[求助]介孔薄膜做小角XRD的测试条件

没做过XRD小角，不知道薄膜测试有什么诀窍，有机会帮你问问。
另外，我觉得薄膜测不好是不是因为薄膜太薄产生的信号不够强？如果能刮下来看看TEM试试，如果看起来结构还不错，应该就是XRD条件没调试好，如果TEM都看起来不行，那么还是想想其他诸如合成方面的原因吧。
ps：P123合成介孔，应该孔径比较大，TEM观察还算方便。

感谢shxie的回复，正如你说的，P123合成的孔径比较大，TEM应该很好观察。最开始我用CTAB做模板剂，做XRD测试挺好的，因为在角度2～3会有衍射峰，薄膜是很薄，只有300nm左右，但峰的强度还是很好。

有几个原因
1.你的o入射角确定好了吗？入射角 应该在大于0而且小于临界角。
2.增加测量时间。
3.Rigaku SmartLab和Ultima IV应该做小角更好些，但是你也得扫描散射角。得出的是散射的profile，而不是二维的散射图
4.如果用专门的小角散射仪加GISAXS功能（S-Max3000） 测你的薄膜 ，所用时间就少多了，因为用2D探测器，你不用扫描角度。有没有峰，很快就见分晓了

这个帖子太有传奇色彩了，居然潜伏了这么多年才有人解答，还是XRD方面的，多谢楼上了。