【求助】尼高力红外光谱仪能配变角ATR吗？

因该可以配变角ATR

变角ATR不是很常见的，最好咨询一下尼高丽的工程师

你用什么方法不能测到样品信号,45度固定角ATR?你要测什么东西?
其实45度角是最合适的通用的方法,变角只是可以稍微调节一下IR光渗透到样品中的深度,信号会有一点增加或减小
另外这种变角ATR是可以装到NICOLET380上的,对于NICOLET一般的FTIR,都是可以装这些附件的
我们用的是PIKE的附件(ZnSe晶体)不过我现在基本上已经不用了,因为不如用iTR金刚石的附件,不变角的,单次反射,信号还不错,可以做固体液体. 据说还有多次反射的金刚石附件,对液体样品可能信号会好一些,但是我没用过

我一般做复合膜，然后在复合膜上进行接枝反应上一些其他的官能团来改变复合膜的亲水性等。我不懂这个变角的，用的事单次反射。主要是因为我们做接枝改性反应的博士说用变角的能测出接枝上了，我自己也不知道。每次开会都在那说变角的好，烦都烦死我了。觉得好，你做出来了，把图贴出来给大家看看不就得了，真是麻烦！还每次都让大家问你到底接上没有，然后那博士就说我们的红外测不出来，要变角的测！

好像发了点工作上的牢骚哈！所以我就咨询一下，免得哪天领导问起来不知道怎么回答，呵呵！

我估计他是想通过调节角度来调节红外光的入射深度,从而达到只测量最表面层的信号,减少底层带来的干扰,这也不失为一个好的方法.
你可以找供应商帮你们做几个样品试试啊,如果能做出来也是挺好的啊

直接找你们仪器的厂家吧，看看什么角度最合适。
然后该买就买，该想别的办法就想别的办法。

那个博士说的还是有一定道理的，可变角ATR的灵活性要大一些

这个可不好说，我做了这么多类似的工作，一般底膜的干扰不容易去除，接枝上去的东西如果是分子层纳米级别的，底膜干扰大，根本很难看得到
不是还有人做掠角的ATR吗？我只能说这些方法都只能先去试试看了，不是所有的体系都能做出来