【求助】DSC样品测试相关问题，谢谢大家了。。

应助达人

什么坩埚？是发生样品泄漏接触到支架了,还是仅仅坩埚上面有裂口？

裂口的位置在哪里？如果是底下，会有污染。不可以进行检测，重新制样

应助达人

仅仅坩埚上面有裂口,样品不会迸溅的,测试不会影响结果;如果裂口导致样品污染支架,万一样品会与支架反应,那不单影响测试结果,而且损坏支架,那损失就大了,所以,慎重起见,重新制一个,反正坩埚相比支架传感器来说,成本可以忽略不计.

这种情况如何查看支架受没受污染？
作个修正？1mw之内没什么波动即可？

哪些东西能与支架反应，举几个例子，各位专家。
以后好留心一下

上面KK说的没错。“坩埚加入样后 有裂口”，只要样品不会跑出来污染支架就没关系，很多密封坩埚还要在盖子上扎孔后测试呢。

支架受到污染后，主要的现象是空白曲线出现明显的转折或出“峰”。这时就要做适当的清洁了。一般使用一段时间后，总会有一定的污染。如果污染很轻微，基线变化不大，在测试温度段没影响，尽量少做空烧清洁，毕竟烧一次传感器也被氧化一次、寿命缩短一点。

应助达人

耐驰公司提供了一些例子,挺有帮助,贴上来供大家参考,也可以上耐驰的主页去找.

非常感谢各位专家的答复
附件很有用

关于附件1中提到，损坏氧化铝坩锅的还有Sn、Zn、Bi等，这些不是标样么，怎么也不可以了呢？