厂商及仪器型号 | 光学系统 | 全谱检测方式 |
TJA IRIS AdvantageTM系列 | 中阶梯光栅—石英棱镜 | C I D二维阵列,面积:28×28mm |
BAIRD One Spark | 中阶梯光栅-石英棱镜 | C I D二维阵列,260,000个感光点 |
P-E Optima 3000系列 | 中阶梯光栅—光栅、棱镜双色散 | S C D 面阵检测器,面积:13×19mm |
VARIAN VISTA CCD | 中阶梯光栅-CaF2棱镜 | C C D二维检测器,具有图象匹配技术 |
SPECTRO CIROSCCD | 全息光栅,120—800nm | C C D线阵式检测器可分析10,000条谱线 |
SPECTROLABJ RCCD Spark | 全息光栅,175—550nm | C C D线阵式检测器 |
HILGER ASSURE Spark | 全息光栅,焦距200mm | 线性C C D检测器 |
ARUN Metalscan Spark | 特制全息光栅,焦距170mm | 线性C C D检测器 |
JY Ultima ICP | 全息光栅,120—800nm | H D D-高速扫描,2min 2500条谱线 |