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  • mxchen1215
    2012/08/09
  • 私聊

文献检索-互助

  • 【题名】An inversion method for the complete characterization of transparent film-absorbing substrate systems using multiple
    angle ellipsometry

    [作者] T. Easwarakhanthan; Z. Ouennoughi ; S. Ravelet
    [刊名] Solid-State Electronics
    [卷期] 35 (6) 1992/06/01
    【链接】http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/003811019290288N
    +关注 私聊
  • dong3626

    第1楼2012/08/09

    应助达人

    1111111111111111111

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