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【分享】分立器件测试技术研讨会

综合仪器采购

  • 分立器件测试技术研讨会邀请函

    尊敬的女士/先生:

    非常荣幸地邀请您参加于2010 7 22 日(周四)下午在深圳东方银座酒店举行的分立器件测试技术研讨会”

    本次研讨会将由美国STI公司副总裁John Bailey与大家一起分享半导体分立器件的测试技术,STI分立器件测试仪的应用,并为您现场解答您关心的测试问题。

    本次研讨会我们邀请了艾默生网络能源,山特,意法,安森美等知名企业,希望大家能够相互交流测试经验。对于与会者我们将有精美礼品奉送!

    时间:2010 7 22 日星期四 14:00-17:00

    地址:深圳福田区深南大道竹子林东方银座酒店雅典厅

    公交路线:乘公交车到竹子林站(深南大道北侧)即可到达酒店

    地铁路线:乘坐地铁到竹子林站B出口,即可到达酒店

    驾车路线:深南大道北侧,竹子林

    酒店电话:0755-8350 0888

    主办方:深圳市云帆兴烨科技有限公司http://www.sinyee.cn

    美国科学仪器测试公司

    会议日程





    日期



    时间

    主题



    讲师



    7月22



    14:00-15:00



    分立器件测试与ATE



    John



    7月22 



    15:00-15:15



    Tea Break



     



    7月22 



    15:15-16:15



    STI5000C 器件特性曲线扫描



    John



    7月22 



    16:15-16:45



    现场答疑



    John



    7月22 



    16:45-17:00



    国内客户案例分享



    艾默生

    报名方式



    请填写下表e-mail至 caipf@sinyee.cn 或传真0755-83323909

    如有疑问请致电(0755)83248861/13751095731 蔡鹏飞R洽询
    +关注 私聊
  • 小H

    第1楼2010/09/01

    会议结束了,有没有什么总结性的东西发来大家学习?

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