X射线衍射仪(XRD)
250895421
第1楼2010/11/01
TEM是不是更好一点
第2楼2010/11/01
yeqiu
第3楼2010/11/01
我感觉TEM只是测试的一个很小的范围,不能表征薄膜的整体取向特征的。谢谢。。。。
lp1113
第4楼2010/11/01
你可以采用掠入射的方法对薄膜进行测试
第5楼2010/11/01
掠入射就是用一个很小的入射角来测试吗?那个角一般是多少比较合适呢,我是表征取向的。谢谢你的帮助。。。
xujun16
第6楼2010/11/01
掠入射就是用一个很小的入射角来测试吗?答:是XRD对于薄膜样品的仪器,叫GID,掠入射小角X射线衍射。需用专门的仪器。谢谢大家指正!
rubyzsq
第7楼2010/11/03
掠入射角一般在0.5到1°之间,根据膜的厚度来调节角度,膜厚角度可以适当大点
jidzhang
第8楼2010/11/04
其实用普通模式也可以的,估计你的问题是薄膜没有对准到光路中
第9楼2010/11/04
对准后我们几十纳米的薄膜也能测试出来的
iangie
第10楼2010/11/05
看薄膜是什么成分了~~如果是高原子量的元素组成的~质量吸收系数就很高~~1微米应该算是infinity thinkness了可以常规测试出来~~如果你测了不出峰,可能是薄膜中晶粒取向太好.只有用GID了~
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