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【已应助】求1篇mser

文献检索－互助

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    1、
    【作者】：    Chu Ryang Wie
    【题名】：High resolution x-ray diffraction characterization of semiconductor structures
    【期刊、年、卷、期、起止页码】：Materials Science and Engineering: R: Reports Volume 13, Issue 1, 15 September 1994,Pages 1-56
    【全文链接】：
    http://dx.doi.org/10.1016/0927-796X(94)90008-6

yilai1002 2011/05/26

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