去年冬天
第8楼2010/12/20
JEM-2100F STEM/EDS
生产国别、公司:日本,JEOL
主要技术指标:
TEM 分辨力:0.23nm(点),0.102nm(晶格)
STEM分辨力:0.20nm(晶格)
最小束斑尺寸:0.5nm
放大倍数:50倍~1100万倍
加速电压:160- 200kV
EDS X射线能量分辩力:132eV
元素分析范围:B-U
分析感量:10-14~10-21g
主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察;物相鉴定,包括晶胞参数的电子衍射测定;高分辨晶格和结构像观察;纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布分析。样品要求为非磁性的稳定的薄膜或粉末,视其分析内容进行样品制备。
型 号:JEM-2100F STEM/EDS
价格890万,运输安装调试费超过50万
网上搜索了几个楼主可以参考下。