ghcily 2011/03/18
用压力ATR试试吧
fzhang666 2011/03/18
ATR完全可以,去年工程师还用该配件测了下我手机外壳来演示呢
zwyu 2011/03/18
用单反ATR应该能测。注意衬底的硬度和加的压力不要太大。背景用不施加压力的ATR(相当于测空气)来得到。 [quote]原文由 [b]xuelangwwh(xuelangwwh)[/b] 发表: 本人在多孔硅衬底上沉积了一层碳化硅薄膜,现欲测薄膜的红外光谱(所用仪器:岛津IRprestige-21),不知该如何测,背景又该如何选择?烦请众位热心人指教,(赏分不多,已是本人全部家当)~~~[/quote]
fyrebecca 2011/03/22
单次反射ATR(主要是金刚石晶体)除了不能做升温实验,基本上对所有普通的检测,都可以说是万能的了
ppddppdd 2011/06/15
ATR够呛,估计得要积分球才行。