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  • mxchen1215
    2012/09/26
    • 私聊

文献检索－互助

  • 【序号】：1
    【作者】：Davide Tranchida , Jordi Diaz , Peter Schön , Holger Schönherr and G. Julius Vancso
    【题名】：Scanning Near-Field Ellipsometry Microscopy: imaging nanomaterials with resolution below the diffraction limit
    【期刊】：Nanoscale,
    【年、卷、期、起止页码】：2011,3, 233-239
    【链接】：http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2011/NR/C0NR00530D
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  • dahua1981

    第1楼2012/09/26

    应助达人

    11111111111111111111111

0
  • 分
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