用ATR测试红外光谱时，基线倾斜如何解释？

同一样品，不移动位置，多次测量看看？

要了解这个问题，首先要清楚基线漂移是什么原因产生的？基线漂移也就是我们说的基线倾斜，主要是光的散射所造成的。在不加任何样品，理论上ATR的晶体表面是均匀的，返回的光线也是均匀的。当我们加了样品以后，如果样品均匀，同时样品与晶体的表面均匀接触（样品比较柔软），基线不会出现倾斜；当测量的样品表面较硬，无法与晶体表面有效接触，光的散射就会造成这种漂移或倾斜。比较特殊的是黑色橡胶，由于炭黑的影响，同样会产生基线倾斜。这是我个人的一点理解

楼上的角度是从样品本身考虑的，那么从机器和使用者的角度呢，有没有因素也会使基线不平

非常感谢danielydj的回复！
但是我还有一个疑问，样品是光滑平整的硅片，虽然是质地较硬，但按理说和ATR晶体接触时，应该是有效的均匀接触，为何还会有散射呢？

平整光滑的硅片，是我们视觉的效果。如果两片硅片叠在一起，无法保证整个平面的可靠接触。硅片和晶体之间也是同样道理。至于如何判断仪器或者操作者的问题，可以用空光路，100%Line 以及加上ATR附件后的100%Line 来判断仪器或者附件状态。测量硅片也可以尝试多选几个点试一下

其实，这种状况我也遇到过，以前我也以为是基线倾斜或者漂移所导致的，因而当时我一般采取采用重新校准光学台这种措施来改善,通常也是可行的.但如果你遇到基线刚开始是光滑平整后来基线越来越漂的时候，可能是你不小心触碰了ATR附件的反射镜片所造成的.此时，你一般可从ATR附件的反射镜片着手！

也有可能是晶体收到腐蚀或者有损坏，硒化锌ZnSe ATR是比较容易在高压或酸碱的环境下损坏的。不过好消息是，目前除了国外原厂的ATR晶体，所有红外ATR附件的核心——ATR晶体已经都可以在国内买到

ATR还是太贵，等只有几千的时候吧，大部分傅里叶都会配这个附件了，现在配这个的还是小部分