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【求助】为什么掠入射X射线扫描和粉末模式扫描得到的结果不一样呢

X射线衍射仪(XRD)

  • 薄膜模式(掠入射x射线扫描)和常规模式(粉末模式)扫描得到的峰不在一个位置上 乱七八糟的 怎么分析啊?

    我的样品是单晶硅(100) 上镀的sic薄膜,薄膜模式扫描的时候角度为2度。
    那位高人给我看下,这两种模式下的峰是不是要放在一起分析呢,找了一下午了, sic90多张卡片都找了一编,头都大了。
    高手快来替我分析下啊 。
    新建 Microsoft Word 文档.doc
    xrd.rar
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  • yan_huo

    第1楼2009/12/24

    那个常规模式下 33°和69°的峰应该是si片的峰吧

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  • yan_huo

    第2楼2009/12/24

    重新将原图上传了 在第二个附件里,一个是2度一个是3度 的掠入射模式

    还有一个是常规模式。。黄老师要是有空的话能帮我分析下吗?我实在是无语了,刚接触xrd不久,这边也没什么这方面的高手。

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  • hytpco

    第3楼2009/12/25

    没做过掠入射的试验,掠入射角2度,3度在哪设定,谢谢!

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  • yan_huo

    第4楼2009/12/25

    我也不知道 实验都是分析测试中心的老师做的 我们不能操作

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  • junnerst

    第6楼2010/03/12

    要完全重合就麻烦大了。因为薄膜衍射的射入角度很小,衍射峰只反映薄膜部分的信息,因此薄膜衍射结果应该是SiC的衍射峰。常规衍射结果,由于涂层较薄,所以得到的是基体和薄膜的综合信息。这从两种峰线有部分重合(虽然强度有很大差别)也可得到这样的结论。

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