元素干扰对Cl的测试影响是很大,除了S,还有Ca、Ti、K、Si、P、Ba、Fe等元素,有的是因为能量跟Cl很相近,高含量时产生干扰,有的是其低能级被激发在Cl的位置产生干扰,所以我想问一下在主题中提出的三种方法:抽真空、光路优化、能量改变他们对于轻元素的测试是基于什么原理?分别有哪些优劣?
XRF_INFO(xrf-info) 发表:EDXRF测试Cl元素是存在不同的基体测试有不同的难度,如果某种样品中要测Cl,而这个样品中的S含量几乎没有的话,应该是比较好测的,但如果S的含量很高,对Cl会存在重叠的情况,这时Cl就不那么好测了。