什么是X-ray photomission spectroscopy？

X-ray photomission spectroscopy指的好象是入射X光源能量可调的一种XPS，又称为PES，而X是X-ray photoelectron spectroscopy则是固定入射光源能量（Al/Mg）。PES设备的技术水平比XPS高很多，目前国内好象还没有。这只是我根据自己的一点了解总结的，可能不是很对！

厉害！X-ray photomission spectroscopy是一篇英文文章出现的，它当时在后面批注的简称是XPS。我还以为就是真正的XPS，一看文章，X光源可以是350和380ev。当时我感觉就不对劲，原来是这样！
还有就是我想请问一下：除了可调节光源，其他的有区别吗？

我觉得是一样的，只是说法不同而已。有很多文章x-ray photoemission spectroscopy 就是用Al或者Mg靶。当然用同步辐射是可以连续的调节光的能量的。

我觉得大家各自发表自己的意见，也是在学习的过程。楼主所指其实就是SRPES(同步辐射光电子谱)，与常规XPS有较大的不同。如测终态谱，测电子态（E,K）等。我也没有具体做过这方面的工作。不过在书上可以查到。也可以问问国家同步辐射中心的搞SRXPS的老师。

楼上回答的不错，再简单阐述一下二者区别：
1) XPS, AES：即以常规X-射线(Mg ka, Al ka)或电子作激发源测定样品表面元素、组成及化学状态。
2)SRPES：以同步辐射光为光电子能谱激发源测定材料表面的电子结构。

对于SRPES模式来说，由于光子能量的连续可调性，同步辐射光电子能谱(光发射谱)实验可以在几种模式下进行，从而可以获得材料表面不同的电子结构信息。
1) EDC模式：光子能量固定的能量分布曲线(Energy Distribution Curves)实验，即以一定能量的光子做激发源，测定样品表面导带和价带的电子能态分布。
2) CFS模式：固定终态谱(Constant Final-state Spectra)实验，即用光子能量扫描而恒定检测某一终态动能的光电子谱，可以用来测量界面形成过程中的表面能带结构和能带弯曲。
3) CIS模式：固定初态谱(Constant Initial-state Spectra)实验，即选择并固定使芯能级到空表面态跃迁最强的初态能量，将光子能量和检测光电子的动能做同步扫描来研究空表面态。

厉害厉害

谢谢了，搂主！