔径,f为焦距。狭缝宽度变大,像也增宽,单位面积上能量不变。增大物镜焦距f,可增大线色散率,但要减弱集光本领。

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