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【讨论】对XRD计算的平均尺寸进行统计学处理？

X射线衍射仪（XRD）

  • 初次接触xrd，扫描一批样品后获得多个图谱，并分别应用谢乐公式计算得到平均晶粒尺寸，如25±0.9、21±0.6等，对于这样的数据（平均数±标准差）大小进行阐述，看到文献里直接给出前者大于后者的结论……能否进行统计学分析，获得二者比较的t值或者p值？请问选择什么统计学方法？
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    +关注 私聊

  • iangie

    第1楼2011/06/01

    应助达人

    XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.可以直接比较.

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    +关注 私聊

  • qcz9999

    第2楼2011/06/01

    “XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.”该解释欠妥吧

    ====版主模式====
    小提醒: 技术版不给看法的帖子视为灌水哦~~

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    +关注 私聊

  • iangie

    第3楼2011/06/01

    应助达人

    请解释.

    qcz9999(qcz9999) 发表:“XRD已经是体分析了,本身就是对多晶样品各晶粒的平均.”该解释欠妥吧

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  • zhangyang1998

    第4楼2011/06/10

    按不同的峰，算出的晶粒大小是不一样的，个人认为应该求平均

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  • iangie

    第5楼2011/06/10

    应助达人

    如果用洛伦兹或者高斯卷积计算峰形(或者两者都用),则算出来的晶粒尺寸就是一个值, 不存在什么平均. 在fitting全谱的时候已经平均了. TOPAS BGMN GSAS都是可以的...
    除非你要考虑各向异性晶粒尺寸,那可以设置多个方向的晶粒尺寸参数. 也不存在将计算结果再"平均"的过程.

    不晓得Jade这种半自动软件有没有卷积计算功能, 还是只能算单峰对应的尺寸.....

    zhangyang1998(zhangyang1998) 发表:按不同的峰，算出的晶粒大小是不一样的，个人认为应该求平均

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