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【已应助】求1篇mser

大陆

2011/05/25

文献检索－互助

赏
悬赏金额:10积分状态:已解决

先谢谢了。
1、
【作者】：Chu Ryang Wie
【题名】：High resolution x-ray diffraction characterization of semiconductor structures
【期刊、年、卷、期、起止页码】：Materials Science and Engineering: R: Reports Volume 13, Issue 1, 15 September 1994,Pages 1-56
【全文链接】：
http://dx.doi.org/10.1016/0927-796X(94)90008-6

yilai1002 2011/05/26

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