fengyonghe
第2楼2013/08/06
实验结果的可信度你可以设置,界面如下:
在±σ,±2σ,±3σ出现的概率分别为68.3%,95.4%,99.7% 相对误差=1/√N 。
阈值:计数小于给定阈值计算结果为零。阈值设定2或3结果会很可信,但低含量元素容易会被忽略。这种情况下要想检测到低含量元素,收谱时间就要大大延长。阈值设定为1,容易检测到百分之零点几的元素含量。但为了提高结果的可信度,总的计数要达到250000个。所以,你想测量结果越可信,计数量“N”就得越大。下面的关系式说明要使低含量元素的测量结果有满意的可信度,计数率也要足够大。η=3√B*C/P η:检测极限;√B:背底标准偏差;C:测量试样的元素浓度;P:计数率 。可见计数率越高检测极限越低。
cvbs11
第5楼2013/08/09
您说的这种情况应该是单纯的成分分析吧?可能是我说的不清楚,我举个例子,如果一片不锈钢板上有一个尺寸大约是3um的杂质,我现在需要分析这个杂质的成分,这种情况下就需要用不锈钢板的成分做背景参考。所以在这种情况下,收集到的某种元素谱峰仅仅比背景谱峰高一点点,我们能说该杂质里有这种元素吗?谢谢
fengyonghe
第6楼2013/08/09
这下明白你的意思了。背景影响究竟有多大要综合分析谱图。比如在钢铁中有一大颗粒的Fe2O3夹杂,从谱图上看Fe元素的峰高总会低于背景。所以用背景去分析目标物中某种元素是否存在有时会很茫然。你的第一张图中从Co元素看背景的影响非常小,从它的谱图与背景的高度比看,包括Ca在内谱图左边的所有元素都是目标物中具有的元素。
sept
第7楼2013/08/10
如果我没有理解错,你的问题其实是两个,第一,能谱中比背景稍高的元素是否可判定有。这个问题冯老师用阈值已给你解答。第二个问题,该元素如果存在的话,是否是杂质中的,还是基体中的。
有两个方法可以推荐,第一是在该杂质颗粒上打点,然后再在远离该颗粒的基体上打点。比较两个结果,看你感兴趣的某元素,比如Ca在杂质中含量高还是基体中含量高。如果杂质中多自然是杂质中含有该元素。第二是降低加速电压,这样空间分辨率提高,即打点处扩展小,基体影响小。更容易采集杂质的能谱,但是要注意的是此时,重元素的K线系可能激发不出来,但如果你只关注Ca的话,适当降低问题不大,只是Fe的话低于10kV只能看到L线系了。