如何对Spark-OES最灵敏线的自吸或自蚀效应进行数学校正？

对于OES来说，通常会选择其灵敏线作为分析线，其对微量元素有较低的检出限和较高的准确度，但如果测量元素含量较高，谱线就会自吸甚至自蚀，造成工作曲线弯曲，测量准确性下降，此时一般都是另外选择次灵敏线进行分析。

如果仪器内部没有配置另外高含量通道的话，就比较麻烦了，但我觉得大家平常使用的谱线是普遍存在自吸的，只要不是特别严重，在恰当的浓度范围内使用稍微弯曲的曲线也没什么问题的。

在摄谱分析中，也存在自吸的问题，见过有人有谱线宽度法测量不同含量的银，不是直接测量谱峰位置的强度，而是先进行谱线扫描，记录下谱峰左右两侧对应的某一相同强度的位置差，绘制位置差与浓度的工作曲线，进而提高了浓度测量范围。在Spark-OES光谱分析中，建立数学模型对谱线的自吸进行校正，暂时未看到这方面的报道，如果有的话，是否可以拓宽灵敏线的测量范围呢？拭目以待啊