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图1:银薄膜上亚波长孔阵列的反常透射谱。(a1-a2)外延银薄膜和多晶银薄膜的原子力显微镜(AFM)测量结果。(b)角度依赖的透射谱的实验配置示意图。(c1-c3)中红外波段的透射谱。(d1-d3)远红外波段的透射谱。(e1-e3)入射角为20度时,Air(1,0)模式附近的透射谱。(f1-f3)入射角为20度时,Si(1,0)模式附近的透射谱。除(b)外,上、中、下三行分别对应多晶银薄膜、单晶银薄膜和模拟结果。 |
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图2:插入损耗层后正入射透射谱的模拟结果。损耗因子分别为0(黑线)、0.1(红线)和0.5(蓝线)。 |