样品横截面涂层观察

应助达人

使用离子束研磨：离子束研磨是一种非接触式的样品制备技术，可以在不损伤样品的情况下制备高质量的横截面。这种方法尤其适合于柔软、多层和多相的材料。离子束研磨可以通过使用EM TIC 3X等设备进行，它能够提供高分辨率的SEM图像，并且可以改善样品的表面质量，使得涂层厚度的测量更为精确。
采用聚焦离子束（FIB）：FIB技术可以用于微区和定位制作样品。

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楼主，考虑?利用离子束切割技术。这种方法相对较为精准，对涂层的损伤较小，但设备成本较高。

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用环氧树脂包裹，再切片不行吗？

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如果自己公司没有切片的工具，可以找第三方。现在很多做失效分析的都可以测试的。