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如何用表面污染C1s对能量进行校正?

XPS及其它能谱仪

  • 刚做了XPS,可是单纯的TiO2样品中出现了Si和C,问老师,老师说要对样品进行校正,请问一下这该怎么做呢,请说哪位大虾详细地给我说一下步骤。还有,在测试结果中,老师还给了一张Quantification Report ,里面的数据我可以直接拿来用吗,还有,这么多数据,比较有用的是哪些呢Peak Position FWHM Raw Area RSF Atomic Atomic Mass
    BE (eV) (eV) (CPS) Mass Conc % Conc %
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  • wsnacs

    第1楼2012/05/11

    没有人在吗?在即顶一下。。。

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  • feixiong5134

    第2楼2012/05/13

    你问下老师他们仪器用那个数值校正(一般来说是284.6,284.8和285ev)
    那后那这个数值(如为285)减去你表中数值(如为283)的到(2)
    那就吧Si和Ti的数值加92),c也变为(285)
    此时就是校正后的数据

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  • yangyang7853

    第3楼2013/06/02

    问哪个老师怎么制样的,可能是样品薄,导电胶上的信号,导电胶上面就是C,O,Si

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