【求助】TEM成像原理与分辨率的关系

普适的，分辨率跟成像机理的关系，还真不知道，只知道分辨率主要和电子波长和球差系数有关。

那也就是说，不同的样品，通过调整TEM。都可以观察到透射像？
查到这三个成像机理，跟所用样品的种类和厚度有关，例如散射成像观察断层，衍射成像观察薄膜晶体，
既然是普适的。那针对这三种机理。需要调节透射电镜的什么部分呢？

呵呵呵，看看谢大侠解释了

我说的普适，是指这三种称度一般样品都有，只是比例多少而已。比如纳米颗粒，散射称度的贡献相对就比较小，金属块样，衍射称度和散射称度就大。电镜的调节针对这些并没有专门的功能键，而只是根据需要调节样品的取向，离焦值等等。

混混而已，别拿我话当真，说不定你过一段时间来看这个解释，一塌糊涂。