【分享】测量界泰斗keithley的提供的一些免费测量资料。

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2008最新科研测试领域核心技术研讨会讲义

2008科研测试核心技术系列研讨会在沈阳、南京、合肥、长沙和西安五城举行，会议主讲人是Keithley的资深行业专家王中武和张志刚先生，主要介绍弱信号测量和半导体测量领域的最新技术和发展动态，以及实际测量经验和 应用实例。

微弱信号测试技术

• 阐述微弱信号测量中如何进行速度优化以及准确度优化
• 低电压和低电流测量及相关测量的主要误差来源与对策
• 就弱信号测量的最新技术和测试测量方法进行介绍和典型应用举例。

半导体特性分析测试的技术挑战

• 测试设备、小信号测量中误差和噪声问题的解决方案

• 如何获得功能灵活、高度集成的测试环境，轻松实现I-V、C-V和脉冲测试

• 介绍当前用于确保半导体器件可靠性和生产制造的常见测试方法和技术的实例先进技术

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元件与半导体器件I-V测试应用指南

本80页的书中收录了关于吉时利2600和2400系列数字源表设备最常用的应用问题。其主要内容包括：

• IDDQ测试和维持电流测试 高亮度可见光LED生产测试 激光二极管模块和VCSEL的直流生产测试 电池充/放电周期 高电流变阻器的生产测试
• 光电池I-V特征分析等

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精密电性测量

本手册精选了精密电子测量相关的仪器和系统，主要用于各种电子产品的生产制造过程中，更快、高效并有效降低测试成本，帮助您实现更加自信的测试！

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《交互式测试与测量故障诊断指南》CD

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2008吉时利产品目录

2008产品目录反映了吉时利在拓展测量能力方面所取得的巨大进步。推出了更多的新产品，大大更新和丰富了吉时利的产品系列。

2635和2636是吉时利核心仪表平台2600系列数字源表的最新产品； 新型的数据采集系统—3700系列，提供极快的转换开关，同集成高性能的七位半数字万用表。 最新的射频测试产品：2820型矢量信号分析仪、2920型矢量信号发生器以及MIMO射频测试系统，为高速发展的无线测试领域提供了最新的测量手段； 4200-CVU, 将C-V测试选件集成到4200型半导体特性分析系统中，使I-V测量和C-V测量一样简单。 ACS（即自动化特征分析软件），用于搭建集成化的测试平台，为您的测试需求量身定制，提供可灵活配置的测试方案。 最新的2100型六位半USB接口数字万用表价格十分平易近人……