X射线荧光光谱仪（XRF）
sonne86400
第1楼2012/11/21
找厂家直接请教的哦 随机会有软件配置的哦
里海
第2楼2012/11/22
应该可以吧，不然怎么测量厚度呢，厚度也是通过含量和密度等数据推算的
enuo
第3楼2012/12/02
基本参数法：厚度和成分同时测定。
中石
第4楼2012/12/03
楼上说得对，不过这还要看仪器配置如何，若用的是正比计数器则一般不长于成分分析，若用的是半导体解析器则能同时用于成分分析。不过17号元素（Cl）之前的轻元素X荧光光谱仪是很难测的。所以不管是fischer还是其他品牌的XRF都是不能测化学镍镀层中的P的。
mgy
第5楼2012/12/03
镀层厚度测量使用X荧光是可以的，具体使用波长色散还是能量色散要看镀层的元素是什么，你所说的纯铜上面镀的Ni-P的话，应该采用波长色散X荧光，可以测量镀层的厚度以及镀层中Ni、P的含量。可以使用镀层分析软件，但是会有误差，最好能够自己作出几块“标准样品”校正软件系数，这样准确度会大大提高。
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